【技术实现步骤摘要】
一种端面开口式探针
本专利技术属于电子元器件
，具体涉及一种端面开口式探针。
技术介绍
测试探针主要用于半导体元件的集成电路、平板显示器等的通电检查和绝缘检查。随着电子器件的尺寸越来越小、越来越薄，也就需要更小的测试探针来配合完成对应地测试工作，因此对测试探针的精密度提出了更高的要求，探针行业也面临较大挑战。现有的测试探针主要由针管、弹簧和针轴构成，其中弹簧和针轴装配在针轴内，弹簧的一端与针轴的一端之间点接触，但是弹簧和针轴之间一般接触点较少，因此两者之间形成的接触电阻相对较大，在实际的测试过程中将影响测试的稳定性。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种端面开口式探针，以解决现有测试探针，存在弹簧和针轴之间由于接触点较少，致使接触电阻相对较大的问题。为解决上述问题，本专利技术公开了一种端面开口式探针，包括：一针管；一弹性体，所述弹性体设置在所述针管内；两个柱塞，两个所述柱塞均滑动设置在所述针管内，并分别抵触在弹性体的两端，所述柱塞与弹性体接触的端面设置有开...
【技术保护点】
1.一种端面开口式探针，其特征在于，包括：/n一针管（6）；/n一弹性体（5），所述弹性体（5）设置在所述针管（6）内；/n两个柱塞（3），两个所述柱塞（3）均滑动设置在所述针管（6）内，并分别抵触在弹性体（5）的两端，所述柱塞（3）与弹性体（5）接触的端面设置有开口；/n两个探头（2），两个所述探头（2）分别设置在所述柱塞（3）的两端。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种端面开口式探针，其特征在于，包括：
一针管（6）；
一弹性体（5），所述弹性体（5）设置在所述针管（6）内；
两个柱塞（3），两个所述柱塞（3）均滑动设置在所述针管（6）内，并分别抵触在弹性体（5）的两端，所述柱塞（3）与弹性体（5）接触的端面设置有开口；
两个探头（2），两个所述探头（2）分别设置在所述柱塞（3）的两端。
2.根据权利要求1所述的端面开口式探针，其特征在于，所述柱塞（3）与所述弹性体（5）接触的端面为斜面（4）。
3.根据权利要求2所述的端面开口式探针，其特征在于，所述柱塞（3）一端的开口为十字形。
技术研发人员：薛雷，丁崇亮，申啸，
申请(专利权)人：渭南高新区木王科技有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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