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本实用新型公开了一种往复式ＩＣ批次检测机台，包含供置放一供容纳多个待测ＩＣ元件的入料承载盘的入料区；设置有多个分别供电性连接该待测ＩＣ元件的连接器、供给讯号至所述连接器及自所述连接器取得资讯的处理器、供测试该待测ＩＣ元件的测试区；供置放一供...
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