用于单纳米颗粒检测的装置制造方法及图纸

技术编号:2669254 阅读:138 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种适用于单纳米颗粒检测的光子晶体传感器。它可以检测非常小的单个颗粒和单个分子。该传感器可以适用于进行差动测量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于单纳米颗粒检测的装置
技术介绍
多种化学和生物学传感器是基于被分析物的光学、电化学或物理特性而存在的。光学传感器通常可以提供无损、高灵敏度的检测,并在被分析物与通常的水背景之间具有良好的辨别力。光学手段包括表面等离子体共振、采用两个波导支路的干涉测量、以及基于内反射的折射率测量。检测到的光学信号与在整个光学体积上平均的折射率成比例。在某些应用中,期望将用于分析的体积限制在小于1fL,以便即使在高浓度下也可以隔离出一个或多个分子。通常,用于光学传感器的分析体积不小于工作波长的立方,可能还要大得多。因此,对于通常为0.5μm到1.5μm的工作波长,分析体积超过了1fL。对于通常的光学传感器,探测光场成指数关系衰减,这可能影响光学传感器的响应度。
技术实现思路
根据本专利技术,可以通过引入晶格缺陷由二维光子晶体的晶格制成光子晶体传感器。这些二维光子晶体结构使得可以将光场限制在小于1fL的被分析物体积中,灵敏度扩展到了对单分子进行检测。附图说明图1示出了根据本专利技术的一种实施例。图2A示出对于TM偏振态,透射率/反射率随入射角的变化。图2B示出对于TE偏振态,透射率/反本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测单纳米颗粒的二维光子晶体传感器装置(900),包括:用于输入光的波导(920);和光耦合到所述波导(920)的光子晶体板(918),所述光子晶体板(918)由二维周期性晶格形式的空穴(905)穿过,所述二维周期性 晶格形式的空穴(905)包括晶格常数和缺陷空穴(910),所述缺陷空穴(910)被调整为适于检测所述单纳米颗粒,所述光子晶体板(918)能够从所述波导(920)接收所述光,并能够在工作波长处将所述光限制在所述缺陷空穴(910)中。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:安纳特斯C格洛特劳拉威尔斯米尔卡里米米哈伊尔M西加拉斯周启祥
申请(专利权)人:安捷伦科技有限公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1