监测电离辐射的装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种检测和监测电离辐射（例如核辐射）的方法。该方法包括，提供一个具有浓度不超过２０ｐｐｍ的氮的金刚石辐射检测器元件，使该检测器元件对磷光的响应最佳，并且将该检测器元件曝露在电离辐射中，然后监测检测器元件产生的磷光响应，通常是监测至少２０秒的时间。本发明专利技术还扩展到检测器元件本身和采用该检测器的装置。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测和监测电离辐射的方法和装置。根据本专利技术的检测和监测电离辐射的方法包括提供一个金刚石辐射检测器元件，该检测器元件含有浓度不超过20ppm的顺磁介质氮，该检测器元件对磷光响应是最优化的，将该检测器元件曝露在电离辐射中，然后监测该检测器元件对由于电离辐射引起的磷光的响应。最好，对检测器元件的磷光响应进行监测的时间至少为一秒。对磷光响应可以监测至少20秒时间，最好至少为60秒时间。可以借助产生一个同检测器元件发射的光有关的电信号将所述的发射光放大，这个电信号的大小代表了入射辐射的强度。可以对于这个电信号在一个预定时间内进行积分。另外，可以将这个信号显示为一个时间的函数。本专利技术的监测电离辐射的检测器元件包含一个金刚石物体，该金刚石物体含有不超过20ppm浓度的顺磁介质氮，该金刚石物体对磷光响应是最优化的。金刚石物体中所含的顺磁介质氮的浓度最好是10ppm或更小。该金刚石物体可以含有作为杂质的硼。硼的浓度最好为20ppm或更少。该金刚石物体最好含有浓度在10和100ppm之间的Ⅷ族元素。该Ⅷ族元素可以包括铁、钴、镍三者之一、之二或全部。在这个方法的一个实施例中，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测和监测电离辐射的方法，包括：提供一个含有浓度不超过２０ｐｐｍ的顺磁介质氮的金刚石辐射检测器元件，使该辐射检测器元件对磷光的响应最佳，将该检测器元件曝露到电离辐射中并监测由于电离辐射引起的检测器元件的磷光响应。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：TL南，S阿赖库姆，RJ凯迪，
申请(专利权)人：德比尔斯工业钻石部门有限公司，
类型：发明
国别省市：ZA[南非]