一种介质滤波器自动调试方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种介质滤波器自动调试方法及系统，方法包括：将待调试的介质滤波器放置在夹具单元上；对待调试的介质滤波器进行轮廓识别，确定待调试的介质滤波器的介质滤波器型号；对待调试的介质滤波器进行介质滤波器测试，若待调试的介质滤波器为合格介质滤波器，则不再进行后续调试，若待调试的介质滤波器为不合格介质滤波器，则获得待调试的介质滤波器的S参数，进行后续调试；根据S参数计算出待调试的介质滤波器的实际值，实际值包括频率和耦合系数，通过实际值与对应的理论值的差值确定对应调试量；根据对应调试量对所述待调试的介质滤波器进行调试。有效解决介质滤波器调试的过量问题，提高介质滤波器的调试良率，效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种介质滤波器自动调试方法及系统
本专利技术涉及介质滤波器自动调试
，尤其涉及一种介质滤波器自动调试方法及系统。
技术介绍
目前，介质滤波器行业内普遍采用人工对介质滤波器调试。调试即为对工件的表面进行加工以调整其电性能达标。人工调试对技术工人的经验要求较高，且效率较低，与市场日益剧增的需求产生矛盾。急需自动化调试平台来提高生产效率。目前市面上使用的人工调试存在以下弊端：1、介质滤波器在人工调试过程中使用手持式的磨笔，调试过程中存在较大概率的调试过量问题，造成介质滤波器的插损偏大，同时该过程不可逆，同时人工调试效率较慢。2、人工调试过程中，使用磨笔研磨陶瓷的银层，这过程中有粉尘产生，对员工的健康存在隐患。以上
技术介绍
内容的公开仅用于辅助理解本专利技术的构思及技术方案，其并不必然属于本专利申请的现有技术，在没有明确的证据表明上述内容在本专利申请的申请日已经公开的情况下，上述
技术介绍
不应当用于评价本申请的新颖性和创造性。
技术实现思路
本专利技术为了解决现有的问题，提供一种介质滤波器自动调试方法及系统。为了解决上述问题，本专利技术采用的技术方案如下所述：一种介质滤波器自动调试方法，包括如下步骤：S1：将待调试的介质滤波器放置在夹具单元上；S2：对所述待调试的介质滤波器进行轮廓识别，确定所述待调试的介质滤波器的介质滤波器型号；S3：对所述待调试的介质滤波器进行介质滤波器测试，若所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器，则不再进行后续调试，若所述待调试的介质滤波器为不合格介质滤波器，则获得所述待调试的介质滤波器的S参数，进行后续调试；S4：根据所述S参数计算出所述待调试的介质滤波器的实际值，所述实际值包括频率和耦合系数，通过所述实际值与对应的理论值的差值确定对应调试量；S5：根据所述对应调试量对所述待调试的介质滤波器进行调试。优选地，还包括：S6：实时监测调试后的所述待调试的介质滤波器，若所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器，则不再进行后续调试，若所述待调试的介质滤波器为不合格介质滤波器，则再次获得所述待调试的介质滤波器的S参数，进行再次调试至所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器。优选地，对所述待调试的介质滤波器进行轮廓识别包括特征轮廓的识别，所述特征轮廓包括盲孔位、通孔位和槽位信息，对所述特征轮廓进行特征编号，所有的所述特征编号具有唯一性，通过特征确认，确定所述待调试的介质滤波器的介质滤波器型号。优选地，预先设置合格介质滤波器的滤波结果，根据对所述待调试的介质滤波器的滤波结果进行监测判定是否合格。优选地，根据所述S参数计算出所述待调试的介质滤波器的回损零点数量和对应的频率点、截止频率和通带宽度，使用滤波器标准传递函数拟合出所述待调试的介质滤波器的波形，同步确定频率和耦合系数。优选地，预先设置频率和/或耦合系数偏差值阈值，当所述待调试的介质滤波器的偏差值超过所述偏差值阈值时，对所述待调试的介质滤波器进行调试。优选地，所述调试包括去除偏差位置的银层使得所述待调试的介质滤波器的基底材料裸露出来，去除银层的面积与偏差值的关系为m阶项式，具体如下：S＝axm+bxm-1+……+c其中，x是频率的偏差值，S是调试面积，a、b和c是系数。优选地，若第一次调试后所述待调试的介质滤波器不合格，则再次计算得到频率的偏差值x2，调试面积公式为：S2＝a(x+x2)m+b(x+x2)m-1+……+c-S。本专利技术还提供一种介质滤波器自动调试系统，包括：夹具单元，用于放置待调试的介质滤波器；视觉定位单元，对所述待调试的介质滤波器进行轮廓识别，确定所述待调试的介质滤波器的介质滤波器型号；网络分析单元，用于对所述待调试的介质滤波器进行介质滤波器测试，若所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器，则不再进行后续调试，若所述待调试的介质滤波器为不合格介质滤波器，则获得所述待调试的介质滤波器的S参数，进行后续调试；计算单元，用于根据所述S参数计算出所述待调试的介质滤波器的实际值，所述实际值包括频率和耦合系数，通过所述实际值与对应的理论值的差值确定对应调试量；激光单元，用于根据所述对应调试量对所述待调试的介质滤波器进行调试。优选地，网络分析单元，还用于实时监测调试后的所述待调试的介质滤波器，若所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器，则不再进行后续调试，若所述待调试的介质滤波器为不合格介质滤波器，则再次获得所述待调试的介质滤波器的S参数，进行再次调试至所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器。本专利技术的有益效果为：提供一种介质滤波器自动调试方法及系统，通过全自动的对介质滤波器进行调制，可以有效解决介质滤波器调试的过量问题，提高介质滤波器的调试良率，调试过程中全自动化生产，效率高。附图说明图1是本专利技术实施例中一种介质滤波器自动调试方法的示意图。图2是本专利技术实施例中一种介质滤波器自动调试方法的示意图。图3是本专利技术实施例中一种介质滤波器自动调试系统的示意图。图4是本专利技术实施例中5轴平台和激光单元的示意图。图5是本专利技术实施例中一种介质滤波器自动调试流程的示意图。具体实施方式为了使本专利技术实施例所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。另外，连接既可以是用于固定作用也可以是用于电路连通作用。需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多该特征。在本专利技术实施例的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。介质滤波器(英文Dielectricfilter)利用介质陶瓷材料的低损耗、高介电常数、频率温度系数和热膨胀系数小、可承受高功率等特点设计制作的，由数个长型谐振器纵向多级串联或并联的梯形线路构成。如图1所示，本专利技术提供一种介质滤波器自动调试方法，包括如下步骤：S1：将待调试的介质滤波器放置在夹具单元上；S2：对所述待调试的介质滤波器进行轮廓识别，确定所述待调试的介质滤波器的介质滤波器型号；S3：对所述待调试的介质滤波器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种介质滤波器自动调试方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1：将待调试的介质滤波器放置在夹具单元上；/nS2：对所述待调试的介质滤波器进行轮廓识别，确定所述待调试的介质滤波器的介质滤波器型号；/nS3：对所述待调试的介质滤波器进行介质滤波器测试，若所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器，则不再进行后续调试，若所述待调试的介质滤波器为不合格介质滤波器，则获得所述待调试的介质滤波器的S参数，进行后续调试；/nS4：根据所述S参数计算出所述待调试的介质滤波器的实际值，所述实际值包括频率和耦合系数，通过所述实际值与对应的理论值的差值确定对应调试量；/nS5：根据所述对应调试量对所述待调试的介质滤波器进行调试。/n

