校正由延时的信号再现引起的放射线探测器误差的方法技术

本发明专利技术涉及一种用于校正由余辉引起的Ｘ射线探测器误差的方法，其中通过在时刻ｎ从测量的输出信号Ｏ↓［ｎ］中减去一分量来确定时刻ｎ的实际强度Ｉ↓［ｎ］，以及其中，所述分量根据多个在所述时刻ｎ之前测量的输出信号（Ｏ↓［ｎ－１］，Ｏ↓［ｎ－２］，Ｏ↓［ｎ－３］）确定。优选根据下列关系式进行所述校正：（１）Ｉ↓［ｎ］＝Ｏ↓［ｎ］－＊λ↓［ｋ］Ｌ↓［ｎ－１］↑［ｋ］；其中，（２）Ｌ↓［０］↑［ｋ］＝０；ｋ＝１…ｋ；（３）Ｌ↓［ｎ］↑［ｋ］＝（１－λ↓［ｋ］）Ｌ↓［ｎ－１］↑［ｋ］＋μ↓［ｋ］Ｉ↓［ｎ］；Ｋ＝１…ｋ。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种校正由延时的信号再现引起的X射线探测器误差的方法。本专利技术还涉及一种用于实施该方法的合适的X射线探测器。
技术介绍
在X射线计算机断层造影中，采用了在一个平面上设置多个单探测器元件的X射线探测器。每个探测器元件都在其朝向X射线源的一侧具有一个安装在光电二极管上的闪烁器。投射在探测器元件上的X射线光束被闪烁器吸收。所吸收的X射线光束被转换为光。光的强度是一种对X射线强度的量度，可借助光电二极管测量。尤其是在X射线计算机断层造影中，在400μs到30ms的非常短的时间间隔内查询由X射线探测器测量的X射线强度并进行存储。最后根据X射线探测器测量的强度分布，借助合适的算法计算出图像。不考虑在起始时刻的测量，X射线探测器在进一步的测量过程中显示出太高的X射线强度。在进一步测量过程中采集的X射线强度由测量时刻实际通过吸收的X射线光束引起的X射线强度和其它X射线强度组成，该其它X射线强度是由以前投射在X射线探测器上的X射线光束因材料引起的余辉所导致的。很明显，由余辉引起的误差会在测量X射线强度时传播，并导致在计算图像时出现误差。为了测量X射线强度也可以采用半导体探测器。在此本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于校正由延时的信号再现、尤其是由余辉引起的Ｘ射线探测器误差的方法，其中，通过在时刻ｎ从测量的输出信号Ｏ↓［ｎ］中减去一分量来确定时刻ｎ的实际强度Ｉ↓［ｎ］，以及其中，所述分量根据多个在所述时刻ｎ之前测量的输出信号（Ｏ↓［ｎ－１ ］，Ｏ↓［ｎ－２］，Ｏ↓［ｎ－３］）确定。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：卡尔斯蒂尔斯托弗，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]