紫外发光二极管及其制造方法技术

技术编号:26603530 阅读:17 留言:0更新日期:2020-12-04 21:27
公开了一种紫外发光二极管及其制造方法,包括:外延层,包括第一半导体层、多量子阱层以及第二半导体层;位于所述第二半导体层表面的透明导电薄膜;位于所述透明导电薄膜表面的反射镜层,其中,所述透明导电薄膜为具有导电性能的宽禁带介质薄膜。本申请的紫外发光二极管及其制造方法中,采用宽禁带材料代替ITO等材料,并通过电击穿工艺使宽禁带材料与P型半导体层形成欧姆接触,从而在实现紫外发光二极管良好的欧姆接触性能的同时具有高紫外透射率。

【技术实现步骤摘要】
紫外发光二极管及其制造方法
本专利技术涉及半导体芯片
,特别涉及一种紫外发光二极管及其制造方法。
技术介绍
紫外LED(发光二极管)具有体积小、能效高、坚固耐用、环保,电压低、寿命长等突出优点,取代汞灯等传统紫外光源已经是大势所趋,在消毒杀菌(200-280nm深紫外UVC波段)、农业及医疗(220-320nm中紫外UVB波段)、紫外固化、保密通讯、数据存储(320-400nm近紫外UVA波段)等领域具有广泛的应用前景。通过空气传播的病原微生物,例如流行性感冒病毒(流感)、鼻病毒(普通感冒)和更加危险的病原体(冠状病毒等),是导致许多疾病的原因。深紫外线能够穿透空气和水杀死其中的细菌,且深紫外LED具有小型化的特点,能够被安装在暖通空调的过滤系统、自来水出水口、加湿器水箱以及小型便携式消费装置内,具有十分广泛的应用场景。蓝绿光发光二极管技术已基本成熟,但紫外尤其是深紫外发光二极管技术还需要持续改善。首先其外延质量不够理想,缺陷密度高导致内量子效率较低;其次P型欧姆接触和透明导电层存在技术瓶颈,导致电光转化效率偏低;第三,随着量子阱中Al组份增加,深紫外LED出光以TM(TransverseMagnetic)横磁模式(平行于发光面)为主,TM光很难进入发光面的逃离锥出射到LED器件外,TM光提取效率仅为TE(Transverseelectrical)横电模式光提取效率的十分之一;这些问题严重制约深紫外发光二极管性能的提升。高Al组份AlGaN的Mg激活能较高,难以得到高空穴浓度的p-AlGaN层,因此多采用增加一层p-GaN作为欧姆接触层,然而p-GaN对深紫外光有高吸收性,最终会影响光的提取。常见的方法是在p-GaN/p-AlGaN层上采用NiAu、NiAl、Rh、ITO/Al等作为接触层及反射层,但如前所述其欧姆接触性能、反射及透射效果均不理想。宽禁带介质如Ga2O3(4.8eV),AlN(6.2eV)等材料,在紫外至深紫外波段均具有较高的透射率(大于80%),如果能够利用该类材料制备导电能力良好的薄膜,将会是一种理想的紫外和深紫外光电器件透明导电薄膜。
技术实现思路
鉴于上述问题,本专利技术的目的在于提供一种紫外发光二极管及其制造方法,采用宽禁带材料代替ITO等透明导电材料,并通过电击穿工艺使宽禁带材料与P型半导体层形成欧姆接触,从而在实现紫外发光二极管良好的欧姆接触性能的同时具有高紫外透射率。根据本专利技术的一方面,提供一种紫外发光二极管,包括:外延层,包括第一半导体层、多量子阱层以及第二半导体层;位于所述第二半导体层表面的透明导电薄膜;位于所述透明导电薄膜表面的反射镜层,其中,所述透明导电薄膜为具有导电性能的宽禁带介质薄膜。优选地,所述透明导电薄膜为介电击穿后的所述宽禁带介质薄膜。优选地,所述宽禁带介质薄膜的材料包括Ga2O3、Yb2O3、La2O3、HfO2、BN、SiN、ZrO2、AlN、MgO、Al2O3、SiO2中的任一种。优选地,所述宽禁带介质薄膜在紫外波段的透过率满足:50%≤透过率<100%。优选地,所述宽禁带介质薄膜的接触电阻率为10-6Ω·cm2~10-3Ω·cm2。优选地,所述宽禁带介质薄膜的禁带宽度为4.8eV~9.0eV。优选地,所述宽禁带介质薄膜的厚度为5nm~1000nm。优选地,还包括:第一电极,位于所述第一半导体层远离所述多量子阱层的表面,所述第一电极为N电极。