【技术特征摘要】
1.一种介质滤波器自动调试方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1：将待调试的介质滤波器放置在夹具单元上；
S2：对所述待调试的介质滤波器进行轮廓识别，确定所述待调试的介质滤波器的介质滤波器型号；
S3：对所述待调试的介质滤波器进行介质滤波器测试，若所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器，则不再进行后续调试，若所述待调试的介质滤波器为不合格介质滤波器，则获得所述待调试的介质滤波器的S参数，进行后续调试；
S4：根据所述S参数计算出所述待调试的介质滤波器的实际值，所述实际值包括频率和耦合系数，通过所述实际值与对应的理论值的差值确定对应调试量；
S5：根据所述对应调试量对所述待调试的介质滤波器进行调试。


2.如权利要求1所述的介质滤波器自动调试方法，其特征在于，还包括：
S6：实时监测调试后的所述待调试的介质滤波器，若所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器，则不再进行后续调试，若所述待调试的介质滤波器为不合格介质滤波器，则再次获得所述待调试的介质滤波器的S参数，进行再次调试至所述待调试的介质滤波器为合格介质滤波器。


3.如权利要求1或2所述的介质滤波器自动调试方法，其特征在于，对所述待调试的介质滤波器进行轮廓识别包括特征轮廓的识别，所述特征轮廓包括盲孔位、通孔位和槽位信息，对所述特征轮廓进行特征编号，所有的所述特征编号具有唯一性，通过特征确认，确定所述待调试的介质滤波器的介质滤波器型号。


4.如权利要求3所述的介质滤波器自动调试方法，其特征在于，预先设置合格介质滤波器的滤波结果，根据对所述待调试的介质滤波器的滤波结果进行监测判定是否合格。


5.如权利要求4所述的介质滤波器自动调试方法，其特征在于，根据所述S参数计算出所述待调试的介质滤波器的回损零点数量和对应的频率点、截止频率和通带宽度，使用滤波器标准传递函数拟合出所述待调试的介质滤波器的波形，同步确定频率和耦合系数。


6.如权利要求5所...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄森铭，麦土日，梁锋，曾艳军，田志飞，
申请(专利权)人：深圳顺络电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44