电路板测试治具制造技术

技术编号:2643314 阅读:233 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种电路板测试治具,包括一顶部设有多个探针装置的底座、一位于底座上方的上盖、以及位于底座及上盖两侧的一平行连杆机构与一支撑机构,其中,该平行连杆机构进一步包括分别枢设于上盖及底座侧边且互为平行的一第一连动杆及一第二连动杆,使上盖保持水平状往后上方拉开或盖合于底座上,当上盖往上拉开时,藉由一连动杆支架挡止于第一连动杆后侧,且藉由支撑机构的一压缸撑持该第一连动杆,使其不至于任意落下,以方便操作者将电路板置于底座顶面检测及取出,又由于本实用新型专利技术的上盖可以保持水平落于电路板上,因此可以使各探针装置平均受力,避免局部因为受力较大而使其压缩弹簧弹性疲乏。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术是一种电路板的测试装置,尤指一种可以使电路板均匀受力以及设 计方向不受限制的电路板测试治具
技术介绍
为了确保电路板的出厂品质,电路板的印刷线路以后,需要检测线路的回路是 否正常,此时,需要将电路板在一测试治具上进行检测。现有的电路板测试治具大 抵包括一底座及一上盖,于底座顶面布列有多支包括压縮弹性、探针及导线组成的 探针装置,雜针穿置于一载板上,将谷嫩测的电路板置于载板上,而后将上盖盖 合于电板上方,使探针与电路板上的接触而进行检测。但是,现有电路板测试治具的上盖与底座是藉由后端枢设一起,因此,上盖是 以后端的一枢轴为轴心偏转,如此设计易衍生出很多缺陷1. 上盖可掀开角度小而使电路板不易放置及取出。2. 上盖盖合时,近后端处首先接触到电路板及探针;检测完毕打开上盖时,上盖近后端处最后离开电路板及探针,换句话说,旨检测治具的探针受力不平均, 易导,后端该区域的压縮弹簧弹性疲乏。3. 再者,由于上盖是以后端先下压,因此,当电路板其中一边缘己焊接RJ19 连接器时,必须将连接器置于载板前端该侧,倘若置于后端会影响上盖的盖合动作, 因此,其承载板及探针體的位置设计受到限制,无法以较方便制造的模式进行设 计。因此,现有如贝壳般以后端为轴心偏转打开的电路板测试治具有进一步改良的 必要。
技术实现思路
为了改善上述缺陷,本技术的主要目的在于提供一种可以使上盖水平下 压,使各探针平均受力,以及探针位置设计不受限制的电路板测试治具。 基于上述目的,本技术的主要技术手段包括一底座,其顶部两侧近后端处,分别设有一往上突出的连动杆支架,该连动杆 支架的前侧设有一倾斜面;一上盖,相应位于底座上方,其前侧设有一把手;两平行连杆机构,分别位于底座及上盖两侧,该平4话杆机构包括一第一连动 杆及一第二连动杆,该第一连动杆的两端分别枢设于底座及上盖侧边,且相应位于 连动杆支架前方,而第二连动杆的其中一端枢设于上盖侧边,另一端则枢设于连动 杆支架侧边近后端处。实施上述技术手段以后,本技术可获得的具体效益为1. 本技术藉由平fi^杆机构的设计,施力将上盖往上拉开或者往下拉引时, 第一连动杆及第二连动杆可以将上盖往上拉开及往下盖合,使上盖可以平均施压于 受检测的电路板上(即可使撑持于电路板下方的各探针装置同时平均受力),故可改 善探针装置受力不均的缺陷。2. 上盖拉开范围大,可方便将电路板置入或者取出。3. 由于上盖保持水平下降,因此电路板的边缘纵使焊接突出的连接器,不论是 置于前侧或者后侧均不影响上盖的动作,故设计者可依方便制造为设计方向,加以 设计探针装的位置。附图说明图1是本技术安装于活动式检测柜上的前视示意图。图2是本技术安装于活动式检领姬的侧视示意图。图3是本技术的立体组合示意图。图4是本技术的立体局部分解示意图。图5是本技术的局部俯视剖面示意图。图6是本技术的侧视示意图。图7是本技术上盖为拉开状态的侧视示意图。主要组件符号说明(10)活动式检测柜 (11)显示器(12)检测机构 (13)电路板插置区(14)检测台 (15)电源供给器(2)电路板测试治具(21)底座(210)侧板(212)倾斜面(211)连动杆支架 (213)接触开关 (23)把手 (30)平行连杆机构 (320)枢孔 (33)第二连动杆 (35)第二枢轴 (37)螺栓 (40)支撑机构 (42)曲柄 (44)枢轴(22)上盖 (25)载板(32)第一连动杆 (321)结合孔 (34)第一枢轴(36)枢管 (38)连结杆 (41)压缸(43)连结转轴(45)轴杆具体实施方式请参阅图l、 2所示,本技术所提供的电路板测试治具2设于一活动式检 测柜10上,该活动式检观姬10为可移动的中空柜体,其内部安装一显示器ll、 一 检测机构12、 一电路板插置区13、 一检测台14以及一电源供给器15,所述的电路 板测试治具2即设于该往外拉出的检测台14顶面,整个活动式检测柜10可推移至 工作站进行检测,以縮短电路板运输至电路板测试治具2的时间。