可变保持时间模式分析方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种可变保持时间模式分析方法、装置、设备及可读存储介质。所述方法包括：依次对存储器中的各存储单元进行预设测试次数的保持时间测试；针对每个所述存储单元，将各所述保持时间测试中的各所述测试结果，转换为相应存储单元的可变保持时间图像；以及通过模式识别的方法，对各所述存储单元的所述可变保持时间图像进行分类，以获得各所述存储单元的可变保持时间的模式类型。根据本发明专利技术提供的可变保持时间模式分析方法，可以精确地确定各存储单元的可变保持时间关于测试次数的变化特征，同时可以有效地反映整个存储器上所有存储单元的可变保持时间存在多少种模式。

【技术实现步骤摘要】
可变保持时间模式分析方法、装置、设备及可读存储介质
本专利技术涉及存储器测试领域，具体而言，涉及一种可变保持时间模式分析方法、装置、设备及可读存储介质。
技术介绍
对于易失性存储器例如动态随机存储器(DRAM)，如图1所示，存储单元40由一个晶体管402和一个电容器404组成，其中字线(WL)上的电压VPP控制晶体管402的开关。当存储单元的晶体管402开启后，存储单元位线(BL)上的电压VBL对存储单元的电容器404充电；当存储单元的晶体管402关闭后，电容器404将随时间而漏电。存储器的保持时间就是电容器404在一定时间的漏电后，仍能保持原来信号的准位，而不会造成读取数据失效的有效时间。存储器的制造过程中会有工艺上的偏差，导致有些电容器的保持时间会随着测试时间的增加产生变化，因而导致存储器具有可变保持时间(VariableRetentionTime,VRT)问题。存储器的数据保持时间随时间的波动被称之为存储器的可变保持时间。波动通常包括通过状态和失效状态两种，且两种状态的时间振幅一定。一般情况下，通过状态的持续时间长，失效状态的持续本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可变保持时间模式分析方法，其特征在于，所述方法包括：/n依次对存储器中的各存储单元进行预设测试次数的保持时间测试，每次所述保持时间测试包括：/n获取测试数据图案；/n按照所述测试数据图案，依次对各所述存储单元进行预设读写次数的读写操作，以分别获得每次所述读写操作的各所述存储单元的测试结果，每次所述读写操作对应于不同的暂停时间；/n针对每个所述存储单元，将各所述保持时间测试中的各所述测试结果，转换为相应存储单元的可变保持时间图像；以及/n通过模式识别的方法，对各所述存储单元的所述可变保持时间图像进行分类，以获得各所述存储单元的可变保持时间的模式类型。/n

【技术特征摘要】
1.一种可变保持时间模式分析方法，其特征在于，所述方法包括：
依次对存储器中的各存储单元进行预设测试次数的保持时间测试，每次所述保持时间测试包括：
获取测试数据图案；
按照所述测试数据图案，依次对各所述存储单元进行预设读写次数的读写操作，以分别获得每次所述读写操作的各所述存储单元的测试结果，每次所述读写操作对应于不同的暂停时间；
针对每个所述存储单元，将各所述保持时间测试中的各所述测试结果，转换为相应存储单元的可变保持时间图像；以及
通过模式识别的方法，对各所述存储单元的所述可变保持时间图像进行分类，以获得各所述存储单元的可变保持时间的模式类型。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试数据图案包含多个目标数据，每个所述目标数据对应于一个所述存储单元；按照所述测试数据图案，依次对各所述存储单元进行预设读写次数的读写操作包括：
在每次所述读写操作中，按照所述测试数据图案在各所述存储单元中写入相应的目标数据；
暂停预设的所述暂停时间；
分别从各所述存储单元中读出结果数据；
当一个所述存储单元写入的所述目标数据与所述结果数据相同时，确定该存储单元本次读写操作的所述测试结果为通过测试；当一个所述存储单元写入的所述目标数据与所述结果数据不相同时，确定该存储单元本次读写操作的所述测试结果为未通过测试；以及
记录并存储各所述存储单元每次读写操作的所述测试结果。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述针对每个所述存储单元，将各所述保持时间测试中的各所述测试结果，转换为相应存储单元的可变保持时间图像包括：
在每次所述保持时间测试中，按照所述预设读写操作次数的所述读写操作的时间顺序，确定出第一个未通过测试的测试结果对应的有效暂停时间为该存储单元在该次所述保持时间测试中获取的保持时间；以及
根据所述保持时间及对应所述保持时间测试的次数，获得相应存储单元的可变保持时间图像。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设读写次数的读写操作对应的暂停时间分别为：t1,t2,t3,……,tM，其中t1＝1*a,t2＝2*a,t3＝3*a,......,tM＝M*a，a为预设常量，M为大于0的整数。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述通过模式识别的方法，对各所述存储单元的所述可变保持时间图像进行分类，以获得各所述存储单元的可变保持时间的模式类型之后，所述方法还包括：根据获得的各所述存储单元的可变保持时间的模式类型，对所述存储器进行缺陷分析。


6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模式识别的方法包括：聚类分析法。


7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述存储器为动态随机存储器。


8.一种可变保持时间模式分析装置，其特征在于，所述装置包括：
时间测试模块，用于依次对存储器中的各存储单元进行预设测试次数的保持时间测试，包括：
图案获取单元，用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨正杰，王伟洲，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34