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本发明为测量低能β辐射体之辐射活性的方法，从标准样品的计数效率和被测样品的计数率间之关系导出回归式，经过种种校正，使以住之自动效率跟踪法难于测量低能β辐射体洗性的缺点获得解决，达到可能测量的新方法。...
该专利属于日本科学株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本科学株式会社授权不得商用。

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