晶体管白噪声测试系统技术方案

本申请实施例提供一种晶体管白噪声测试系统，涉及半导体器件测试技术领域。该系统包括：控制单元、白噪声测试电路、待测试晶体管及白噪声采集与分析单元。控制单元控制待测试晶体管运动至白噪声测试电路的晶体管测试位点。白噪声测试电路包括晶体管测试位点、电压源、放大电路及白噪声采集端，白噪声测试电路用于将待测试晶体产生的白噪声进行放大输出给白噪声采集与分析单元，白噪声采集与分析单元对采集的白噪声进行分析。上述测试系统通过电压源为晶体管提供的反向偏置电压，利用该反向偏置电压击穿晶体管的PN结所产生的白噪声作为晶体管自身的白噪声源信号，对晶体管的白噪声进行测试分析，为晶体管工艺理论研发提供参考。

【技术实现步骤摘要】
晶体管白噪声测试系统
本申请涉及半导体器件测试
，具体而言，涉及一种晶体管白噪声测试系统。
技术介绍
白噪声作为晶体管本身固有的一项重要参数，在放大电路系统中对整机的信号噪声比具有较大影响，选择白噪声系数小的晶体管对于整机信号噪声比的降低具有深远意义。同时，在晶体管工艺研发过程中为晶体管白噪声系数的工艺调整及降低具有理论参考意义。如何对晶体管进行白噪声测试是本领域技术人员急需要解决的技术问题。需要说明的是，公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本申请的总体
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
为了克服上述技术背景中所提及的技术问题，本申请实施例提供一种晶体管白噪声测试系统。本申请提供的晶体管白噪声测试系统，包括：控制单元、白噪声测试电路、待测试晶体管及白噪声采集与分析单元；所述控制单元包括传动装置、滑轨及位于所述滑轨上的晶体管电极安装位点，所述传动装置控制所述滑轨运动，以使安装在所述晶体管电极安装位点的待测试晶体管运动至所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶体管白噪声测试系统，其特征在于，包括：控制单元、白噪声测试电路及白噪声采集与分析单元；/n所述控制单元包括传动装置、滑轨及位于所述滑轨上的晶体管电极安装位点，所述传动装置控制所述滑轨运动，以使安装在所述晶体管电极安装位点的待测试晶体管运动至所述白噪声测试电路的晶体管测试位点，并使所述待测试晶体管的电极与所述晶体管测试位点电性接触；/n所述白噪声测试电路包括晶体管测试位点、电压源、放大电路及白噪声采集端，所述电压源为位于所述晶体管测试位点的待测试晶体管提供反向偏置电压，以使所述待测试晶体管产生白噪声；所述放大电路的输入端与所述晶体管测试位点连接，用于对所述待测试晶体产生的白噪声进行放大...

【技术特征摘要】
1.一种晶体管白噪声测试系统，其特征在于，包括：控制单元、白噪声测试电路及白噪声采集与分析单元；
所述控制单元包括传动装置、滑轨及位于所述滑轨上的晶体管电极安装位点，所述传动装置控制所述滑轨运动，以使安装在所述晶体管电极安装位点的待测试晶体管运动至所述白噪声测试电路的晶体管测试位点，并使所述待测试晶体管的电极与所述晶体管测试位点电性接触；
所述白噪声测试电路包括晶体管测试位点、电压源、放大电路及白噪声采集端，所述电压源为位于所述晶体管测试位点的待测试晶体管提供反向偏置电压，以使所述待测试晶体管产生白噪声；所述放大电路的输入端与所述晶体管测试位点连接，用于对所述待测试晶体产生的白噪声进行放大；所述白噪声采集端与所述放大电路的输出端连接；
所述白噪声采集与分析单元和所述白噪声测试电路的白噪声采集端连接，用于对采集的白噪声进行分析。


2.如权利要求1所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述电压源包括步进可调电压源。


3.如权利要求1或2所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述待测试晶体管包括PNP双极型三极管和NPN双极型三极管。


4.如权利要求3所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述晶体管测试位点包括第一电阻、第一位点与第二位点；
在所述待测试晶体管为PNP双极型三极管时，所述待测试晶体管的发射极与所述第一位点电性连接，所述待测试晶体管的基极与所述第二位点电性连接；在所述待测试晶体管为NPN双极型三极管时，所述待测试晶体管的基极与所述第一位点电性连接，所述待测试晶体管的发射极与所述第二位点电性连接；
所述电压源的正极通过所述第一电阻与所述第二位点电性连接，所述电压源的负极与所述第一位点电性连接。


5.如权利要求4所述的晶体管白噪声测试系统，其特征在于，所述放大电路包括运算放大器...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜兰举，李强，
申请(专利权)人：吉林华微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：吉林;22