校正与折射率相关的像差的光学元件制造技术

用于校正与折射率相关的像差的光学元件（１），包括一流体腔室（５），其配备有电极结构（２，１２）并包括导电的第一流体（Ｂ）和不导电的第二流体（Ａ），以及流体之间的界面（１４），流体具有不同的色散系数。通过施加到电极结构（２，１２）上的电压（Ｖ）产生电润湿力，其使界面（１４，１４’）的形状发生变形并确定校正能力。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种对光学系统中与折射率相关的像差进行校正的光学元件。本专利技术还涉及一种包括这种元件的光学系统。与折射率相关的像差被理解为包括被称为色像差的由于光学元件使用的材料的折射率与波长相关造成的像差，和由于环境参数的变化例如温度的变化引起的折射率的变化所导致的像差。此光学系统具有不同的类型并且包括在许多应用中使用的透镜系统例如在照相机或显微镜中，或者在用于扫描光学记录载体的光学头中。如果在这样的光学系统中，使用不止一个波长的光辐射，将会出现色像差，其在此光学系统的性能上有非常显著的负面影响，也就是降低系统的性能。例如，没有很好地校正色像差的成像系统在例如电子传感器上生成一图像，不同颜色的子图像不能全部地焦点对准。这就导致了模糊的整体图像。光学记录领域出现了一个特有的问题，也就是利用光学头对光学记录载体的信息层分别读出和写入数据。如果在一蓝光二极管激光器的光头中，该激光器发出波长在405nm量级的激光束，在信息层中能形成一扫描点，其显著地小于由传统的红光二极管激光器形成的扫描点。使用带有蓝光二极管激光器的光头能读取的信息细节显著小于使用带有红光二极管激光器的传统的光头读取本文档来自技高网...

【技术保护点】
校正光学系统中与折射率相关的像差的光学元件（１），其特征在于它包括一流体腔室（５），其配备有电极结构（２，１２）并包括导电的第一流体（Ｂ）和不导电的第二流体（Ａ），以及流体之间的界面（１４），所述流体具有不同的色散系数并且该元件的校正能力可通过由施加在电极结构（２，１２）上的电压（Ｖ）产生的电润湿力来控制，并且使界面（１４，１４’）的形状变形。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：BHW亨德里克斯，S奎珀，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]