往复式IC批次检测机台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种往复式ＩＣ批次检测机台，包含供置放一供容纳多个待测ＩＣ元件的入料承载盘的入料区；设置有多个分别供电性连接该待测ＩＣ元件的连接器、供给讯号至所述连接器及自所述连接器取得资讯的处理器、供测试该待测ＩＣ元件的测试区；供置放一供容纳该已测ＩＣ元件的出料承载盘的出料区；一组具有多个盛放座、承载移动装置；具有多对入料搬移器、入料装置；具有对应该入料搬移器数目的多对出料搬移器、出料装置；及一组具有对应该入料搬移器数目、供自该承载移动装置取出该待测ＩＣ元件至对应的各该连接器、及多对机械臂的运载装置。直接节省检测过程中搬移受测ＩＣ元件所耗费的时间，提升检测效率。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术关于一种检测机台，尤其是一种往复式IC批次检测机台。
技术介绍
积体电路元件己经成为电子设备中不可或缺的核心，元件的可靠度，无疑成为决定电子 设备整体效能的极重要环节。因此，在积体电路元件出厂前均会进行最终检测，以确保品质良好无虞。现有的测试机台虽然趋近全面自动化，但如图1所示， 一般单一机台1所设置的进出料搬移器12均仅配置一对吸嘴11，因此，即使增加该进出料搬移器12的运作速度，其检验效 率仍相当有限， 一旦无法因应预定时间内所需检验的制品量，相对就会产生检测延迟、效率 低落状况，不符市场对检测机台性能的需求。另一方面，若为了增加效率而提升该进出料搬移器12的运作速度，易提高吸取待测元件 时的不稳定性，.无意间影响测试流程整体的顺畅运作，从而造成待测元件不必要的损坏，测 试成本可能因此而提高。有鉴于此，亟待一种使用相同时间却能稳定配合携带更多待测元件进行测试的检测机台， 且在搬移元件过程中，不会有损伤待测物的顾虑；亦即增加每批次检测待测元件的数量，减 少整体检测时间而直接降低检测成本，使得检测待测元件的过程更为效率化，以提升检测厂 的检测能量及布场竞争力。
技术实现思路
本技本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种往复式ＩＣ批次检测机台，其特征在于：所述往复式ＩＣ批次检测机台可批次检测多个待测ＩＣ元件，所述往复式ＩＣ批次检测机台包括：　　　　供置放可容纳多个待测ＩＣ元件的入料承载盘的入料区；　　　　设置有多个分别电性连接所述待测ＩＣ元件的连接器，供给讯号至所述连接器及自所述连接器取得资讯的处理器，供测试所述待测ＩＣ元件的测试区；　　　　供置放可容纳所述已测ＩＣ元件的出料承载盘的出料区；　　　　一组具有多个盛放座，用以自所述入料区搬移所述待测ＩＣ元件至所述测试区、并自所述测试区搬移所述已测ＩＣ元件至所述出料区的承载移动装置；　　　　具有多对入料搬移器，供自所述入料承载盘取出对应的待测ＩＣ元件至所述承载...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建名，
申请(专利权)人：致茂电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]