一种同时扫描与分幅X光测量系统技术方案

本发明专利技术公开了一种同时扫描与分幅X光测量系统，该系统包括双通道X射线成像系统、透射式X射线编码板和X射线条纹相机以及与X射线条纹相机相连接的解码器。本发明专利技术的同时扫描与分幅X光测量系统，能够从同一视角采用同一记录系统同时记录待测目标的一维连续变化过程图像和二维分幅图像，具有结构紧凑、占用空间小、扫描图像和分幅图像时间关联精度高的优点，在激光惯性约束聚变物理实验研究中具有广阔应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种同时扫描与分幅X光测量系统
本专利技术属于激光聚变研究领域和X射线探测领域，具体涉及一种同时扫描与分幅X光测量系统。
技术介绍
在激光惯性约束聚变物理实验研究中，通常采用X光条纹相机和X光分幅相机对待测目标的时空演化过程进行精密测量。X射线条纹相机可以对待测目标发出的X光的一维变化过程进行连续扫描测量，从而可以得出待测目标的运动速度信息，但X光条纹相机不具备二维空间分辨，无法对待测目标发出的X光进行分幅测量而给出待测目标的二维空间分布状态。X光分幅相机是一种具有二维空间分辨的测量设备，可以对待测目标发出的X光进行分幅测量而获得待测目标某些时刻点的二维空间分布状态。但是X光分幅相机的成像幅数少，每幅图像之间时间间隔大，又无法获得待测目标的连续时间变化过程，只能给出在某些分离时刻的状态，而无法给出待测目标的运动速度。因此，通常需要同时采用X光条纹相机和X光分幅相机从不同位置对待测目标状态进行联合诊断，这虽能同时给出待测目标的运动速度和二维空间分布状态，但存在占用靶室空间大、各测量设备之间视差大等问题，并且由于分别采用各自的记录设备对图像进行记录本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种同时扫描与分幅X光测量系统，其特征在于：所述的系统包括依次排布、且相互平行的双通道X射线成像系统(2)、透射式X射线编码板(3)和X射线条纹相机(4)以及与X射线条纹相机(4)相连接的解码器(5)，其中，透射式X射线编码板(3)放置于X射线条纹相机(4)的阴极前方；/n所述的双通道X射线成像系统(2)包括沿垂直于X射线条纹相机(4)扫描方向顺序排列的成像系统I(6)和成像系统II(7)；/n所述的X射线条纹相机(4)的阴极包括沿垂直于X射线条纹相机(4)扫描方向顺序排列的窄狭缝阴极(9)和宽狭缝阴极(8)；/n所述的透射式X射线编码板(3)不遮挡窄狭缝阴极(9)；/n所述的透射式X射线...

【技术特征摘要】
1.一种同时扫描与分幅X光测量系统，其特征在于：所述的系统包括依次排布、且相互平行的双通道X射线成像系统(2)、透射式X射线编码板(3)和X射线条纹相机(4)以及与X射线条纹相机(4)相连接的解码器(5)，其中，透射式X射线编码板(3)放置于X射线条纹相机(4)的阴极前方；
所述的双通道X射线成像系统(2)包括沿垂直于X射线条纹相机(4)扫描方向顺序排列的成像系统I(6)和成像系统II(7)；
所述的X射线条纹相机(4)的阴极包括沿垂直于X射线条纹相机(4)扫描方向顺序排列的窄狭缝阴极(9)和宽狭缝阴极(8)；
所述的透射式X射线编码板(3)不遮挡窄狭缝阴极(9)；
所述的透射式X射线编码板(3)、宽狭缝阴极(8)的宽度均大于待测目标的宽度×成像系统II(7)的放大倍数，二者长度均大于待测目标的长度×成像系统II(7)的放大倍数。


2.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：李晋，张兴，王峰，杨志文，胡昕，董建军，黎宇坤，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心，
类型：发明
国别省市：四川;51