管道内表面放射性污染测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种管道内表面放射性污染测量装置，本实用新型专利技术的放射性污染测量装置包括电流收集极、高压电极、变径保护环、绝缘子和不锈钢外壳。不锈钢外壳与绝缘子固定连接，电流收集极设置于绝缘子的中心轴线上，变径保护环与绝缘子过盈配合。本实用新型专利技术的测量过程是，将被测管道的管壁作为电离室的室壁，对其施加饱和的工作电压，通过本实用新型专利技术的管道内表面放射性污染测量装置中的电流收集极收集放射性核素在管道内产生的电离电荷，将放射性活度的测量转换成管道饱和电流的测量，由测量得到的电流数据计算出管道内表面平均的污染水平。本实用新型专利技术具有测量速度快，准确度高的特点。可方便快速地测量出被污染管道内表面的平均污染水平。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于处理放射性污染材料及其去污装置领域，具体涉及一种金属管道内表面 放射性污染测量装置，尤其适用于经过去污后管道内表面放射性污染测量，可为管道内表面 污染水平是否达到清洁解控要求提供判别依据。技术背景在核设施退役过程中，针对直径较小的(〈150rnrn)放射性污染管道去污后内表面污染水 平的测量方法主要有两种直接测量法和间接测量法。直接测量法即使用普通的表面污染测量仪对其内表面的放射性进行直接测量。直接测量 存在如下的问题 一是表面污染测量仪的探头只能置于开口处而不能伸入内部，二是管道内 弧型结构和平面探头测量窗不能吻合，其修正过程也十分复杂。三是判断一根管道内表面整 体污染水平，必须将管道剖开后进行多点测量。这些原因导致了测量结果不能真实地反映放 射性污染管道内表面的活度和表面污染水平。间接测量即化学擦拭取样分析法。擦拭法是对管道内表面进行局部擦拭取样、通过化学 处理和放化分析对管道内的残留量进行估算。间接测量方法目前在国内核设施退役源项调查 过程管道内的放射性物质分布是不均匀的。另外擦拭效率依赖于被擦拭表面粗糙程度、污染 物化学结合程度和擦拭人员进行擦拭动作的个人差异本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种管道内表面放射性污染测量装置，其特征在于：所述的测量装置包括电流收集极（３）、高压电极（１）、变径保护环（２）、绝缘子（４）和不锈钢外壳（１１）；其连接关系是，所述的不锈钢外壳（１１）为一端开口的圆柱壳体，不锈钢外壳（１１）的顶部设置有电流收集极插座（８）和高压电源插头（７），不锈钢外壳（１１）通过固定螺钉与圆柱形绝缘子（４）固定连接；绝缘子（４）内端与不锈钢外壳（１１）之间有一空间，绝缘子（４）外端径向固定设置有环形高压电极（１）；电流收集极（３）设置于绝缘子（４）的中心轴线上，电流收集极（３）的一端通过螺帽（５）与绝缘子（４）固定连接，另一端露于绝缘子（４）之外；电流收集极（３）与不锈...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：常瑞敏，蒋聪明，谭昭怡，张东，雷家荣，马俊格，陈志林，贺月红，穆龙，凃俊，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院核物理与化学研究所，
类型：实用新型
国别省市：51[中国|四川]