光纤设备的光学特性检测方法、检测装置及检测系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种光纤设备的光学特性检测方法，该方法包括：把光纤设备的入射侧光纤连接到检测单元上的步骤；及把端面被切割成斜面的所述光纤设备的发射侧光纤连接到透射光接收器上的步骤，并选择性地进行：利用所述透射光接收器接收透射光的步骤；以及通过所述入射侧光纤并利用所述反射光接收器接收反射光的步骤。根据该方法可以轻易并迅速地进行光纤设备的透射光接收动作与反射光接收动作之间的转换，而且无需进行针对该端面的终端处理，因而可以简化检测所需的工序，提高工作效率。另外，本发明专利技术还提供了光纤设备的光学特性检测装置及光学特性检测系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤设备的光学特性检测方法、光学特性检测装置、以及光学特 性检测系统。
技术介绍
就现有的含光纤的光纤设备而言，在对其进行光纤之间的光轴调整工序、功 能部件与光纤及/或其他功能部件之间的光轴调整工序、或容纳光纤i殳备用外壳的 组装工序之后，还需要检测所述光纤设备的光学特性从而确认其性能。尤其是， 光透射光纤设备时的损失测量与光入射到光纤设备时的反射损耗测量，是制造光 纤设备后进行的常见且必不可少的光学特性检测项目。因而，在光纤设备中，为确认其性能而进行的光学特性检测中，特别是，光 透射光纤设备时的损失测量、以及光入射到光纤设备时的反射损耗测量是必不可 少的。具体地说，用于测量损失的;^测装置如图3所示，在应该进行特性检测的光 纤设备ll的入射側光纤lla上连接了作为检测光光源的激光光源12,以及在发 射侧光纤llb上连接了光接收器(功率测量计)13。而且，在求出从激光光源12 入射到光纤设备ll中的入射光量Pl的同时，再测量透射光纤设备ll并通 过光接收器13接收的发射光量P2，从而计算其差值Pl-P2。而该差 值Pl-P2即是光透射光纤设备11时的损失。另一方面，用于测量反射损耗的检测装置如图4所示，在应该进行特性检测 的光纤设备11的入射侧光纤lla上连接了反射测量用模块14，而该反射测量用 模块14中容纳有作为反射损耗测量用光源的激光光源与光接收器(功率测量计)。而且，在求出从反射测量用模块14入射到光纤设备11中的入射光量Pl的 同时，再测量被该光纤设备11反射的通过光接收器14接收的反射光量P3， 从而计算其差值pi- P3。该差值Pl- P3即是反射损耗量。另外，在图3、 4中示出的检测装置，具有把单芯的光纤设备11作为检测对 象的常见的测量装置。在该检测装置上连接光纤设备ll时，若该光纤设备ll构 成为具有连接器的结构(如参照专利文献l),则可以将连接器直接连接到激光光 源12、光接收器13、以及反射测量用模块14等的各个零部件上。相反地，若该 光纤设备11未构成为具有连接器的结构，则要考虑是否要把套圈分别临时安装到 光纤设备ll的光纤lla、 llb的各端部上(如参照专利文献2)、或是否要通过棵 光纤用适配器连接到各个部件上、再或者是否要通过直接融合方式把光纤lla、 llb的各端部连接到各零部件连接部上，等情况。如图4所示，当把单芯的光纤设备ll连接到反射损耗测量装置上时，虽然入 射侧光纤lla上连接有反射测量用模块14，但是发射侧光纤llb上却没有连接任 何部件。尤其是，当把最常见、廉价的用于接收来自光纤设备ll的全反射光的测 量装置作为反射测量用模块14使用时，需要对没有连接任何部件的发射侧光纤 llb的端部进行终端处理，以此防止在发射侧光纤llb端面上发生反射。常见的 终端处理有，把发射侧光纤lib的端面浸入到折射率与该发射侧光纤lib大致相 同的匹配油中的方法、或者4巴发射侧光纤llb巻绕在小径杆上的方法等。为了测 量反射损耗，这些终端处理是必不可少的工序。而且，在光纤设备ll的光学特性检测中，要求简化测量工序的同时，还希望 能通过1台检测装置轻易转换并迅速地进行多个检测。然而，如上所述，进行反 射损耗的测量时还需要进行发射侧光纤llb的终端处理，因而很难轻易转换并迅 速进行损失测量与反射损耗测量。有鉴于此，提供一种无需进行光纤的终端处理，能轻易转换并迅速地进行损 失测量与反射损耗测量的光纤设备的光学特性检测方法、光学特性检测装置以及 光学特性检测系统实为必要。
技术实现思路
