通过组合评估垫型和孔型对准标记来对准部件承载件结构制造技术

本发明专利技术涉及一种对部件承载件结构(100)进行对准的方法，其中该方法包括：在部件承载件结构(100)上和/或部件承载件结构(100)中形成一个或多个垫型对准标记(102)；在部件承载件结构(100)上和/或部件承载件结构(100)中形成一个或多个孔型对准标记(104)；以及通过对基于一个或多个垫型对准标记(102)和一个或多个孔型对准标记(104)导出的对准信息进行组合来确定用于对部件承载件结构(100)进行对准的对准信息。本发明专利技术还涉及部件承载件结构、用于对部件承载件结构进行对准的装置、计算机可读介质、程序单元和由部件承载件组成的批组。

【技术实现步骤摘要】
通过组合评估垫型和孔型对准标记来对准部件承载件结构
本专利技术涉及一种对部件承载件结构进行对准的方法、部件承载件结构、用于对部件承载件结构进行对准的装置、计算机可读介质、程序单元和由部件承载件组成的批组。
技术介绍
在配备有一个或多个电子部件的部件承载件的产品功能越来越多、并且这些电子部件的小型化增加、以及待安装在部件承载件诸如印刷电路板上的电子部件数量增多的背景下，越来越强大的类阵列部件或具有若干电子部件的封装被采用，该类阵列部件或封装具有多个触点或连接部，在这些触点之间具有更小的间隔。移除由这些电子部件和部件承载件自身在操作期间产生的热变成了日益增加的问题。同时，部件承载件应该是机械上坚固并且电气上可靠的，以便甚至在恶劣条件下是可操作的。而且，在制造过程中，部件承载件的组成的适当对准是一个问题。例如，当在制造时图案化部件承载件的层结构方面暴露干膜时，适当的对准精度是重要的。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是能够以高空间精度处理部件承载件结构。为了实现上面限定的目的，提供根据本专利技术的一种对部件承载件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种对部件承载件结构(100)进行对准的方法，其中，所述方法包括：/n在所述部件承载件结构(100)上和/或在所述部件承载件结构(100)中形成一个或多个垫型对准标记(102)；/n在所述部件承载件结构(100)上和/或在所述部件承载件结构(100)中形成一个或多个孔型对准标记(104)；/n通过对基于所述一个或多个垫型对准标记(102)和所述一个或多个孔型对准标记(104)而导出的对准信息进行组合，确定用于对准所述部件承载件结构(100)的对准信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种对部件承载件结构(100)进行对准的方法，其中，所述方法包括：
在所述部件承载件结构(100)上和/或在所述部件承载件结构(100)中形成一个或多个垫型对准标记(102)；
在所述部件承载件结构(100)上和/或在所述部件承载件结构(100)中形成一个或多个孔型对准标记(104)；
通过对基于所述一个或多个垫型对准标记(102)和所述一个或多个孔型对准标记(104)而导出的对准信息进行组合，确定用于对准所述部件承载件结构(100)的对准信息。


2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：
仅基于所述一个或多个垫型对准标记(102)或仅基于所述一个或多个孔型对准标记(104)来导出初步对准信息；以及
随后基于所述一个或多个孔型对准标记(104)和所述一个或多个垫型对准标记(102)中的另一对准标记来改进所述初步对准信息。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述方法包括：通过对从所述一个或多个垫型对准标记(102)导出的对准信息和从所述一个或多个孔型对准标记(104)导出的对准信息取平均来导出对准信息。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，所述方法包括：导出作为从所述一个或多个垫型对准标记(102)导出的对准信息和从所述一个或多个所述孔型对准标记(104)导出的对准信息的加权组合的对准信息。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，所述方法包括：在所述部件承载件结构(100)的叠置件(110)的多个层结构(106、108)中形成所述一个或多个垫型对准标记(102)和/或所述一个或多个孔型对准标记(104)，特别地，在所述部件承载件结构(100)的叠置的层结构(106、108)中的每个层结构中形成所述一个或多个垫型对准标记(102)和/或所述一个或多个孔型对准标记(104)。


6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中，所述一个或多个垫型对准标记(102)的至少一部分和/或所述一个或多个孔型对准标记(104)的至少一部分形成在所述部件承载件结构(100)的拐角(112)中，以用于确定关于所述部件承载件结构(100)整体的对准信息。


7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，所述一个或多个垫型对准标记(102)的至少一部分和/或所述一个或多个孔型对准标记(104)的至少一部分形成在所述部件承载件结构(100)的分区(114)的拐角(112')中，特别地，所述一个或多个垫型对准标记(102)的至少一部分和/或所述一个或多个孔型对准标记(104)的至少一部分形成在所述部件承载件结构(100)的四分之一区域的拐角(112')中，以用于确定仅涉及所述部件承载件结构(100)的所述分区(114)的对准信息。


8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中，所述一个或多个垫型对准标记(102)和所述一个或多个孔型对准标记(104)位于所述部件承载件结构(100)的有源区域(116)的外部。


9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其中，所述方法包括：基于所确定的对准信息来对所述部件承载件结构(100)进行对准和处理。


10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述处理包括对所述部件承载件结构(100)进行由成像特别是光成像、焊接掩模处理、丝网印刷、以及特别是在组装过程中机械式处理组成的组中的至少一者。


11.根据权利要求9或10所述的方法，其中，所述处理包括：
检测和/或存储与基于所确定的对准信息而形成的所述部件承载件结构(100)的特征有关的数据，特别地，所述特征是垫(152)的直径、和/或所述部件承载件结构(100)的边(121)与垫(152)的中心之间的边到垫距离(d1，d2，...dn)；
判定所形成的特征是否满足至少一个预限定几何标准；以及
根据判定的结果采取行动。


12.根据权利要求11所述的方法，其中，采取行动包括由以下各项组成的组中的至少一者：实施用于使在形成所述特征的未来程序中满足所述至少一个预限定几何标准的概率增大的自学习算法；停止制造程序；输出警告；以及提供用于使在形成所述特征的未来程序中满足所述至少一个预限定几何标准的概率增大的建议。


13.根据权利要求1至12中任一项所述的方法，其中，所述部件承载件结构(100)选自由以下各项组成的组：用于制造部件承载件(150)的板、多个部件承载件(150)的阵列或多个部件承载件(150)的预制件、以及用于承载至少一个部件(154)的部件承载件(150)。


14.根据权利要求1至13中任一项所述的方法，其中，所述方法是使用激光直接成像(LDI)设备来实施的。


15.根据权利要求1至14中任一项所述的方法，其中，所述方法包括：
在所述部件承载件结构(100)的多个层结构(106、10...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴昱辉，
申请(专利权)人：奥特斯科技重庆有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50