一种基于相对辐射校正系数检测探元响应状态变化的方法技术

本发明专利技术针对当前星上相机探元响应状态变化难以检测的问题，提出了一种基于相对辐射校正系数检测探元响应状态变化的方法，具体为：生成单探元灰度直方图和综合灰度直方图；基于生成的单探元灰度直方图和综合灰度直方图，构建灰度映射关系；以综合灰度直方图作为基准，基于不同时期的单探元灰度直方图以及建立的灰度映射关系，计算得到不同的相对辐射校正系数；通过对比相对辐射校正系数中单探元灰度映射的变化情况，完成对探元响应状态变化的检测。本发明专利技术实现了光学相机探元响应变化程度的检测，通过本发明专利技术提供的方法可以解决相机常态运行过程中探元响应变化检测的问题，为长期监测光学卫星相机探元响应稳定性提供了参考依据。

【技术实现步骤摘要】
一种基于相对辐射校正系数检测探元响应状态变化的方法
本专利技术属于高分光学遥感卫星数据预处理领域，特别是涉及到一种利用相对辐射校正系数检测探元响应状态变化的方法。
技术介绍
高分辨率光学遥感卫星相机探元响应状态的不断变化，会引起地面图像辐射质量的不断变化。当变化积累到一定程度时，会造成地面处理系统中相对辐射校正系数的不适应，出现肉眼可见的系统性辐射异常,在严重的情况下，甚至会形成坏像元，影响相机成像。在此情况下，需要重新开展数据统计、生产相对辐射校正系数以及进行一系列复杂的辐射质量检验，用于保障系统整体辐射质量恢复正常水平,因此，有必要定期检测探元响应状态的变化程度，既可以反映相机各探元的老化程度，又可以在响应状态变化引起辐射质量异常前及时发现、早做预防。但由于星上探元变化比较微妙，在图像上表现为渐变，目前地面还没有较好的方法可以实现有效检测。为了满足检测需求，如何通过常态化业务开展，尤其是结合相对辐射校正系数计算和更新实现相机探元状态的变化检测是一个难题。
技术实现思路
针对当前星上相机探元响应状态变化难以检测的问题，本专利技术提本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于相对辐射校正系数检测探元响应状态变化的方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1.统计多轨数据的灰度值，将同一波段、增益、积分级数的灰度值通过灰度直方图归类，生成单探元灰度直方图和综合灰度直方图；/nS2.利用灰度映射模型，基于生成的单探元灰度直方图和综合灰度直方图，构建灰度映射关系；/nS3.统计得到多个不同时间周期的单探元灰度直方图以及某个时间周期的综合直方图，并将单探元灰度直方图和综合直方图分别转化为单探元灰度概率密度函数和综合灰度概率密度函数，以综合灰度概率密度函数作为基准，以单探元概率密度函数为输入，基于构建的灰度映射关系，计算得到不同时间周期的多个相对辐射校正系数；/nS...

【技术特征摘要】
1.一种基于相对辐射校正系数检测探元响应状态变化的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1.统计多轨数据的灰度值，将同一波段、增益、积分级数的灰度值通过灰度直方图归类，生成单探元灰度直方图和综合灰度直方图；
S2.利用灰度映射模型，基于生成的单探元灰度直方图和综合灰度直方图，构建灰度映射关系；
S3.统计得到多个不同时间周期的单探元灰度直方图以及某个时间周期的综合直方图，并将单探元灰度直方图和综合直方图分别转化为单探元灰度概率密度函数和综合灰度概率密度函数，以综合灰度概率密度函数作为基准，以单探元概率密度函数为输入，基于构建的灰度映射关系，计算得到不同时间周期的多个相对辐射校正系数；
S4.基于相...

【专利技术属性】
技术研发人员：王红钢，赵薇薇，刘鹏，林向阳，王艳，杨宇科，刘佳佳，
申请(专利权)人：中国人民解放军六一六四六部队，
类型：发明
国别省市：北京;11