优选地,所述第一半导体层远离所述多量子阱层的表面经过粗化处理。优选地,还包括:位于所述第一半导体层远离所述多量子阱层的表面的钝化层。优选地,还包括:位于所述反射镜层表面的键合层;位于所述键合层表面的第二衬底,所述第二衬底为P电极。优选地,还包括:位于所述反射镜层表面的保护层;第一电极,位于贯穿所述多量子阱层,所述第二半导体层,所述透明导电薄膜,所述反射镜层以及所述保护层的通孔中,位于所述第一半导体层与所述多量子阱层的表面。优选地,还包括:位于所述保护层表面与所述通孔侧壁的介质层,所述介质层隔开所述第一电极与所述多量子阱层,所述第二半导体层,所述透明导电薄膜,所述反射镜层以及所述保护层。优选地,还包括:位于台阶区域的第二电极,所述台阶区域位于半导体结构边缘部分且贯穿所述第一半导体层,所述多量子阱层,所述第二半导体层,所述透明导电薄膜以及所述反射镜层,所述台阶区域暴露所述保护层远离所述介质层的表面。优选地,还包括:侧壁反射层,位于所述台阶区域。优选地,还包括:钝化层,位于所述第一半导体层远离所述多量子阱层的表面,以及所述外延层、所述透明导电薄膜和所述反射镜层的侧壁。优选地,还包括:位于所述介质层表面和所述通孔中的键合层,与所述第一电极接触;位于所述键合层表面的第二衬底。优选地,所述第二衬底为N电极,所述第二电极为P电极。优选地,所述外延层还包括:位于所述第一半导体层表面的超晶格层,非故意掺杂层以及缓冲层。优选地,还包括:第一衬底,位于所述缓冲层表面。优选地,还包括:第一键合层和第二键合层,所述第一键合层和所述第二键合层分隔。优选地,所述第一键合层与所述第一电极接触,所述第二键合层贯穿所述介质层与所述保护层接触,所述第一键合层为N电极,所述第二键合层为P电极。优选地,所述第一半导体层为N型掺杂层,所述第二半导体层为P型掺杂层。根据本专利技术的另一方面,提供一种紫外发光二极管的制造方法,包括:在第一衬底上形成外延层,所述外延层包括第一半导体层、多量子阱层以及第二半导体层;在所述第二半导体层上形成宽禁带介质薄膜;将所述宽禁带介质薄膜转化成透明导电薄膜。优选地,所述宽禁带介质薄膜在紫外波段的透过率满足:50%≤透过率<100%。优选地,所述宽禁带介质薄膜的接触电阻率为10-6Ω·cm2~10-3Ω·cm2。优选地,所述宽禁带介质薄膜的禁带宽度为4.8eV~9.0eV。优选地,所述宽禁带介质薄膜的厚度为5nm~1000nm。优选地,将所述宽禁带介质薄膜转化成透明导电薄膜的步骤包括:在所述宽禁带介质薄膜的部分表面上形成金属层;向所述宽禁带介质薄膜和所述金属层施加电压,使得所述宽禁带介质薄膜发生介电击穿,形成透明导电薄膜;以及去除所述金属层。优选地,所述电压为脉冲电压或连续增加电压中的一种。优选地,所述介电击穿为正向击穿或反向击穿中的至少一种。优选地,所述电压为10V-20V。优选地,击穿电流为不大于100mA。优选地,所述外延层还包括:位于第一衬底和第一半导体层之间依次形成的缓冲层、非故意掺杂层和超晶格层。优选地,所述第一半导体层为N型掺杂层,所述第二半导体层为P型掺杂层。优选地,将所述宽禁带介质薄膜转化成透明导电薄膜的步骤之后,还包括:在所述透明导电薄膜的表面形成反射镜层和键合层,得到第一半导体结构;在第二衬底上形成键合层,得到第二半导体结构;将所述第一半导体结构和本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种紫外发光二极管,包括:/n外延层,包括第一半导体层、多量子阱层以及第二半导体层;/n位于所述第二半导体层表面的透明导电薄膜;/n位于所述透明导电薄膜表面的反射镜层,/n其中,所述透明导电薄膜为具有导电性能的宽禁带介质薄膜。/n

【技术特征摘要】
1.一种紫外发光二极管,包括:
外延层,包括第一半导体层、多量子阱层以及第二半导体层;
位于所述第二半导体层表面的透明导电薄膜;
位于所述透明导电薄膜表面的反射镜层,
其中,所述透明导电薄膜为具有导电性能的宽禁带介质薄膜。


