时序分析方法、电路、装置及存储介质制造方法及图纸

技术编号:26763826 阅读:53 留言:0更新日期:2020-12-18 23:30
本发明专利技术公开了一种时序分析方法、电路、装置及存储介质。其中,方法包括:基于多个第一反相器对单元,构建时钟树;所述时钟树用于向待分析元器件提供输入时钟;对所述时钟树和所述待分析元器件进行布线;对布线后所述待分析元器件的输入时钟的时序进行分析,得到分析结果;所述分析结果表征所述输入时钟的最小脉冲宽度大于或等于预设阈值。

【技术实现步骤摘要】
时序分析方法、电路、装置及存储介质
本专利技术涉及半导体技术,具体涉及一种时序分析方法、电路、装置及存储介质。
技术介绍
随着工艺的不断进步,智能电子设备中的芯片单元的性能也逐步提高,例如,芯片单元的时钟频率越来越高。面对越来越高的时钟频率,芯片物理设计实现中的时序收敛将会是一个很大的挑战,尤其对于时钟的最小脉冲宽度的要求会异常严格。相关技术中,在芯片后端设计过程中,可以利用时序检查工具对时钟的最小脉冲宽度进行检查,当检查发现最小脉冲宽度违例时,需要对时钟的最小脉冲宽度进行修复,导致后端设计需要较长时间。因此,亟需找到一种保证时钟的最小脉冲宽度不违例的技术方案。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术实施例期望提供一种时序分析方法、电路、装置及存储介质。本专利技术的技术方案是这样实现的:本专利技术实施例提供一种时序分析方法,所述方法包括:基于多个第一反相器对单元,构建时钟树;所述时钟树用于向待分析元器件提供输入时钟;对所述时钟树和所述待分析元器件进行布线;对布线后所述待分析元器件的输入时钟的时序进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种时序分析方法,其特征在于,所述方法包括:/n基于多个第一反相器对单元,构建时钟树;所述时钟树用于向待分析元器件提供输入时钟;/n对所述时钟树和所述待分析元器件进行布线;/n对布线后所述待分析元器件的输入时钟的时序进行分析,得到分析结果;所述分析结果表征所述输入时钟的最小脉冲宽度大于或等于预设阈值。/n

【技术特征摘要】
1.一种时序分析方法,其特征在于,所述方法包括:
基于多个第一反相器对单元,构建时钟树;所述时钟树用于向待分析元器件提供输入时钟;
对所述时钟树和所述待分析元器件进行布线;
对布线后所述待分析元器件的输入时钟的时序进行分析,得到分析结果;所述分析结果表征所述输入时钟的最小脉冲宽度大于或等于预设阈值。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对布线后所述待分析元器件的输入时钟的时序进行分析,包括:
确定所述时钟树输入的原始时钟的周期,并确定所述原始时钟经过所述时钟树中各个第一反相器对单元的第一上升时间和第一下降时间;
基于所述周期、第一上升时间和第一下降时间,对布线后到达所述待分析元器件的输入时钟的时序进行分析。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述周期、第一上升时间和第一下降时间,对布线后到达所述待分析元器件的输入时钟的时序进行分析,包括:
基于所述原始时钟的周期,确定所述原始时钟的高电平脉冲宽度和低电平脉冲宽度;
基于所述高电平脉冲宽度,以及所述高电平脉冲对应的第一上升时间和第一下降时间,对所述高电平脉冲的最小脉冲宽度进行分析;
基于所述低电平脉冲宽度,以及所述低电平脉冲对应的第一上升时间和第一下降时间,对所述低电平脉冲的最小脉冲宽度进行分析。


4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
判断所述高电平脉冲的最小脉冲宽度和所述低电平脉冲的最小脉冲宽度是否均大于或等于预设阈值;
当确定所述高电平脉冲的最小脉冲宽度和所述低电平脉冲的最小脉冲宽度均大于或等于预设阈值时,确定所述输入时钟的最小脉冲宽度大于或等于预设阈值。


5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
当确定所述高电平脉冲的最...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘君
申请(专利权)人:OPPO广东移动通信有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1