一种电路放电检测系统技术方案

一种电路放电检测系统，这种系统可以同时观察到电子电路放电火花和被测电路实体图像的检测装置，可通过观测准确判断被测电路系统的放电部位与放电器件。按照本发明专利技术提供的技术方案，所述电路放电检测系统包括紫外辐射成像系统、可见光成像系统和图像融合处理系统，其特征是：利用紫外辐射成像系统和可见光成像系统同时对被测电路进行成像观测；紫外辐射成像系统捕获放电火花所发出的紫外辐射，产生并输出放电火花图像；可见光成像系统捕获并输出被测电路的实体图像；通过图像融合处理系统对检测到的放电火花图像与被测电路的实体图像进行捕获与处理，并以图像融合的方式将检测到的放电火花图像和被测电路实体图像整合在一起，形成标识出放电火花图像及其位置的被测电路图像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是一种用于探测电子电路放电现象的检测系统，用于探测各类电子系统肉眼不可见的放电火花，以避免电路放电对电子设备的干扰和损害。同样的系统相应改变光学系统参数，还可以利用特种飞行物羽烟的紫外辐射在大气辐射背景中发现飞行物并对其进行识别。
技术介绍
电子电路的放电现象是一种普遍存在的物理现象，与之伴随的电磁干扰是在电子设备设计与生产中力图避免的重要技术缺陷。随着微电子电路集成度的日益提高，周边电路轻微的放电现象足以产生影响电路性能的电磁干扰，而轻微放电所产生的放电火花则微弱得无法用肉眼直接观察检验。对于放电引起的放电火花的检测有一种做法是利用紫外像增强器进行观察探测，但由于紫外成像系统无法对被观测景物与放电火花同时成清晰像而限制了可以使用的领域，目前仅用在高压输变电系统绝缘性能的检测等少数场合。对于各种配电箱、仪器仪表电路等复杂密集的电路系统，需要准确判断被测电路系统的放电部位与放电器件的应用场合，目前尚无行之有效的技术手段。此外、采用紫外微光成像技术，通过地球大气窗口中的所谓“日盲区”，利用特种飞行物羽烟中的紫外辐射，可以在大气辐射背景中探测、发现和跟踪特种飞行物。同样，由于紫本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路放电检测系统，包括紫外辐射成像系统、可见光成像系统和图像融合处理系统，其特征是：利用紫外辐射成像系统和可见光成像系统同时对被测电路（２）进行成像观测；紫外辐射成像系统捕获放电火花（１）所发出的紫外辐射，产生并输出放电火花图像（８）；可见光成像系统捕获并输出被测电路的实体图像（５）；通过图像融合处理系统（６）对检测到的放电火花图像（８）与被测电路的实体图像（５）进行捕获与处理，并以图像融合的方式将检测到的放电火花图像（８）和被测电路实体图像（５）整合在一起，形成标识出放电火花图像（８）及其位置的被测电路图像（７）。

【技术特征摘要】
1、一种电路放电检测系统，包括紫外辐射成像系统、可见光成像系统和图像融合处理系统，其特征是：利用紫外辐射成像系统和可见光成像系统同时对被测电路(2)进行成像观测；紫外辐射成像系统捕获放电火花(1)所发出的紫外辐射，产生并输出放电火花图像(8)；可见光成像系统捕获并输出被测电路的实体图像(5)；通过图像融合处理系统(6)对检测到的放电火花图像(8)与被测电路的实体图像(5)进行捕获与处理，并以图像融合的方式将检测到的放电火花图像(8)和被测电路实体图像(5)整合在一起，形成标识出放电火花图像(8)及其位置的被测电路图像(7)。2、如权利要求1所述的电路放电检测系统，其特征是：所述紫外辐射成像系统包括紫外物镜(11)、位于紫外物镜后面的紫外像增强器(10)及图像采集系统(9)；紫外物镜(11)捕获放电火花(1)所发出的紫外辐射，经紫外像增强器(10)增强后，由图像采集系统(9)产生并输出放电火花图像(8)。3、如权利要求1所述的电路放电检测系统，其特征是：所述可见光成像系统包括物镜和位于物镜后面的可见光摄像系统(4)；所述物镜捕获被测电路(2)的图像，经可见光摄像系统(4)产生并输出被测电路的实体图像(5)。4、如权利要求3所述的电路放电检测系统，其特征是：所述物镜为独立的摄像物镜(3)。5、如权利要求3所述的电路放电检测系统，其特征是：所述物镜为紫外物镜(11)，在所述紫外物镜(11)的后面与所述可见光摄像系统(4)之间设置一个分光镜(12)；利用分光镜(12)将除紫外波段以外的光谱辐射成像光束反射...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐毅刚，李东跃，
申请(专利权)人：无锡市星迪仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]