芯片程序功能校验装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种芯片程序功能校验装置及方法，涉及芯片测试技术领域，解决了现有技术中存在的当烧录机烧写软件程序时，只能检测烧录在芯片上的程序，无法校验芯片本身搭载程序后是否能正常工作的技术问题。校验装置与烧录机的烧录座相连接，当将芯片放置在烧录座且启动校验装置时，能通过观察校验装置负载的工作状况来判断芯片的功能状况。本发明专利技术用于实现对芯片的程序及功能一同验证。

【技术实现步骤摘要】
芯片程序功能校验装置及方法
本专利技术涉及芯片测试
，尤其是涉及一种芯片程序功能校验装置及校验方法。
技术介绍
芯片是一种处理器，芯片工作时需要有程序，将程序存储到芯片中的过程就是芯片烧录。对于芯片内是否导入程序或是否导入正确的程序，可将芯片放置在烧录座上，通过芯片烧写软件校验芯片内是否有烧写有对应的程序。本申请人发现现有技术至少存在以下技术问题：烧录机烧写软件程序时，只能检测烧录在芯片上的程序，无法校验芯片本身搭载程序后是否能正常工作；且当有保密芯片时也无法校验内部程序是否正常。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种芯片程序功能校验装置及方法，解决了现有技术中存在的当烧录机烧写软件程序时，只能检测烧录在芯片上的程序，无法校验芯片本身搭载程序后是否能正常工作的技术问题。本专利技术提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。为实现上述目的，本专利技术提供了以下技术方案：本专利技术提供的一种芯片程序功能校验装置，所述校验装置与烧录机的烧录座相连接，当将芯片放置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片程序功能校验装置，其特征在于，所述校验装置与烧录机的烧录座(1)相连接，当将芯片放置在所述烧录座(1)且启动所述校验装置时，能通过观察所述校验装置负载的工作状况来判断所述芯片的功能状况。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片程序功能校验装置，其特征在于，所述校验装置与烧录机的烧录座(1)相连接，当将芯片放置在所述烧录座(1)且启动所述校验装置时，能通过观察所述校验装置负载的工作状况来判断所述芯片的功能状况。


2.根据权利要求1所述的芯片程序功能校验装置，其特征在于，所述校验装置包括主板(2)，通过所述主板(2)与所述烧录座(1)相连接以用于实现设置在所述烧录座(1)上的芯片的各引脚与所述主板(2)连接。


3.根据权利要求2所述的芯片程序功能校验装置，其特征在于，所述校验装置还包括针床面板(3)，所述针床面板(3)与所述主板(2)相连接且所述针床面板(3)上的各探针分别通过连接线与所述烧录座(1)相连接。


4.根据权利要求3所述的芯片程序功能校验装置，其特征在于，所述校验装置还包括支撑台(4)，所述主板(2)通过所述支撑台(4)上的夹具(9)固定在所述支撑台(4)上且当所述主板(2)固定在所述支撑台(4)上时，所述支撑台(4)位于所述针床面板(3)的上方。


5.根据权利要求4所述的芯片程序功能校验装置，其特征在于，所述支撑台(4)上设置有定位柱(8)，所述夹具(9)能限定所述主板(2)沿所述支撑台(4)长度方向上的位置，所述定...

【专利技术属性】
技术研发人员：王鑫，杨胜，康扬，罗兴涛，刘爽，
申请(专利权)人：格力电器武汉有限公司，珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42