单晶小硅块的拼接切割方法技术

技术编号:26490412 阅读:26 留言:0更新日期:2020-11-27 15:15
本发明专利技术公开了单晶小硅块的拼接切割方法,将单晶边皮切割出长方体状单晶小硅块,将单晶小硅块拼接后再切片出单晶硅片。本发明专利技术将单晶小硅块拼接处理后再进行切片,可提高加工效率,提高产能。本发明专利技术将单晶小硅块拼接后再进行切片,使得无需投入大量设备的前提下,就可以满足硅片加工,同时提高产能,大大降低了固定资产的投入。本发明专利技术将加工单晶小硅块的方式由单排改进为拼接,单刀产能提升50%,设备投入数量相应降低50%,同时加工硅片过程中所使用的辅材、耗能、人工成本也降低。

【技术实现步骤摘要】
单晶小硅块的拼接切割方法
本专利技术涉及单晶小硅块的拼接切割方法。
技术介绍
“降本增效”一直是光伏制造的最大主题,单晶硅棒开方后产生单晶边皮,如果将单晶边皮料进一步加工切片,可达到废物利用的目的。可先将单晶边皮切割出长方体状单晶小硅块,再对单晶小硅块进行切片,但目前对单晶小硅块的加工效率不高,产能低。
技术实现思路
为解决现有技术的缺陷,本专利技术提供一种单晶小硅块的拼接切割方法,将单晶边皮切割出长方体状单晶小硅块,将单晶小硅块拼接后再切片出单晶硅片。优选的,将至少两个单晶小硅块层叠粘接后再切片。具体的,将至少两个单晶小硅块层叠拼接,且各单晶小硅块的长度方向相互平行,相邻两单晶小硅块的接触处采用胶水粘接固定,使单晶小硅块拼接为长方体状单晶大硅块,便于切割,提升产能,对单晶大硅块进行切片,切片方向与各单晶小硅块的长度方向垂直,切片得到单晶硅片。优选的,将至少两个单晶小硅块并排粘接后再切片。具体的,将至少两个单晶小硅块水平拼接,且各单晶小硅块的长度方向相互平行,相邻两单晶小硅块的接触处采本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,将单晶边皮切割出长方体状单晶小硅块,将单晶小硅块拼接后再切片出单晶硅片。/n

【技术特征摘要】
1.单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,将单晶边皮切割出长方体状单晶小硅块,将单晶小硅块拼接后再切片出单晶硅片。


2.根据权利要求1所述的单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,将单晶小硅块层叠粘接后再切片。


3.根据权利要求2所述的单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,将至少两个单晶小硅块层叠拼接,且各单晶小硅块的长度方向相互平行,相邻两单晶小硅块的接触处采用胶水粘接固定,使单晶小硅块拼接为长方体状单晶大硅块,对单晶大硅块进行切片,切片方向与各单晶小硅块的长度方向垂直,切片得到单晶硅片。


4.根据权利要求1所述的单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,将单晶小硅块并排粘接后再切片。


5.根据权利要求4所述的单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,将至少两个单晶小硅块水平拼接,且各单晶小硅块的长度方向相互平行,相邻两单晶小硅块的接触处采用胶水粘接固定,使单晶小硅块拼接为长方体状单晶大硅块,对单晶大硅块进行切片,切片方向与各单晶小硅块的长度方向垂直,切片得到单晶硅片。


6.根据权利要求1所述的单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,将单晶小硅块拼接之前,先对单晶小硅块进行磨面处理。


7.根据权利要求1所述的单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,将单晶小硅块拼接之前,先对单晶小硅块进行倒角处理。


8.根据权利要求2至5中任一项所述的单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,对切片出的单晶硅片进行脱胶清洗。


9.根据权利要求1所述的单晶小硅块的拼接切割方法,其特征在于,包括如下步骤:
1)将单晶边皮截断成边皮小段;
2)切除边皮小段两侧的尖角...

【专利技术属性】
技术研发人员:季建岳维维曹育红
申请(专利权)人:常州时创能源股份有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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