测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及检测被光束内的物体（５０，图１）中断的辐射光束（２０，图２）类型的测量装置（５）。该装置包括被包围在壳体（１０）和（３０）中的光线发射器（１２）和光线检测器（３２）。为了适应壳体间的不同距离，具有不同尺寸孔隙（１１）的盖子（１４）可安装在壳体上。这使不同的光线量能被发出和／或检测。本发明专利技术还公开了其他方式的调节穿过盖子的光线量的方法。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量装置的操作，该装置采用间断或恢复辐射光束来检测物体，本专利技术特别但不局限于涉及一种用作切削工具检测器的测量装置，该检测器具有用于传送辐射光束的发射机和与该发射机隔开的用于检测发射光束的发射检测机。
技术介绍
所述类型的测量装置是已知的。在美国专利6,496,273中公开了一种这样的装置。所述的光学设备主要用于机床上的切削刀具，并且能够进行非常精确的测量。为了提高所述专利中的装置的多功能性，需要光线传送机和光线检测机放置的距离可变化。大型工具需要传送机和检测机之间的距离比小型工具需要的距离更大，以便大型工具可以安装在传送机与检测机之间。大型机床可需要传送机与检测机之间的较大距离，以便可以在光束内的任何位置测量工具，在该位置光束无需贯穿工具纵向长度至特定测量位置。小型机床不具有包括长度测量装置的距离，所述测量装置在传送机与检测机之间的距离很大。当传送机与检测机之间的距离变化时，需要对检测机的放大器的增益进行后续调节。实践中，通过移动盖子来接近检测机壳体内的开关从而调节增益，这些开关用于根据检测机与传送机之间的距离选择需要的增益。当使用者不能准确移动盖子或者使壳本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在机器中使用并用于检测中断辐射光束（２０）的物体（５０）的测量装置（５），该装置包括：发射器（１２），具有用于发射辐射光束（２０）的辐射发射器；检测器（３２），具有用于检测辐射光束（２０）的辐射检测器；并且发射器 或检测器中的至少一个具有辐射限止器（１４），该限止器限制到达检测器的辐射量，辐射限止器包括用于改变到达检测器的辐射量的调节件（１１）。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：维克托戈登斯廷普森，本杰明贾森梅里菲尔德，
申请(专利权)人：瑞尼斯豪公司，
类型：发明
国别省市：GB[英国]