一种电子组件老化测试系统、方法技术方案

本发明专利技术公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连接，用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息；电子组件预安装位置标记读取装置，与控制单元电连接，用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取电子组件的预安装位置信息；老化测试仪器，与控制单元电连接，在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。本发明专利技术的电子组件老化测试系统能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守。

【技术实现步骤摘要】
一种电子组件老化测试系统、方法
本专利技术涉及电子产品测试
，尤其涉及一种电子组件老化测试系统、方法。
技术介绍
老化测试可以提高TR组件的可靠性，在老化过程中让TR组件进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免TR组件在使用早期发生故障；目前，在TR组件老化测试过程中，老化台除了试验前后拆装组件与插拔连接器，按顺序加断电，而且TR组件老化测试需要连续的进行且测试长时间(几十个小时)，还需要专人每隔2小时巡查一次温度及电流状况，并对每个通道指标进行逐个测试记录，除了人工操作繁琐与效率低下，还存在不能实时了解到老化台及组件的运行状况的致命的问题，一旦在巡检间隙出现问题不能及时处置，无法再次进行问题追溯；另外，现有技术中对其它与TR组件类似的电子组件进行老化测试也存在上述问题。由此，亟需一种能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守的老化测试系统。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术的至少一个不足，提供一种能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守的电子组本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子组件老化测试系统，其特征在于，包括：/n电子组件老化测试架，所述电子组件老化测试架上设有多个用于安装电子组件来对所述电子组件进行老化测试的老化测试工位；/n控制单元；/n机械手，与所述控制单元电连接，用于抓取所述电子组件将所述电子组件装配到所述老化测试工位和将位于所述老化测试工位中的所述电子组件取出；/n视觉识别系统，与所述控制单元电连接，用于对所述电子组件的位置进行识别获取所述电子组件的初始位置信息，且所述视觉识别系统可将获取所述电子组件的初始位置信息传递给所述机械手，所述机械手可根据所述电子组件的初始位置信息进行抓取所述电子组件；/n电子组件预安装位置标记读取装置，与所述控制单...

【技术特征摘要】
1.一种电子组件老化测试系统，其特征在于，包括：
电子组件老化测试架，所述电子组件老化测试架上设有多个用于安装电子组件来对所述电子组件进行老化测试的老化测试工位；
控制单元；
机械手，与所述控制单元电连接，用于抓取所述电子组件将所述电子组件装配到所述老化测试工位和将位于所述老化测试工位中的所述电子组件取出；
视觉识别系统，与所述控制单元电连接，用于对所述电子组件的位置进行识别获取所述电子组件的初始位置信息，且所述视觉识别系统可将获取所述电子组件的初始位置信息传递给所述机械手，所述机械手可根据所述电子组件的初始位置信息进行抓取所述电子组件；
电子组件预安装位置标记读取装置，与所述控制单元电连接，用于对所述电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取所述电子组件的预安装位置信息，所述电子组件的预安装位置信息分别与所述老化测试工位一一对应，所述机械手可将所述电子组件抓取并移动至所述电子组件预安装位置标记读取装置一侧，所述电子组件预安装位置标记读取装置获取所述电子组件的预安装位置信息后，所述机械手可根据获取的所述电子组件的预安装位置信息将所述电子组件抓取并移动至与所述预安装位置信息对应的老化测试工位；
老化测试仪器，与所述控制单元电连接，所述电子组件与所述老化测试仪器电连接，所述老化测试仪器可在所述控制单元的控制下对安装在所述老化测试工位上的所述电子组件进行老化测试，且在老化测试过程中，所述老化测试仪器可采集所述电子组件的老化测试数据。


2.根据权利要求1所述的电子组件老化测试系统，其特征在于，还包括：
测试对接装置，设置在所述电子组件老化测试架上或设置在所述电子组件老化测试架的一侧，用于将所述老化测试仪器与所述电子组件对接。


3.根据权利要求2所述的电子组件老化测试系统，其特征在于，所述老化测试仪器包括：
信号源，用于向所述电子组件输入信号，与所述控制单元电连接，所述信号源上设有信号输出电缆且所述信号输出电缆与所述电子组件的输入端电连接；
功率计，用于在所述控制单元的控制和所述电子组件的输入信号的作用下依次采集所述电子组件的测试数据，与所述控制单元电连接，且所述功率计上设有功率探头，所述功率探头通过电缆与所述电子组件的输出端电连接，连接在功率探头上的所述电缆与所述电子组件的输出端电连接的一端连接在所述测试对接头上。


4.根据权利要求3所述的电子组件老化测试系统，其特征在于，所述测试对接装置滑动设置，所述测试对接装置可依次靠近所述电子组件移动并与所述电子组件的输出端对接；或所述老化测试工位滑动安装在所述电子组件老化测试架上，所述老化测试工位可依次靠近所述测试对接装置移动且所述老化测试工位上的所述电子组件的输出端可与所述测试对接装置对接，且所述电子组件的输入端与所述的信号源的信号输出电缆接触连接。


5.根据权利要求3或4所述的电子组件老化测试系统，其特征在于，多个所述老化测试工位在竖直平面上阵列间隔设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯吉祥，刘冬冬，王智慧，韩策，卢子琦，张奇勋，侯佳赞，李世华，
申请(专利权)人：北京无线电测量研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11