一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统，包括输气管路、高压管路、低压管路、进气管路和被测杜瓦；所述输气管路的一端连通高压氮气气源，输气管路的另一端通过三通分别连通有高压管路和低压管路，高压管路和低压管路的末端通过三通连通有进气管路，进气管路与被测杜瓦连通；本发明专利技术解决了杜瓦芯片疲劳试验中快速降温、升温问题，缩短升温时间，实现了杜瓦芯片可重复性工作次数的快速检测，极大的提高了研发时间和促进了产品的生产效率，具有革新性和广阔的使用空间，能够产生较高的经济效益。

【技术实现步骤摘要】
一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统和方法
本专利技术涉及气动控制
，具体为一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统和方法。
技术介绍
杜瓦瓶也叫保温瓶，是储藏液态气体、低温研究和晶体元件保护的一种较理想容器和工具。附图2所示，杜瓦芯片位于毛细管下部，当高压常温气体进入毛细管时，由于节流作用，杜瓦芯片周围气体温度降低，进而起到冷却杜瓦芯片的作用。同时，杜瓦芯片内部嵌有测温二极管，实时监测杜瓦芯片温度。由于毛细管和杜瓦外部均为隔热透明玻璃，杜瓦芯片温度自然升到常温时，过程较为缓慢，约1小时左右，试验效率低下，严重制约了生产进度，亟需快速将杜瓦芯片温度上升到常温，以缩短试验时间，提高工作效率。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统和方法，解决了杜瓦芯片疲劳试验中快速降温、升温问题，缩短升温时间，实现了杜瓦芯片可重复性工作次数的快速检测，极大的提高了研发时间和促进了产品的生产效率，具有革新性和广阔的使用空间，能够产生较高的经济效益，可以有效解决本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统，其特征在于：包括输气管路(1)、高压管路(2)、低压管路(3)、进气管路(7)和被测杜瓦(9)；所述输气管路(1)的一端连通高压氮气气源，输气管路(1)的另一端通过三通分别连通有高压管路(2)和低压管路(3)，高压管路(2)和低压管路(3)的末端通过三通连通有进气管路(7)，进气管路(7)与被测杜瓦(9)连通；/n所述输气管路(1)上按气流方向依次设有过滤器一(1-1)和球阀(1-2)；/n所述高压管路(2)上按气流方向依次设有高压减压阀(2-1)、高压压力表(2-2)、高压安全阀(2-3)、高压电磁阀(2-5)和单向阀一(2-7)，且高压电磁...

【技术特征摘要】
1.一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统，其特征在于：包括输气管路(1)、高压管路(2)、低压管路(3)、进气管路(7)和被测杜瓦(9)；所述输气管路(1)的一端连通高压氮气气源，输气管路(1)的另一端通过三通分别连通有高压管路(2)和低压管路(3)，高压管路(2)和低压管路(3)的末端通过三通连通有进气管路(7)，进气管路(7)与被测杜瓦(9)连通；
所述输气管路(1)上按气流方向依次设有过滤器一(1-1)和球阀(1-2)；
所述高压管路(2)上按气流方向依次设有高压减压阀(2-1)、高压压力表(2-2)、高压安全阀(2-3)、高压电磁阀(2-5)和单向阀一(2-7)，且高压电磁阀(2-5)的两侧均设有截止阀一(2-6)；
所述低压管路(3)上按气流方向依次设有一级减压阀(3-1)、二级减压阀(3-2)、低压安全阀(3-3)、低压压力表(3-4)、低压电磁阀(3-6)、单向阀二(3-8)、加热筒组件(6)、过滤器二(3-9)和单向阀三(3-10)，且低压电磁阀(3-6)的两侧均设有截止阀二(3-7)；
所述被测杜瓦(9)包括瓶状壳体(9-5)，瓶状壳体(9-5)的内部设有与其同轴的隔热筒(9-4)，隔热筒(9-4)内设有与进气管路(7)连通的毛细管(9-1)，隔热筒(9-4)的下部设有杜瓦芯片(9-2)，毛细管(9-1)的底部出口靠近杜瓦芯片(9-2)，杜瓦芯片(9-2)内部嵌有测温二极管(9-3)，杜瓦芯片(9-2)的端面均匀环设有排气孔(9-7)，且环状布置的排气孔(9-7)位于隔热筒(9-4)内，所述瓶状壳体(9-5)的外壁设有与测温二极管(9-3)电连接的接线端子(9-6)。


2.根据权利要求1所述的一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统，其特征在于：所述高压管路(2)上设有与高压电磁阀(2-5)及其两侧的截止阀一(2-6)并列设置的高压备用管路(4)，高压备用管路(4)包括备用管线和备用高压电磁阀，备用高压电磁阀的两侧均设有截止阀。


3.根据权利要求1所述的一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统，其特征在于：所述高压管路(2)上设有压力传感器一(2-4)，压力传感器一(2-4)位于高压减压阀(2-1)与高压电磁阀(2-5)之间。


4.根据权利要求1所述的一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统，其特征在于：所述低压管路(3)上设有与低压电磁阀(3-6)及其两侧的截止阀二(3-7)并列设置的低压备用管路(5)，低压备用管路(5)包括备用管线和备用低压电磁阀，备用低压电磁阀的两侧均设有截止阀。


5.根据权利要求1所述的一种用于杜瓦芯片疲劳试验的快速降温、升温系统，其特征在于：所述低压管路(3)上设有压力传感器二(3-5)，...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨俊卿，郭英，闫瑾，胡金波，陈青山，宾玲，张猛，费凡，张媛媛，
申请(专利权)人：凯迈洛阳气源有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41