【技术实现步骤摘要】
用于确定分子结构的方法和系统本说明书总体上涉及用于确定分子结构的方法和系统，并且更具体地涉及基于衍射图和电子显微镜图像确定分子结构。
技术介绍
可以通过其对应的结构因子来确定有机分子的分子结构。结构因子描述了晶体的晶格如何散射入射辐射。形成晶体的分子的3D分子结构可以通过确定晶体的结构因子来解析。来自晶体的散射波相互干扰，并且可以形成二维衍射图。当散射角满足布拉格条件（Braggcondition）时，衍射图中的高强度建设性地形成。结构因子包含振幅和相位。尽管可以从衍射图中获得结构因子的振幅，但是相位信息丢失。为了解决分子结构，可以从晶体的电子显微镜图像中提取相位信息。具体地，可以从电子显微镜图像的傅立叶变换（Fouriertransform）中读出相位信息。
技术实现思路
在一个实施例中，一种用于确定分子结构的方法，其包括：在倾斜角范围内使样品倾斜的同时获取所述样品的多个衍射图，基于所述多个衍射图中的衍射峰的强度来确定结构因子的振幅；获取所述样品的电子显微镜（EM）图像；基于所述EM图像和所述多个衍射图中的所述衍射峰的所述强...
【技术保护点】
1.一种用于确定样品的分子结构的方法，其包括：/n在相对于入射束倾斜所述样品的同时获取所述样品的多个衍射图；/n基于所述多个衍射图中的衍射峰的强度来确定结构因子的振幅；/n获取所述样品的电子显微镜（EM）图像；/n基于所述EM图像和所述多个衍射图中的所述衍射峰的所述强度来确定所述结构因子的相位；以及/n基于所述结构因子的所述振幅和所述结构因子的所述相位来确定所述样品的所述分子结构。/n
【技术特征摘要】
20190624 US 16/4503211.一种用于确定样品的分子结构的方法，其包括：
在相对于入射束倾斜所述样品的同时获取所述样品的多个衍射图；
基于所述多个衍射图中的衍射峰的强度来确定结构因子的振幅；
获取所述样品的电子显微镜（EM）图像；
基于所述EM图像和所述多个衍射图中的所述衍射峰的所述强度来确定所述结构因子的相位；以及
基于所述结构因子的所述振幅和所述结构因子的所述相位来确定所述样品的所述分子结构。
2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括在获取所述EM图像之后，以比用于获取所述EM图像的电流密度更高的电流密度获取所述样品的第二EM图像，并且进一步基于所述第二EM图像确定所述结构因子的所述相位。
3.根据权利要求2所述的方法，其进一步包括基于所述第二EM图像确定对比度传递函数（CTF），并且基于所述第二EM图像确定所述结构因子的所述相位包含基于所述CTF确定所述结构因子的所述相位。
4.根据权利要求1到3中任一项所述的方法，其中获取所述EM图像包含以一定倾斜角获取所述EM图像，并且基于所述EM图像和所述多个衍射图中的所述衍射峰的所述强度来确定所述结构因子的所述相位包含基于所述EM图像和所述衍射峰在所述倾斜角下的强度来确定所述结构因子在所述倾斜角下的所述相位。
5.根据权利要求4所述的方法，其中所述结构因子在所述倾斜角下的所述相位基于所述衍射峰的弗里德尔配对（Friedelmate）的强度来进一步确定。
6.根据权利要求5所述的方法，其中所述衍射峰的所述强度与所述衍射峰的所述弗里德尔配对的所述强度是不同的。
7.根据权利要求1到3中任一项所述的方法，其中基于所述衍射峰的强度确定所述结构因子的所述振幅包含通过取所述衍射峰在所述倾斜角下的强度的平方根来计算所述结构因子在特定倾斜角下的所述振幅。
8.根据权利要求1到3中任一项所述的方法，其中基于所述衍射峰的强度确定所述结构因子的所述振幅包含：使所述衍射峰的所述强度与曲线拟合，以及通过取所述曲线在所述倾斜角下的强度的平方根来计算所述结构因子在特定倾斜角下的所述振幅。
9.根据权利要求1到3中任一项所述的方法，其进一步包含通过对所述多个衍射图进行阈值化来标识所述衍射峰。
10.根据权利要求1到3中任一项所述的方法，其中所述多个衍射图中的所述衍射峰的强度非零。
11.一种用于确定样品的分子结构的系统，其包括：
电子源，所述电子源用于生成电子束；
样品...
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