一种电源板卡检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电源板卡检测装置，包括传送带、焊点检测部和通电检测部，电源板卡固定间隔的承载于传送带上，依次顺序经过焊点检测部和通电检测部；焊点检测部设置有X光检测机构，该项检测主要针对板卡层间焊点以及板卡包面元器件电进行比对检测，筛选出不合格品；通电检测部用于对板卡端口进行通电测试，进一步筛选出不合格品，通电检测部设置有探针座和电磁铁，探针座底部设置有测试探针，测试探针用于检测时接通板卡的端口，电磁铁用于驱动探针座沿竖直方向上下运动；本实用新型专利技术可对不同规格的电源板卡进行快速的焊点检测和通电检测。

【技术实现步骤摘要】
一种电源板卡检测装置
本技术涉及电源制造
，具体涉及一种电源板卡检测装置。
技术介绍
电源产品在电子产品中应用广，数量大，但是电源产品的质量直接影响着电子产品的工作稳定和使用寿命。但是，电源产品规格型号各异，电源板卡的形状、参数各不相同，如果能对电源板卡在组装前进行高效的、充分的检测，会极大的提高成品良率，并降低在后续组装流程中的检测压力。在成品检测前的板卡制程中检测，还可以提前将不良品筛选出来，避免对不良品的继续加工组装，从而节约成本。电源板卡制成中，最常见的质量缺陷是焊点虚焊、松脱，以及元器件本身质量问题。焊点问题的改进通常需要对加工设备进行改良，涉及到设备厂家的配合，实现起来比较困难；元器件大小形状各异，主要依靠元器件生产厂家的控制以及来料抽检，因此提高电源板卡的检测能力，对电源制造商来说是比较现实的做法。
技术实现思路
鉴于上述，本技术提供了一种电源板卡检测装置，可对不同规格的电源板卡进行快速的焊点检测和通电检测。一种电源板卡检测装置，包括传送带、焊点检测部和通电检测部，电源板卡固定间隔的承载于传送带上，依次顺序经过焊点检测部和通电检测部；焊点检测部设置有X光检测机构，该项检测主要针对板卡层间焊点以及板卡包面元器件电进行比对检测，筛选出不合格品；通电检测部用于对板卡端口进行通电测试，进一步筛选出不合格品，通电检测部设置有探针座和电磁铁，探针座底部设置有测试探针，测试探针用于检测时接通板卡的端口，电磁铁用于驱动探针座沿竖直方向上下运动。优选的，X光检测机构包括发射器和成像板；发射器位于传送带的下方，成像板位于传送带的上方，X光从发射器发出，穿透板卡后在成像板显影成像，成像板将成像数据上传与合格品的影响进行比对，进而筛选出不合格品。优选的，焊点检测部还包括发射器底座，发射器底座用于升降发射器，根据板卡的测试面积调节成像焦距和面积；发射器底座包括竖直设置的发射器轨道、链条和电机；发射器的侧面与发射器轨道滑动连接，链条沿发射器轨道设置，链条的两端分别与发射器和电机连接。优选的，通电检测部还包括支架和滑块，支架用于支撑固定电磁铁、滑块和探针座；电磁铁位于支架的上部，支架中部设置有沿竖直方向延伸的滑槽，滑块滑动设置于滑槽内；滑块的上部与电磁铁的底部间隔设置，滑块的底部与探针座固定连接；运行时，传送带上的板卡经过通电测试部时，电磁铁断电，滑块及探针座下降，探针与板卡端口导通；该板卡测试完成时，电磁铁通电，将滑块并探针座一并吸起来，使探针脱离板卡，板卡随传送带离开通电测试部；待下一块板卡经过通电测试部时，重复上述过程。优选的，通电检测部还包括缓冲机构，缓冲机构用于探针接触板卡时缓冲卸力，避免冲击力过大损伤探针以及板卡焊点；缓冲机构包括挡板、缓冲销和弹簧；挡板水平设置，其一端与支架固定连接，挡板上设置有定位孔；缓冲销的底部与滑块固定连接，其上部穿过定位孔；弹簧套于缓冲销的周侧，并被压迫收缩的设置于挡板和滑块之间。优选的，滑块的上部还设置有缓冲垫，缓冲垫用于电磁铁通电吸引滑块时进行缓冲，避免滑块直接冲击电磁铁。优选的，通电检测部还包括门型架，门型架用于支撑支架，门型架的上边框设置有滑轨，支架的背部与滑轨滑动连接；支架可以通过滑轨来调整位置，进而改变探针的位置。优选的，传送带包括平行设置的第一长轨和第二长轨，第一长轨和第二长轨的相对内侧分别设置有同步运动的第一输送带和第二输送带。优选的，传送带还包括间距调节机构，以适应不同宽度的电源板卡；第一长轨和第二长轨分别向下伸出第一凸块和第二凸块，第一凸块和第二凸块相对一侧分别对应设置有第一螺孔和第二螺孔，第一螺孔和第二螺孔的内螺纹反向设置；间距调节机构设置有螺杆，螺杆依次穿过第一螺孔和第二螺孔。优选的，间距调节机构的数量至少有两个，以保证第一长轨和第二长轨的宽度始终一致。本技术的有益效果为：一种电源板卡检测装置，包括传送带、焊点检测部和通电检测部，电源板卡固定间隔的承载于传送带上，依次顺序经过焊点检测部和通电检测部；焊点检测部设置有X光检测机构，该项检测主要针对板卡层间焊点以及板卡包面元器件电进行比对检测，筛选出不合格品；通电检测部用于对板卡端口进行通电测试，进一步筛选出不合格品，通电检测部设置有探针座和电磁铁，探针座底部设置有测试探针，测试探针用于检测时接通板卡的端口，电磁铁用于驱动探针座沿竖直方向上下运动；本技术可对不同规格的电源板卡进行快速的焊点检测和通电检测。附图说明下面结合附图对本技术一种电源板卡检测装置作进一步说明。图1是本技术一种电源板卡检测装置的立体图。图2是发射器与发射器底座的配合示意图。图3是通电检测部的组装图。图4是间距调节机构的组装图。图中：1-传送带，11-第一长轨，111-第一输送带，112-第一凸块，113-第一螺孔，12-第二长轨，121-第二输送带，122-第二凸块，123-第二螺孔，13-间距调节机构，131-螺杆，2-焊点检测部，21-发射器，22-成像板，23-发射器底座，231-发射器轨道，232-链条，233-电机，3-通电检测部，31-探针座，32-电磁铁，33-支架，331-滑槽，332-挡边，34-滑块，341-缓冲垫，35-挡板，36-缓冲销，37-弹簧，38-门型架，381-滑轨。具体实施方式下面结合附图1～4对本技术一种电源板卡检测装置作进一步说明。如图1所示的一种电源板卡检测装置，包括传送带1、焊点检测部2和通电检测部3，电源板卡固定间隔的承载于传送带1上，依次顺序经过焊点检测部2和通电检测部3；焊点检测部2设置有X光检测机构；通电检测部3设置有探针座31和电磁铁32，探针座31底部设置有测试探针，探针座31在电磁铁32的驱动下沿竖直方向上下运动。本实施例中，X光检测机构包括发射器21和成像板22；发射器位于传送带1的下方，成像板22位于传送带1的上方。如图2所示的实施例中，焊点检测部2还包括发射器底座23；发射器底座23包括竖直设置的发射器轨道231、链条232和电机233；发射器21的侧面与发射器轨道231滑动连接，链条232沿发射器轨道231设置，链条232的两端分别与发射器21和电机233连接；电机233的转轴安装有与链条232配合的齿轮，电机233的正传或者反转时，链条232随着齿轮沿着发射器轨道231相应向上或向下滑动，发射器21的侧面与链条232固定连接，随着链条232沿着发射器轨道231上升或者下降。如图3所示的实施例中，通电检测部3还包括支架33和滑块34；电磁铁32位于支架33的上部，支架33中部设置有沿竖直方向延伸的滑槽331，滑块34滑动设置于滑槽331内；滑块34的上部与电磁铁32本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电源板卡检测装置，其特征在于，包括传送带(1)、焊点检测部(2)和通电检测部(3)，电源板卡固定间隔的承载于所述传送带(1)上，依次顺序经过所述焊点检测部(2)和所述通电检测部(3)；/n所述焊点检测部(2)设置有X光检测机构；/n所述通电检测部(3)设置有探针座(31)和电磁铁(32)，所述探针座(31)底部设置有测试探针，所述探针座(31)在所述电磁铁(32)的驱动下沿竖直方向上下运动。/n