根据本专利技术提供的一种光纤设备的光学特性检测方法，其包括有把作为检测上的步骤；及把端面被切割成斜面的所述光纤设备的发射侧光纤连接到透射光接 收器上的步骤，并选择性地进行利用所述透射光接收器接收从所述检测单元通 过其入射侧光纤入射到所述光纤设备中的检测光中透过该光纤设备及其发射侧光 纤的透射光的步骤；以及通过所述入射侧光纤并利用所述反射光接收器接收从所 述检测单元通过其入射侧光纤入射到所述光纤设备中的检测光中被该光纤设备反 射的反射光的步骤。根据此方法，可以在不必重新连接光纤的情况下完成透射光的接收与反射光 的接收。而且，接收反射光时也不必对发射侧光纤的端面进行终端处理。从而， 与在接收透射光与接收反射光时分别使用不同检测装置，并在接收反射时对发射 侧光纤的端面进行终端处理的情况相比较，此方法可以大幅度提高工作效率。检测单元构成为具备所述光源及所述反射光接收器的反射测量用模块与另一 光源连接到光开关上的结构，而通过该光开关的切换，可以选择性地进行利用所 述透射光接收器来接收所述透射光的步骤与利用所述反射光接收器来4妻收所述反 射光的步骤。由此，只通过光开关的切换操作即可轻易地进行如所述的接收透射 光与接收反射光之间的转换。而且，可以根据利用透射光接收器接收透射光的步骤来测量光纤设备造成的 损失，也可以根据利用反射光接收器接收反射光的步骤来测量光纤设备造成的反 射损耗。从而能容易检测光纤设备的重要的光学特性。对于光纤设备的发射侧光纤的端面，最好是以8度以上的角度切割其垂直于 长度方向的面。其次，根据本专利技术提供的一种光纤设备的光学特性检测装置，其包括具有检 测光光源及反射光接收器的检测单元、及透射光接收器，其中，所述检测单元可 以连接作为检测对象的光纤设备的入射側光纤，而所述透射光接收器可以连接所 述光纤设备中端面被斜切的发射侧光纤。所述检测单元可以组成为反射测量用模块与另一光源连接到光开关上的结 构，其中该反射测量用模块具备上述光源及反射光接收器。所述透射光接收器是通过接收透射光而测量光纤设备造成的损失的设备即可；而所述反射光接收器是通过接收反射光而测量由所述光纤设备造成的反射损 耗的设备即可。为了连接所述光纤设备发射侧光纤的在垂直于其长度方向的面上以8度以上 的角度被切割的端面，最好在所述透射光接收器上设置一适配器。再者，根据本专利技术提供的一种光纤设备的光学特性检测系统，其包括具有所 述任意一种结构的光纤设备的光纤特性检测装置、以及具有入射侧光纤与端面被 斜切的发射侧光纤的光纤设备。与现有技术相比较，本专利技术在一台检测装置上安装了光纤设备并在不改变连 接的状态下，就能进行透射光纤设备的透射光接收动作与被光纤设备反射的反射 光接收动作，因而可以简化检测所需的工序，提高工作效率。而且，由于光纤设 备的发射側光纤的端面被斜向切割，因此可以避免被该端面反射的光再次传播到 光纤中的现象。从而，无需再进行针对该端面的终端处理，进而提升工作效率的 同时，在进行反射光接收动作之后也可以迅速转换进行透射光的接收动作。附图说明图1是本专利技术一个实施例所述的光学特性检测装置的概略图。 图2是作为图1所示光学特性检测装置的检测对象的光纤设备之光纤端面的 放大图。图3是现有技术所述的光学特性检测装置的概略图。图4是现有技术中的一个实施例所述的光学特性检测装置的概略图。具体实施例方式下面，参照附图具体说明本专利技术的实施例。图1示出了本专利技术实施例提供的光纤设备的光学特性检测装置。本实施例提供的检测装置由检测单元1及光接收器(功率测量计)2组成。其中，检测装置1构成为作为光源的激光光源2与反射测量用模块4连接到光开关5上的结本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光纤设备的光学特性检测方法，其特征在于：包括把作为检测对象的光纤设备的入射侧光纤连接到具有检测光光源与反射光接收器的检测单元上的步骤；及把端面被切割成斜面的所述光纤设备的发射侧光纤连接到透射光接收器上的步骤，并选择性地进行：利用所述透射光接收器接收从所述检测单元通过其入射侧光纤入射到所述光纤设备中的检测光中透过该光纤设备及其发射侧光纤的透射光的步骤；以及通过所述入射侧光纤并利用所述反射光接收器接收从所述检测单元通过其入射侧光纤入射到所述光纤设备中的检测光中被该光纤设备反射的反射光的步骤。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：后藤正宪，深井勉，大西雅裕，
申请(专利权)人：新科实业有限公司，
类型：发明
国别省市：HK[中国|香港]