【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种双环路二维剪切干涉检测装置，该装置能实现正交方向(二维)同时对宽带强激光束波前进行检测、采集与计算机自动化数据处理。利用该装置能有效地对宽谱带激光束的波前畸变和强激光系统腔镜变形过程实现动态检测。
技术介绍
在先技术中，付雷等人(参见付雷，辛建国等，光学学报，20卷，12期，1667-1674页，2000年)提出了一种分光路二维剪切干涉检测系统。但该系统存在很明显的几个缺点1.由于剪切镜前后两平板面都是未镀膜的，使得光束能量未得到充分利用。2.剪切镜两平板面反射光的光程不等，对于宽谱带光束，剪切干涉的条纹不够清晰，给数据处理带来困难和较大的误差；3.两台计算机的使用，造成资源和台面的浪费，且操作复杂。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服上述现有技术的不足，提供一种双环路二维剪切干涉检测装置，它能动态检测宽谱带光束或激光束的波前畸变，该装置应可用于宽带光束波面的干涉测量，特别是与包含宽光谱的超短激光脉冲的测量，获得清晰的干涉条纹，便于计算机进行处理，而且具有较低的成本费用。本专利技术的技术解决方案如下一种双环路二维剪切干涉检测装置，其特征在于它...
【技术保护点】
一种双环路二维剪切干涉检测装置，其特征在于它的构成是在待测激光束的前进方向依次是扩束镜（１）、４５°置放的第一分光镜（２）、１３５°置放的第二分光镜（３）及９０°置放的第二全反射镜（５），在第二全反射镜（５）的反射光路上设置第一全反射镜（４），且该第一全反射镜（４）的反射光正好以４５°入射第二分光镜（３），其透过光方向有第一ＣＣＤ（６），在第一分光镜（２）的反射光方向且成４５°地置放第三分光镜（１１）、成１３５°置放第三全反射镜（９），在该第三全反射镜（９）的反射光路上设置第四全反射镜（１０），在该第四全反射镜（１０）的反射光正好以４５°入射第三分光镜（１１），其透过光方向...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：朋汉林，林礼煌，徐宏玮，冷雨欣，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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