请参阅图3所示,该电路板测试治具2包括一底座21、 一上盖22、两个分设 于上盖22及底座21两侧的平t,杆机构30、以及两个分别设于底座21两侧而与 平fi^杆机构30连动的支撑机构40,又于上盖22前端设有一可供拉持的把手23 , 藉由该把手23将上盖22往上拉起或者往下盖合时,上盖22即藉由两平《瑰杆机构 30的设计,使上盖22位移时保持水平,并且上盖22往上打开定位以后,藉由支撑 机构40撑持位不往下坠。此外该底座21顶面设有载板25及穿置于载板25的多个探针装置(图中未示), 由于探针装置及载板25是已知且无关于本专利技术的技术,容不赘述。请参阅图3—6所示,本专利技术的顶部两侧分别设有一朝上突出的侧板210,于两 侧板210近后端处的内侧面分另睏定一连动杆支架211,该连动杆支架211前侧上 半段设为一倾斜面212,该倾斜面212上设有两个突出的接触开关213,所述的平行连杆机构30包括一第一连动杆32、 一第二连动杆33、 一第一枢轴34及一第二枢轴 35,其中,该第一枢轴34设于上盖22的侧边近前端处且朝外水平突出,而第二枢 轴35设于上盖22侧边中段且朝外水平突出,所述第二连动杆33的两端分别枢设于 第二枢轴35、连动杆支架211侧边近后端处,请同时参阅图5所示,第二枢轴35 与连动杆支架211的枢设方式较佳是设一穿置于连动杆支架211及第二连动杆33 的枢管36、 一连接固定于两支第二连动杆33的连结杆38、一支穿置于枢管36中心 且螺设于连结杆38端部中心的螺栓37。所述的第一连动杆32两端分别设有一枢孔320、一结合孔321,该枢孔320穿 置枢设于第一枢轴34,而结合孔321则枢设于侧板210内侧并且与支撑机构40连 结转动。该支撑机构40包括位于侧板210夕卜侦啲一压缸41、一枢设于压缸41其中一端 的曲柄42、 一枢设于压缸41另一端并且固定于顶贩210外侦啲轴杆45,该曲柄42 具有两端,于两端分别设有一朝向侧板210突出的连结转轴43、 一朝向压缸41突 出的枢轴44,该连结转轴43穿置枢设于侧板210并且以不可转动状与第一连动杆 32的枢孔320结合,如图所示将连结转轴43与结合孔321匹配设为四方形,再以 一螺栓穿置于第一连动杆32周壁而螺设于连结转轴43端面中心,得第一连动杆32 偏转时,通过连结转轴43带动曲柄42旋转,又由图3、 5所示可知,第一连动杆 32位于连动杆支架211的前方。上述为本技术的组成构件,动作方式如后请参阅图6所示为本技术的上盖22盖合于底座21上的情形,当欲掀开上 盖22时,如图7所示施力于把手23,将上盖22往后上方推移,带动平纟斑杆机构 30的第一连动杆31及第一连动杆32往后上方偏摆,该第一连动杆31及第一连动 杆32常态保持平行,而上盖22则保持水平,当第一连动杆31往上偏转至连动杆支 架211的倾斜面212即停止,此时触及接触开关213而使一个与其电性连接的警示 灯(图中未示)发光,操作者即知已到达预定位置,此外,当第一连动杆31往上偏 摆时,同时带动曲柄42往上方偏转,进而藉本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路板测试治具,其特征在于,包括:一底座,其顶部两侧近后端处,分别设有一往上突出的连动杆支架,该连动杆支架的前侧设有一倾斜面;一上盖,相应位于底座上方,其前侧设有一把手;两平行连杆机构,分别位于底座及上盖两侧,该平行连杆机构包括一第一连动杆及一第二连动杆,该第一连动杆的两端分别枢设于底座及上盖侧边,且相应位于连动杆支架前方,而第二连动杆的其中一端枢设于上盖侧边,另一端则枢设于连动杆支架侧边近后端处。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:田焕堃
申请(专利权)人:拓甫科技股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:71[中国|台湾]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1