【技术特征摘要】
1.一种电源板卡检测装置，其特征在于，包括传送带(1)、焊点检测部(2)和通电检测部(3)，电源板卡固定间隔的承载于所述传送带(1)上，依次顺序经过所述焊点检测部(2)和所述通电检测部(3)；
所述焊点检测部(2)设置有X光检测机构；
所述通电检测部(3)设置有探针座(31)和电磁铁(32)，所述探针座(31)底部设置有测试探针，所述探针座(31)在所述电磁铁(32)的驱动下沿竖直方向上下运动。


2.如权利要求1所述的电源板卡检测装置，其特征在于，所述X光检测机构包括发射器(21)和成像板(22)；
所述发射器位于所述传送带(1)的下方，所述成像板(22)位于所述传送带(1)的上方。


3.如权利要求2所述的电源板卡检测装置，其特征在于，所述焊点检测部(2)还包括发射器底座(23)；
所述发射器底座(23)包括竖直设置的发射器轨道(231)、链条(232)和电机(233)；
所述发射器(21)的侧面与所述发射器轨道(231)滑动连接，所述链条(232)沿所述发射器轨道(231)设置，所述链条(232)的两端分别与所述发射器(21)和所述电机(233)连接。


4.如权利要求3所述的电源板卡检测装置，其特征在于，所述通电检测部(3)还包括支架(33)和滑块(34)；
所述电磁铁(32)位于所述支架(33)的上部，所述支架(33)中部设置有沿竖直方向延伸的滑槽(331)，所述滑块(34)滑动设置于所述滑槽(331)内；
所述滑块(34)的上部与所述电磁铁(32)的底部间隔设置，所述滑块(34)的底部与所述探针座(31)固定连接。


5.如权利要求4所述的电源板卡检测装置，其特征在于，所述通电检测部(3)还包括缓冲机构，所述缓冲机构包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏斐，
申请(专利权)人：深圳市云纵电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44