电光源寿命测试仪制造技术

技术编号:2646212 阅读:207 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种电光源寿命测试仪,其特征是该测试仪的测试电路由电源1、单片机IC1及其外部设备2、电源监控与保护器3、输出控制器4、被测整灯及多路光源监控器5、多通道扩展器6、通道选择器7组成。同现有技术比较,本方案具有测试整灯数量大、断电时自动保存测试信息、无需人工监视及记录、实现自动化检测、测试误差小于1%等优点,可满足电光源生产厂家产品寿命测试的要求。(*该技术在2007年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
电光源寿命测试仪本技术涉及一种电发光的光源,特别涉及一种电光源寿命测试仪。常用的电光源寿命测试仪,包括机壳和测试电路,测试电路由电光源、占空比调整器、时间调整器、定时器、显示器、继电器、被测的整灯组成,定时器的工作状态由占空比调整器和时间调整器调制,定时器通过继电器与整灯连接,显示器用于显示定时器工作状态及对被测灯的测试结果,国际标准规定,整灯寿命测试开灯时间2.75小时,关灯0.25小时,当测试灯管或电子整流器的开关特性时,整灯开与关的时间皆为数秒钟,以此切换,测定其开关特性。现有技术的缺陷是:1.不能同时兼容高速开关特性测试和慢速的寿命测试这两种测试功能;2.由于是采用模拟电路,测量精确度不高,误差大于5%;3.缺乏整灯状态监控装置,由人工连续监视的方式记录整灯状态,而整灯寿命测试时间长达数千小时,一旦出现停电或其他异常情况,则测试被迫终止而以失败告终;4.进行灯的开关寿命测试时,由于无自动记录装置,采用人工记录总开关次数极容易出现差错;5.只能对单灯进行寿命测试,测试工作效率太低。本技术的目的在于提供一种由单片机控制的电光源寿命测试仪,能自动地同时测试数百只整灯的使用寿命或其开本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电光源寿命测试仪,包括机壳,测试电路,其特征在于:测试电路由电源(1)、单片机(IC1)及其外部设备(2)、电源监控与保护器(3)、输出控制器(4)、被测整灯及多路光源监控器(5)、多通道扩展器(6)、通道选择器(7)组成,其中电源(1)由主机电源(11)、记忆电源(12)、控制电源(13)组成,外接220V交流电;单片机(IC1)的外部设备包括键盘(21)、显示器(22)、存贮器(23)、时间基准器(24),主机电源(11)分别向键盘(21)、显示器(22)、电源监控与保护器(3)、输出控制器(4)、被测整灯及多路光源监控器(5)、通道选择器(7)供电,记忆电源(12)向存贮器(23)、...

【技术特征摘要】
1.一种电光源寿命测试仪,包括机壳,测试电路,其特征在于:测试电路由电源(1)、单片机(IC1)及其外部设备(2)、电源监控与保护器(3)、输出控制器(4)、被测整灯及多路光源监控器(5)、多通道扩展器(6)、通道选择器(7)组成,其中电源(1)由主机电源(11)、记忆电源(12)、控制电源(13)组成,外接220V交流电;单片机(IC1)的外部设备包括键盘(21)、显示器(22)、存贮器(23)、时间基准器(24),主机电源(11)分别向键盘(21)、显示器(22)、电源监控与保护器(3)、输出控制器(4)、被测整灯及多路光源监控器(5)、通道选择器(7)供电,记忆电源(12)向存贮器(23)、时间基准器(24)、通过单片机(IC1)的脚给单片机(IC1)、电源监控与保护器(3)供电,控制电源(13)向输出控制器(4)供电,电源监控与保护器(3)的输出端与单片机(IC1)脚连接,键盘(21)输出端接单片机(IC1)的(P0)口,显示器(22)输入端与单片机(IC1)的(P0)口连接,存贮器(23)的输出/输入端分别与单片机(IC1)的(P0)口和(P2)口连接,时间基准器(24)的输出端接单片机(IC1)的脚,输出控制器4的输入端与单片机IC1的脚①连接,被测整灯及多路光源监控器(5)的另两个输入端分别与输出控制器(3)的输出端和220V交流电源连接,其输出端与多通道扩展器(6)的输入端连接,选择器(7)的一个输入端与多通道扩展器(6)的输出端连接,其另一个输入端连接单片机(IC1)的(P2)口,其输出端与单片机(IC1)的(P0)口连接。2.根据权利要求1的电光源寿命测试仪,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶炜
申请(专利权)人:杭州新叶光电工程技术有限公司
类型:实用新型
国别省市:86[中国|杭州]

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