【技术实现步骤摘要】
一种辐射环境下BUCK电路的失效仿真方法
本专利技术属于可靠性实验、建模仿真与计算
,特别涉及驱动SiP辐射可靠性仿真建模中BUCK电路在辐照强度下失效模型的仿真。
技术介绍
电子产品是实现设备自动化、智能化的关键纽带,电源系统作为保障电子产品运行的直接动力来源,一旦退化失效,将导致整机瘫痪,造成巨大的经济损失。目前,国内外对电源系统的退化失效模式分析开展了广泛的研究,但是在某些特殊环境,特别是处于核辐射环境下的退化失效分析以及可靠性评估十分匮乏。因此,本文围绕多路输出电源系统开展了核辐射环境下的退化分析及可靠性评估工作,致力于构建一套系统硬件开发、试验方案设计、摸底试验探索以及理论分析的完整可靠性评价体系。基于前期对自主设计的电源系统在辐照环境下的3组摸底试验发现,该电源系统中有源器件对核辐射应力十分敏感,是导致有源器件退化失效的主要原因。然而,迫于试验周期和经济成本等因素的制约,整个评估体系将面临电源系统组件未能完全失效、试验对象数量有限、退化数据样本较少等一系列问题。典型电路板是电子设备系统正常运行的必备 ...
【技术保护点】
1.一种辐射环境下BUCK电路的失效仿真方法,该方法包括:/n步骤1:采用实验获取BUCK电路的部分辐射强度下的输出电压,辐照强度的范围包括使BUCK电路输出正常的辐照强度和输出完全失灵的辐照强度,根据辐照强度和对应的输出电压拟合出BUCK电路退化曲线f(x),并根据BUCK电路的的电器特征得到其失效阈值电压V
【技术特征摘要】
1.一种辐射环境下BUCK电路的失效仿真方法,该方法包括:
步骤1:采用实验获取BUCK电路的部分辐射强度下的输出电压,辐照强度的范围包括使BUCK电路输出正常的辐照强度和输出完全失灵的辐照强度,根据辐照强度和对应的输出电压拟合出BUCK电路退化曲线f(x),并根据BUCK电路的的电器特征得到其失效阈值电压V失效阈值;
步骤2:对BUCK电路进行建模,BUCK电路包括:误差比较器、锯齿波发生器、电压基准源、PWM波比较器、P型MOS管、稳压电路;输入电压分别输入电压基准源、锯齿波发生器、P型MOS管的源极,电压基准源的输出作为误差比较器的输入,误差比较器的输出和锯齿波发生器的输出作为PWM波比较器的输入,PWM波比较器的输出连接P型MOS管的栅极,P型MOS管的漏极为输出,P型MOS管的输出经过稳压电路后为BUCK电路的输出;
步骤3:根据表1中试验所得到的BUCK电路退化数据,反推出BUCK电路的PWM波发生器中锯齿波发生器的增益、误差比较器的放大器增益、电压基准源的变化范围;
步骤4:将PWM波发生器中锯齿波发生器的增益、误差比较器的放大器增益、电压基准源的值设置为...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐樟春,杨宗承,谢葭,李征泰,吴文锋,曾鑫,
申请(专利权)人:电子科技大学,
类型:发明
国别省市:四川;51
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