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本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连...
该专利属于北京无线电测量研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京无线电测量研究所授权不得商用。

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