测量低能β射线用的自动效率示踪法制造技术

技术编号:2657930 阅读:183 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术为测量低能β辐射体之辐射活性的方法,从标准样品的计数效率和被测样品的计数率间之关系导出回归式,经过种种校正,使以住之自动效率跟踪法难于测量低能β辐射体洗性的缺点获得解决,达到可能测量的新方法。(*该技术在2008年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术是关于放射线的测量方法在已往三十年中,应用液体闪烁计数器,进行放射性测量,实际上能测量的原子核种类,只限于氚和碳-14。用液体闪烁计数器来测定放射性时,可采用外推标准法或样品通道比较法。使用这些方法时,需要有一系列的,具有相同辐射活性,而淬灭程度不同的多个标准淬灭样品,制成淬灭校正曲线来定量放射性。但是市场上,只能买到氚和碳-14的淬灭样准样品,其他核素,因为半衰期短、没有标准淬灭样品可供使用,自制标准样品,虽非不可能,但存在着各种各样的困难。由于上述理由,液体闪烁计数器,只是用来测量氚和碳-14的辐射活性,而对其他的放射性核素,只能测量其计数率。为了消除上述缺点,近年来日本研制了,能测定多种纯β辐射体和β-γ辐射体的放射性的自动效率示踪法。(参见专利申请号59-028678;HIshikawa.etal.Iut.J.Appl.Radia.Isst.Vol135,463(1984))以往的自动效率示踪法有以下内容。附图说明图1表示在液体闪烁计数器内藏的多道脉冲幅度分析器,其储存器中标准样品的能谱1和被测样品放射性的能谱2。在图1中,分别设定N1,N2,…Nm为下限的道本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量低能β射线用自动效率示踪法,其特征在于,用液体闪烁体测量低能β辐射体时,采用在所用的测量窗范围内,最高计数效率在85%以下的标准样品,在脉冲幅度分析器的上限和下制间,确定几个测量窗,同时测得标准样品在各测量窗的计数效率,并以修正系数,对计数率作修正,而得到修正后的计数效率,再在与测定标准样品相同的测量窗中,同时测得被测样品在各测量窗的计数值,并用修正系数加以修正,而得到修正后的计数值,用上述修正后的计数效率和修正后的计数值,决定回归式,再由另一个标准样品所得的修正系数,对在上述回归式的计数效率为100%时的计数值加以修正,所得的修正值即为被测试样的辐射活度。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:石河宽昭
申请(专利权)人:日本科学株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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