时序报告分析方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一时序报告分析方法和装置。时序报告分析方法可应用于电子设计自动化。在一实施例中，上述时序报告分析方法的步骤包括：将多个功能模块对应的时序报告依起点和终点进行分类，以产生多个起点模块和多个终点模块对应的时序信息；根据上述时序信息，取得上述多个起点模块的一第一起点模块和上述多个终点模块的一第一终点模块所对应的一初始版本时序结果和一第二版本时序结果；将上述初始版本时序结果和上述第二版本时序结果进行比对，以产生一第一比对结果；将上述第一比对结果转换到一坐标图上；以及根据上述坐标图进行时序报告的分析。

【技术实现步骤摘要】
时序报告分析方法和装置
本专利技术的实施例主要涉及一时序报告分析技术，特别涉及将不同版本的时序结果显示在一坐标图，以进行时序分析的时序报告分析。
技术介绍
电子设计自动化(ElectronicDesignAutomation，EDA)可利用计算机辅助设计(ComputerAidedDesign，CAD)软件，来完成芯片的功能设计、配置和布线等。在传统EDA工具仅能提供关键路径的时序报告供设计者参考。然而，对于同一芯片设计，当设计者(例如：配置和路径(placementandroute，PR)工程师)针对前一版本发生的违例进行调整，以产生下一版本的时序结果时，EDA工具并无法针对两不同版本直接进行比对。因此，仅能依靠设计者人工去逐条比对前一版本和新版本的时序结果，再去进行调整，以产生下一版本的时序结果。这样的作法需要消耗相当多的时间和人力。因此，如何更有效率地进行时序报告分析将是个值得研究的课题。
技术实现思路
有鉴于上述现有技术的问题，本专利技术的实施例提供了一种静态时序分析方法和装置。根据本专利技术的一实施例提供了一种时序报告分析方法。上述时序报告分析方法可应用于电子设计自动化。上述时序报告分析方法的步骤包括：将多个功能模块对应的时序报告依起点和终点进行分类，以产生多个起点模块和多个终点模块对应的时序信息；根据上述时序信息，取得上述多个起点模块的一第一起点模块和上述多个终点模块的一第一终点模块所对应的一初始版本时序结果和一第二版本时序结果；将上述初始版本时序结果和上述第二版本时序结果进行比对，以产生一第一比对结果；将上述第一比对结果转换到一坐标图上；以及根据上述坐标图进行时序报告的分析。根据本专利技术一实施例，上述时序报告分析方法的步骤还包括：根据上述时序信息，取得上述第一起点模块和上述第一终点模块所对应的上述初始版本时序结果和一第三版本时序结果；将上述初始版本时序结果和上述第三版本时序结果进行比对，以产生一第二比对结果；以及将上述第二比对结果转换到上述坐标图上。根据本专利技术一实施例，初始版本时序结果、上述第二版本时序结果和上述第三版本时序结果都包含多个参数。根据本专利技术一实施例，上述时序报告分析方法的步骤还包括：将上述初始版本时序结果和上述第二版本时序结果中相同的参数进行比对；以及将上述初始版本时序结果和上述第三版本时序结果中相同的参数进行比对。根据本专利技术一实施例，上述坐标图的横轴对应到上述初始版本时序结果，以及上述坐标图的纵轴对应到上述第二版本时序结果和上述第三版本时序结果。根据本专利技术一实施例，一45度轴线将上述坐标图分成一左上半部和一右下半部。当上述第一比对结果落在上述左上半部或落在上述坐标图的负横轴时，表示上述第二版本时序结果比上述初始版本时序结果好，以及当上述第一比对结果落在上述右下半部时，表示上述第二版本时序结果比上述初始版本时序结果差。根据本专利技术另一实施例，一45度轴线将上述坐标图分成一右上半部和一左下半部。当上述第一比对结果落在上述右上半部或落在上述坐标图的正横轴时，表示上述第二版本时序结果比上述初始版本时序结果好，以及当上述第一比对结果落在上述左下半部时，表示上述第二版本时序结果比上述初始版本时序结果差。根据本专利技术的一实施例提供了一种时序报告分析装置。上述时序报告分析装置包括一存储装置、一处理装置和一显示装置。处理装置耦接上述存储装置。上述处理装置将多个功能模块对应的时序报告依起点和终点进行分类，以产生多个起点模块和多个终点模块对应的时序信息；根据上述时序信息，取得上述多个起点模块的一第一起点模块和上述多个终点模块的一第一终点模块所对应之一初始版本时序结果和一第二版本时序结果；将上述初始版本时序结果和上述第二版本时序结果进行比对，以产生一第一比对结果；将上述第一比对结果转换到一坐标图上。显示装置耦接上述处理器，且显示上述坐标图，以进行时序报告的分析。关于本专利技术其他附加的特征与优点，本领域技术人员在不脱离本专利技术的精神和范围内，当可根据本申请实施方法中所公开的时序报告分析方法和装置，做些许的更动与润饰而得到。附图说明图1是显示根据本专利技术的一实施例所述的一时序报告分析装置100的方块图。图2是显示根据本专利技术一实施例所述的对应初始版本时序结果和第二版本时序结果的WNS的比对结果的坐标图。图3是显示根据本专利技术一实施例所述的对应第一起点模块和第一终点模块的初始版本时序结果和第二版本时序结果～第五版本时序结果的WNS的比对结果的坐标图。图4是根据本专利技术的一实施例所述的一时序报告分析方法的流程图。【符号说明】100：时序报告分析装置110：处理装置120：存储装置130：显示装置S410～S450：步骤X1～X4：坐标具体实施方式本章节所叙述的是实施本专利技术的较佳方式，目的在于说明本专利技术的精神而非用以限定本专利技术的保护范围，本专利技术的保护范围当视所附权利要求书界定范围为准。图1是显示根据本专利技术的一实施例所述的一时序报告分析装置100的方块图。时序报告分析装置100可应用于电子设计自动化(ElectronicDesignAutomation，EDA)关于配置和路径(placementandroute，PR)的时序报告的分析。如图1所示，时序报告分析装置100可包括一处理装置110、一存储装置120和一显示装置130。注意地是，在图1中所示的方块图，仅为了方便说明本专利技术的实施例，但本专利技术并不以图1为限。时序报告分析装置100中也可包含其他元件。根据本专利技术的实施例，存储装置120可是一易失性存储器(volatilememory)(例如：随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM))，或一非易失性存储器(Non-volatilememory)(例如：快闪存储器(flashmemory)、只读存储器(ReadOnlyMemory，ROM))、一硬盘或上述装置的组合。存储装置120可用以存储要进行时序报告分析所需的文件和数据。处理装置110耦接至存储装置120。处理装置110可执行存储装置120所存储的文件和数据，以进行时序报告的分析所需的操作。根据本专利技术的实施例，显示装置130可是一屏幕或一显示器，但本专利技术不以此为限。根据本专利技术的一实施例，处理装置110可将待测的芯片或元件所包含的多个功能模块对应的多个时序报告依起点和终点进行分类，以产生多个起点模块和多个终点模块对应的时序信息。多个时序报告可是时序报告分析装置100的处理装置110藉由EDA工具进行运算所产生。根据本专利技术的一实施例，时序信息中可包含起点模块所对应的功能模块、终点模块所对应的功能模块，以及起点模块和其对应的终点模块所对应的不同版本的时序结果。根据本专利技术的一实施例，当要针对一第一起点模块和一第一终点模块做配置和路径(PR)的时序报告的分析时，时序报告分析装置100可根据时序信息，取得对应第一起点模块和第一终点模块的一初始本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种时序报告分析方法，可应用于电子设计自动化，包括：/n将多个功能模块对应的时序报告依起点和终点进行分类，以产生多个起点模块和多个终点模块对应的时序信息；/n根据上述时序信息，取得上述多个起点模块的第一起点模块和上述多个终点模块的第一终点模块所对应的初始版本时序结果和第二版本时序结果；/n将上述初始版本时序结果和上述第二版本时序结果进行比对，以产生第一比对结果；/n将上述第一比对结果转换到坐标图上；以及/n根据上述坐标图进行时序报告的分析。/n

