中波红外跟踪测量物镜制造技术

本实用新型专利技术是一种用于中波红外跟踪测量物镜，包括主物镜组（１）、转像镜组（８）和光栏（６），所述主物镜组（１）、转像镜组（８）和光栏（６）依序设置在同一光轴（７）上。其采用了二次成像的方式来实现出瞳与冷屏的匹配，避免了使用场镜，有利于红外光学系统的工作。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
专利说明 一、
本技术设计用于光学测量领域，是一种用于中波红外跟踪测量物镜。二
技术介绍
红外光学系统具有准全天候的工作能力，既可以在夜间工作，也可以透过薄雾轻霭，在大气环境较差的情况下比可见光有更强的探测能力，该系统要能够用于靶场的外弹道测量，因而要有较长的焦距以满足必要的测量精度。同时与可见光系统不同，红外光学系统探测的是物体的热辐射，为能够探测小的温度差，大多数红外探测器都必须工作在低温深冷状态下。为了能将探测器敏感元保持在这样的低温下，探测器被封装在杜瓦瓶中，同时，为了限制探测器视场以外的不必要的光线，在探测器与杜瓦瓶窗口之间置有冷屏，因此，红外光学系统在用于制冷型的探测器时必须考虑出瞳与冷屏的匹配。目前可以采用两种方式进行出瞳与冷屏的匹配，一种是将冷屏直接作为光学系统的孔径光栏(相当于将光学系统光栏直接放置在探测器的冷屏处)，此时冷屏即为系统的出瞳，这种匹配方式在光学系统焦距较短时是有效且易于实现的，但在焦距较长时由于光栏位置远离像差的校正位置并且由于入瞳远离透镜使得透镜的外形尺寸迅速增加导致系统的性价比下降，在这种情况下采用的另一种出瞳与冷屏的匹配方式是采用二次成像的方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种中波红外跟踪测量物镜，其特征在于：该物镜包括主物镜组（１）、转像镜组（８）和光栏（６），所述主物镜组（１）、转像镜组（８）和光栏（６）依序设置在同一光轴（７）上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：白清兰，马彩文，白加光，孙东岩，张恒金，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：87[中国|西安]