修正电路的方法技术

本发明专利技术提供一种修正电路的方法。该种修正电路的方法包括对电路执行时序分析，以得到电路的所述违例路径；根据违例路径的第一参数与第二参数，判定违例路径的类型；以及依据违例路径的类型，修正违例路径，其中，违例路径的建立时间违例。

【技术实现步骤摘要】
修正电路的方法
本专利技术涉及电路的修正方法，且特别涉及一种修正电路中违例路径的方法。
技术介绍
近年来，集成电路，例如超大规模集成电路(LargerScaleIntegratedCircuit，LSI)的开发周期越来越短，那么在有建立(setup)时间违例问题的时候，如果能迅速找到产生建立时间违例的原因并给出对应的解决方案，将可以大大缩短整个设计时间。其中，建立时间是指时钟信号上升沿到达时序逻辑单元之前，数据信号维持稳定的时间，如果建立时间不够，数据信号不能被准确打入时序逻辑单元，就会产生建立时间违例。修复建立时间违例的方法包括由开发人员修正时序路径上的逻辑，或者由后端人员用延迟小的电路单元替换延迟大的电路单元。但通常是先由后端人员执行修正，后端人员无法修正的再发回开发人员修正，导致设计周期延长以及对集成电路的功耗或成本的影响。
技术实现思路
本专利技术提供一种修正电路中违例路径的方法。该种修正电路中违例路径的方法包括对电路执行时序分析，以得到电路的违例路径；根据违例路径的第一参数与第二参数，判定违例路径的类型；以本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种修正电路的方法，包括：/n对所述电路执行时序分析，得到所述电路的违例路径；/n根据所述违例路径的第一参数与第二参数，判定所述违例路径的类型；以及/n依据所述违例路径的所述类型，修正所述违例路径，/n其中，所述违例路径的建立时间违例。/n

【技术特征摘要】
1.一种修正电路的方法，包括：
对所述电路执行时序分析，得到所述电路的违例路径；
根据所述违例路径的第一参数与第二参数，判定所述违例路径的类型；以及
依据所述违例路径的所述类型，修正所述违例路径，
其中，所述违例路径的建立时间违例。


2.如权利要求1所述的修正电路的方法，其中所述第一参数为所述违例路径的逻辑级数或逻辑延迟，所述第二参数为所述违例路径的走线长度或非逻辑延迟。


3.如权利要求1所述的修正电路的方法，其中，
当所述违例路径的所述第一参数大于所述第一参数的平均值且所述违例路径的所述第二参数大于所述第二参数的平均值时，判定所述违例路径为第一类违例路径，修改所述电路，以将所述违例路径修改为第二类违例路径，
其中，所述第二类违例路径的第一参数小于所述第一参数的所述平均值且所述第二类违例路径的所述第二参数大于所述第二参数的所述平均值。


4.如权利要求1所述的修正电路的方法，其中，
当所述违例路径的所述第一参数小于所述第一参数的平均值且所述违例路径的所述第二参数大于所述第二参数的平均值时，判定所述违例路径为第二类违例路径，修改所述电路，以将所述违例路径修改为第三类违例路径，
其中，所述第三类违例路径的所述第一参数小于所述第一参数的所述平均值，所述第三类违例路径的所述第二参数小于所述第二参数的所述平均值。


5.如权利要求1所述的修正电路的方法，其中，
当所述违例路径的所述第一参数大于所述第一参数的平均值且所述违例路径的所述第二参数小于所述第二参数的平均值时，判定所述违例路径为第四类违例路径，修改所述电路，以将所述违例路径修改为第三类违例路径，
其中，所述第三类违例路径的所述第一参数小于所述第一参数的所述平均值，所述第三类违例路径的所述第二参数小于所述第二参数的所述平均值。


6.如权利要求1所述的修正电路的方法，其中，
当所述违例路径的所述第一参数小于所述第一参数的平均值且所述第二参数小于所述第二参数的平均值时，判定所述违例路径为第三类违例路径，修改所述电路，以将所述违例路径修正为非违例路径。


7.如权利要求1所述的修正电路的方法，其中，
当所述违例路径的所述第一参数大于所述第一参数的第一值且所述违例路径的所述第二参数大于所述第二参数的...

【专利技术属性】
技术研发人员：林哲民，杨帅，李翊，
申请(专利权)人：上海兆芯集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31