2.根据权利要求1所述的紫外发光二极管,其中,所述透明导电薄膜为介电击穿后的所述宽禁带介质薄膜。


3.根据权利要求1所述的紫外发光二极管,其中,所述宽禁带介质薄膜的材料包括Ga2O3、Yb2O3、La2O3、HfO2、BN、SiN、ZrO2、AlN、MgO、Al2O3、SiO2中的任一种。


4.根据权利要求1所述的紫外发光二极管,其中,所述宽禁带介质薄膜在紫外波段的透过率满足:50%≤透过率<100%。


5.根据权利要求1所述的紫外发光二极管,其中,所述宽禁带介质薄膜的接触电阻率为10-6Ω·cm2~10-3Ω·cm2。


6.根据权利要求1所述的紫外发光二极管,其中,所述宽禁带介质薄膜的禁带宽度为4.8eV~9.0eV。


7.根据权利要求1所述的紫外发光二极管,其中,所述宽禁带介质薄膜的厚度为5nm~1000nm。


8.根据权利要求1所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
第一电极,位于所述第一半导体层远离所述多量子阱层的表面,所述第一电极为N电极。


9.根据权利要求8所述的紫外发光二极管,其中,所述第一半导体层远离所述多量子阱层的表面经过粗化处理。


10.根据权利要求8所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
位于所述第一半导体层远离所述多量子阱层的表面的钝化层。


11.根据权利要求8所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
位于所述反射镜层表面的键合层;
位于所述键合层表面的第二衬底,所述第二衬底为P电极。


12.根据权利要求1所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
位于所述反射镜层表面的保护层;
第一电极,位于贯穿所述多量子阱层,所述第二半导体层,所述透明导电薄膜,所述反射镜层以及所述保护层的通孔中,位于所述第一半导体层与所述多量子阱层的表面。


13.根据权利要求12所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
位于所述保护层表面与所述通孔侧壁的介质层,所述介质层隔开所述第一电极与所述多量子阱层,所述第二半导体层,所述透明导电薄膜,所述反射镜层以及所述保护层。


14.根据权利要求13所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
位于台阶区域的第二电极,所述台阶区域位于半导体结构边缘部分且贯穿所述第一半导体层,所述多量子阱层,所述第二半导体层,所述透明导电薄膜以及所述反射镜层,所述台阶区域暴露所述保护层远离所述介质层的表面。


15.根据权利要求14所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
侧壁反射层,位于所述台阶区域。


16.根据权利要求14所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
钝化层,位于所述第一半导体层远离所述多量子阱层的表面,以及所述外延层、所述透明导电薄膜和所述反射镜层的侧壁。


17.根据权利要求14所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
位于所述介质层表面和所述通孔中的键合层,与所述第一电极接触;
位于所述键合层表面的第二衬底。


18.根据权利要求17所述的紫外发光二极管,其中,所述第二衬底为N电极,所述第二电极为P电极。


19.根据权利要求13所述的紫外发光二极管,其中,所述外延层还包括:
位于所述第一半导体层表面的超晶格层,非故意掺杂层以及缓冲层。


20.根据权利要求19所述的紫外发光二极管,其中,还包括:
第一衬底,位于所述缓冲层表面。


21.根据权利要求19所述的紫外发光二极管,其中,还包括:第一键合层和第二键合层,所述第一键合层和所述第二键合层分隔。


22.根据权利要求21所述的紫外发光二极管,其中,所述第一键合层与所述第一电极接触,所述第二键合层贯穿所述介质层与所述保护层接触,所述第一键合层为N电极,所述第二键合层为P电极。


23.根据权利要求1所述的紫外发光二极管,其中,所述第一半导体层为N型掺杂层,所述第二半导体层为P型掺杂层。


24.一种紫外发光二极管的制造方法,包括:
在第一衬底上形成外延层,所述外延层包括第一半导体层、多量子阱层以及第二半导体层;
在所述第二半导体层上形成宽禁带介质薄膜;
将所述宽禁带介质薄膜转化成透明导电薄膜。


25.根据权利要求24所述的制造方法,其中,所述宽禁带介质薄膜在紫外波段的透过率满足:50%≤透过率<100%。


26.根据权利要求24所述的制造方法,其中,所述宽禁带介质薄膜的接触电阻率为10-6Ω·cm2~10-3Ω·cm2。


27.根据权利要求24所述的制造方法,其中,所述宽禁带介质薄膜的禁带宽度为4.8eV~9.0eV。


28.根据权利要求24所述的制造方法,其中,所述宽禁带介质薄膜的...

【专利技术属性】
技术研发人员:范伟宏薛脱李东昇马新刚赵进超李超高默然
申请(专利权)人:厦门士兰明镓化合物半导体有限公司杭州士兰明芯科技有限公司
类型:发明
国别省市:福建;35

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