一种适应大电流的测试探针制造技术

本发明专利技术公开了一种可适应大电流的测试探针，包括：一针管；一弹性伸缩件，所述弹性伸缩件设置在所述针管内；一导电件，所述导电件设置在所述弹性伸缩件内；两针轴，两所述针轴的尾部分别从所述针管的两端卡入，并分别与所述弹性伸缩件的两端接触。该适应大电流的测试探针，解决了现有测试探针存在过大电流时，容易发生损毁的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种适应大电流的测试探针
本专利技术属于电子元器件
，具体涉及一种适应大电流的测试探针。
技术介绍
测试探针是一种高端精密链接器件，广泛应用于测试PCB线路板、FPC（印刷电路），其主要作为起连接作用的精密探针使用，目前已广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等
使用时，测试探针安装于测试治具上，测试探针的一端连接输出端（输出端指电压、频率等），测试探针的另外一端则连接被测试元件，方可进行测试。测试过程中对测试探针的要求极高，但是现有的探针设计对过电压和频率输出有限，电压增大就会造成测试探针烧坏现象，致使测试探针不能准确地检测被测元件，严重时会损坏被测试元件。故而，设计一种可适应过大电流的测试探针就显得十分必要了。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种适应大电流的测试探针，以解决现有测试探针存在过大电流时，容易发生损毁的问题。为解决上述问题，本专利技术公开了一种可适应大电流的测试探针，包括：一针管；一弹性伸缩件，所述弹性伸缩件设置在所述针管内；一导电件，所述导电件设置在所述弹本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可适应大电流的测试探针，其特征在于，包括：/n一针管（6）；/n一弹性伸缩件（7），所述弹性伸缩件（7）设置在所述针管（6）内；/n一导电件（8），所述导电件（8）设置在所述弹性伸缩件（7）内；/n两针轴（5），两所述针轴（4）的尾部（1）分别从所述针管（6）的两端卡入，并分别与所述弹性伸缩件（7）的两端接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种可适应大电流的测试探针，其特征在于，包括：
一针管（6）；
一弹性伸缩件（7），所述弹性伸缩件（7）设置在所述针管（6）内；
一导电件（8），所述导电件（8）设置在所述弹性伸缩件（7）内；
两针轴（5），两所述针轴（4）的尾部（1）分别从所述针管（6）的两端卡入，并分别与所述弹性伸缩件（7）的两端接触。


2.根据权利要求1所述的可适应大电流的测试探针，其特征在于，所述针轴（5）上设置有台阶（2），所述针管（6）的两端分别向内形成收口（4），所述针轴（5）向外移动时，其台阶（2）抵挡在所述收口（4）处。


3.根据权利要求2所述的可适应大电流的测试探针，其特征在于，所述台阶（2）呈锥形过度，所述针管（6）的两端收口（4）也呈锥形布置。

【专利技术属性】
技术研发人员：张小英，申啸，李红叶，
申请(专利权)人：渭南高新区木王科技有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61