【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】高稳定性准直器组件、光刻装置和方法相关申请的交叉引用本申请要求于2018年5月16日提交的美国临时专利申请号62/672,260的优先权,其全部内容通过引用合并于此。
本公开涉及对准装置和系统,例如,用于光刻装置和系统的对准源。
技术介绍
光刻装置是一种将期望图案施加到衬底上、通常是施加到衬底的目标部分上的机器。光刻装置可以用于例如集成电路(IC)的制造中。在这种情况下,可以将图案化装置(其替代地称为掩模或掩模版)用于生成要形成在IC的单个层上的电路图案。该图案可以被转印到衬底(例如,硅晶片)上的目标部分(例如,包括一个或若干管芯的一部分)上。图案的转印通常是经由成像到设置在衬底上的辐射敏感材料(抗蚀剂)层上来进行的。通常,单个衬底将包含连续图案化的相邻目标部分的网络。已知的光刻装置包括:所谓的步进器,其中通过将整个图案一次曝光到目标部分上来照射每个目标部分;以及所谓的扫描器,其中通过在给定方向(“扫描”方向)上通过辐射束扫描图案来照射每个目标部分,同时同步地平行或反平行于该扫描方向扫描目标部分。也可以通过将 ...
【技术保护点】
1.一种光刻系统,包括:/n照射系统,被配置为产生辐射束;/n支撑部,被配置为支撑图案形成装置,所述图案形成装置被配置为在所述束上赋予图案;/n投影系统,被配置为将图案化的所述束投影到衬底上;/n对准系统,包括照射器,所述照射器包括:/n光纤;/n光纤保护器;/n光纤支撑部,包括第一支撑臂组件,所述第一支撑臂组件被配置为支撑所述光纤保护器;/n光学系统;以及/n光学系统支撑部,包括第二支撑臂组件,所述第二支撑臂组件被配置为支撑所述光学系统。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180516 US 62/672,2601.一种光刻系统,包括:
照射系统,被配置为产生辐射束;
支撑部,被配置为支撑图案形成装置,所述图案形成装置被配置为在所述束上赋予图案;
投影系统,被配置为将图案化的所述束投影到衬底上;
对准系统,包括照射器,所述照射器包括:
光纤;
光纤保护器;
光纤支撑部,包括第一支撑臂组件,所述第一支撑臂组件被配置为支撑所述光纤保护器;
光学系统;以及
光学系统支撑部,包括第二支撑臂组件,所述第二支撑臂组件被配置为支撑所述光学系统。
2.根据权利要求1所述的光刻系统,其中所述光纤支撑部和所述光学系统支撑部是模块化的。
3.根据权利要求1所述的光刻系统,其中所述光纤支撑部和所述光学系统支撑部被耦合,使得所述光纤和所述光学系统被对准。
4.根据权利要求3所述的光刻系统,其中所述光纤支撑部和所述光学系统支撑部经由螺纹紧固件耦合。
5.根据权利要求1所述的光刻系统,其中所述第一支撑臂组件包括三个挠曲件,所述三个挠曲件中的每个挠曲件包括挠曲片和接触垫。
6.根据权利要求5所述的光刻系统,其中所述三个挠曲件被配置为沿切向接触所述光纤保护器。
7.根据权利要求5所述的光刻系统,其中所述三个挠曲件被配置为运动学地操作。
8.根据权利要求5所述的光刻系统,其中所述三个挠曲件中的每个挠曲件还包括L形状。
9.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:D·陶布,J·A·富兰克林,J·J·科瓦尔斯基,
申请(专利权)人:ASML控股股份有限公司,
类型:发明
国别省市:荷兰;NL
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