【技术特征摘要】
1.一种时序报告分析方法，可应用于电子设计自动化，包括：
将多个功能模块对应的时序报告依起点和终点进行分类，以产生多个起点模块和多个终点模块对应的时序信息；
根据上述时序信息，取得上述多个起点模块的第一起点模块和上述多个终点模块的第一终点模块所对应的初始版本时序结果和第二版本时序结果；
将上述初始版本时序结果和上述第二版本时序结果进行比对，以产生第一比对结果；
将上述第一比对结果转换到坐标图上；以及
根据上述坐标图进行时序报告的分析。


2.如权利要求1所述的时序报告分析方法，还包括：
根据上述时序信息，取得上述第一起点模块和上述第一终点模块所对应的上述初始版本时序结果和第三版本时序结果；
将上述初始版本时序结果和上述第三版本时序结果进行比对，以产生第二比对结果；以及
将上述第二比对结果转换到上述坐标图上。


3.如权利要求2所述的时序报告分析方法，其中上述初始版本时序结果、上述第二版本时序结果和上述第三版本时序结果都包含多个参数。


4.如权利要求3所述的时序报告分析方法，还包括：
将上述初始版本时序结果和上述第二版本时序结果中相同的参数进行比对；以及
将上述初始版本时序结果和上述第三版本时序结果中相同的参数进行比对。


5.如权利要求2所述的时序报告分析方法，其中上述坐标图的横轴对应到上述初始版本时序结果，以及上述坐标图的纵轴对应到上述第二版本时序结果和上述第三版本时序结果。


6.如权利要求5所述的时序报告分析方法，其中一45度轴线将上述坐标图分成左上半部和右下半部。


7.如权利要求6所述的时序报告分析方法，其中当上述第一比对结果落在上述左上半部或落在上述坐标图的负横轴时，表示上述第二版本时序结果比上述初始版本时序结果好，以及当上述第一比对结果落在上述右下半部时，表示上述第二版本时序结果比上述初始版本时序结果差。


8.如权利要求5所述的时序报告分析方法，其中一45度轴线将上述坐标图分成右上半部和左下半部。


9.如权利要求8所述的时序报告分析方法，其中当上述第一比对结果落在上述右上半部或落在上述坐标图的正横轴时，表示上述第二版本时序结果比上述初始版本时序结果好，以及当上述第一比对结果落在上述左下半部时，表示上述第二版本时序结果比上述初始版本时序结果差。


10.一种时序报告分析装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫俊松，辛玲，蒋昊，李冰，
申请(专利权)人：上海兆芯集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31