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本发明涉及一种用于校正由余辉引起的Ｘ射线探测器误差的方法，其中通过在时刻ｎ从测量的输出信号Ｏ↓［ｎ］中减去一分量来确定时刻ｎ的实际强度Ｉ↓［ｎ］，以及其中，所述分量根据多个在所述时刻ｎ之前测量的输出信号（Ｏ↓［ｎ－１］，Ｏ↓［ｎ－２］，Ｏ↓...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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