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该发明公开了一种辐射环境下BUCK电路的失效仿真方法，属于可靠性实验、建模仿真与计算技术领域。解决了迫于试验周期和经济成本等因素的制约，整个评估体系将面临电源系统组件未能完全失效、试验对象数量有限、退化数据样本较少等一系列问题。本发明通过s...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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