【技术实现步骤摘要】
一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置
本专利技术涉及电子产品测试
，尤其涉及一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置。
技术介绍
老化测试可以提高TR组件的可靠性，在老化过程中让TR组件进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免TR组件在使用早期发生故障；目前，在TR组件老化测试前，需要测试人员将TR组件安装到老化测试架上，再通过测试人员将TR组件与老化测试仪器连接，再通电进行老化测试；但现有的老化测试架上设有的老化测试座一般固定，不便于将TR组件安装到老化测试座上；再者，在现有的老化测试架上将TR组件与老化测试仪器连接，需要逐一将老化测试仪器与TR组件的输入端和输出端进行连接，操作繁琐且效率低。另外，现有技术中对其它与TR组件类似的电子组件在安装到老化测试架上时也存在上述问题。由此，亟需一种便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率的老化测试座。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术的至少一个不足，提供一种便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的...
【技术保护点】
1.一种电子组件老化测试座，所述电子组件具有输入端和输出端，其特征在于，包括：/n基座；/n安装座，滑动安装在所述基座上，所述安装座上设有用于安装所述电子组件的安装腔体；/n测试输出对接座，垂直于所述安装座的滑动方向连接在所述基座上，所述测试输出对接座上正对所述输出端设有可与所述输出端对接的输出对接插头，且所述输出对接插头与用于接收老化测试数据的老化测试仪器电连接；/n伸缩机构一，一端连接在所述基座上，另一端与所述安装座连接，所述伸缩机构一伸缩可带动所述安装座靠近或远离所述测试输出对接座移动并使所述输出端与所述输出对接插头适配对接或脱离；/n测试输入对接座，正对所述测试输出...
【技术特征摘要】
1.一种电子组件老化测试座，所述电子组件具有输入端和输出端，其特征在于，包括：
基座；
安装座，滑动安装在所述基座上，所述安装座上设有用于安装所述电子组件的安装腔体；
测试输出对接座，垂直于所述安装座的滑动方向连接在所述基座上，所述测试输出对接座上正对所述输出端设有可与所述输出端对接的输出对接插头，且所述输出对接插头与用于接收老化测试数据的老化测试仪器电连接；
伸缩机构一，一端连接在所述基座上，另一端与所述安装座连接，所述伸缩机构一伸缩可带动所述安装座靠近或远离所述测试输出对接座移动并使所述输出端与所述输出对接插头适配对接或脱离；
测试输入对接座，正对所述测试输出对接座安装在所述基座上且位于所述安装座的一侧，所述测试输入对接座上正对所述输入端设有可与所述输入端对接的测试输入对接插头，且所述测试输入对接插头与用于输入测试信号的信号源电连接；
伸缩机构二，一端连接在所述安装座上，另一端与所述测试输入对接座连接，所述伸缩机构二伸缩可带动所述测试输入对接座靠近或远离所述安装座移动并使所述测试输入对接插头与所述输入端适配对接或脱离。
2.根据权利要求1所述的电子组件老化测试座，其特征在于，所述基座的上侧面设有至少两条相互平行设置的导向滑轨，所述安装座滑动安装在至少两条所述导向滑轨上。
3.根据权利要求1所述的电子组件老化测试座，其特征在于，所述伸缩机构一安装在所述基座的下侧面，所述伸缩机构一上设有伸缩杆一，且所述伸缩杆一与所述安装座连接，所述伸缩杆一伸缩可带动所述安装座移动。
4.根据权利要求1所述的电子组件老化测试座，其特征在于，所述伸缩机构二安装在所述安装座的下侧面，所述伸缩机构二上设有伸缩杆二，且所述伸缩杆二与所述测试输入对接座连接，所述伸缩杆二伸缩可带动所述测试输入对接座移动。
5.根据权利要求1所述的电子组件老化测试座，其特征在于，所述测试输入对接座还包括：
支撑座，连接在所述安装座上；
旋转驱动装置，连接在所述支撑座上，所述旋转驱动装置上的旋转端朝向所述安装座延伸，所述测试输入对接插头安装在所述旋转驱动装置的旋转端上，所述测试输入对接插头可在所述旋转驱动装置的驱动下旋转装置的驱动下旋转，且所述测试输入对接插头与用于输入测试信号的信号源电连接信号源电连接。
6.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯吉祥，张奇勋，侯佳赞，李世华，刘冬冬，王智慧，韩策，卢子琦，
申请(专利权)人：北京无线电测量研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11
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