【技术实现步骤摘要】
氮化物半导体发光元件
本专利技术涉及氮化物半导体发光元件。
技术介绍
近年来,输出蓝色光的发光二极管、激光二极管等氮化物半导体发光元件已实用化,为了提高光输出,进行了各种搭配(例如,参照专利文献1)。专利文献1所记载的发光元件是在AlN系III族氮化物单晶上形成的发光波长为300nm以下的发光元件,其特征在于,具有:高浓度n型III族氮化物层;多量子阱结构,其包括n型或者i型的III族氮化物势垒层及n型或者i型的III族氮化物阱层;i型的III族氮化物最终阻隔层;p型III族氮化物层;以及电子阻挡层,其包括p型或者i型的AlN层,形成在上述i型III族氮化物最终阻隔层与上述p型III族氮化物层之间,对于上述i型III族氮化物最终阻隔层,上述电子阻挡层成为电子能量势垒,上述i型III族氮化物最终阻隔层的厚度设为2nm至10nm,上述n型或者i型的III族氮化物阱层的厚度设为2nm以下。现有技术文献专利文献专利文献1:特许第5641173号公报
技术实现思路
专 ...
【技术保护点】
1.一种氮化物半导体发光元件,其特征在于,具备:/nn型包覆层,其由n型AlGaN形成;以及/n活性层,其由AlGaN形成,位于上述n型包覆层上,/n在上述活性层内,存在上述n型包覆层和上述活性层被层叠的方向上的Si的浓度分布的局部性的峰。/n
【技术特征摘要】
20190606 JP 2019-1062761.一种氮化物半导体发光元件,其特征在于,具备:
n型包覆层,其由n型AlGaN形成;以及
活性层,其由AlGaN形成,位于上述n型包覆层上,
在上述活性层内,存在上述n型包覆层和上述活性层被层叠的方向上的Si的浓度分布的局部性的峰。
2.根据权利要求1所述的氮化物半导体发光元件,
上述活性层具有单量子阱结构,该单量子阱结构包括:1个势垒层,其由AlGaN形成,位于上述n型包覆层侧;以及1个阱层,其由具有比形成该1个势垒层的AlGaN的Al组分比小的Al组分比的AlGaN形成,
上述Si的浓度分布在上述1个阱层内具有上述峰。
3.根据权利要求1所述的氮化物半导体发光元件,
上述活性层具备多个势垒层,该多个势垒层包含:第1势垒层,其由具有从上述n型包覆层侧朝向上述活性层侧倾斜的Al组分比的AlGaN形成;以及第2势垒层,其由AlN形成,设置在上述第1势垒层上,
上述Si的浓度分布在上述多个势垒层内具有上述峰。
4.根据权利要求3所述的氮化物半导体发光元件,
上述多个势垒层还具备形成在上述第2势垒层上的第3势垒层,
上述Si的浓度分布在上述第2势垒层和上述第3势垒层的边界的附近具有上述峰。
5.根据权利要求4所述的氮化物半导体发光元件,
上述活性层还具备形成在上述第3势垒层上的1个阱层,
上述1个阱层具有3.0nm以上的厚度。
6.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员:松仓勇介,希利尔·贝诺,
申请(专利权)人:日机装株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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