【技术实现步骤摘要】
一种基于倾斜投影修正技术的多能谱CT快速迭代重建方法
本专利技术涉及X射线CT成像
,特别是关于一种基于倾斜投影修正技术的多能谱CT快速迭代重建方法。
技术介绍
X射线计算机断层成像技术(XrayComputedTomography,简称X射线CT)可以在不破坏或损伤物体的情况下呈现物体的内部细节,已广泛应用于医学、生物、工业、材料、古化石和航天等众多领域。传统CT成像理论假设X射线由单一能量的光子组成,忽略了X射线的多色性,因此利用传统单能量CT重建算法重建实采数据时会产生射束硬化伪影,如杯状伪影和条状伪影,严重影响成像质量。多能谱CT成像系统利用多个不同能谱下的X射线扫描被测物体,获得被测物体在多个不同能谱下的投影数据。利用这些投影数据可以重建被测物体的基材料密度图像,或者是等效原子序数和电子密度图像。与单能谱CT相比,多能谱CT获取了更多的被测物体的信息,具有更好的物质区分能力,在硬化伪影去除、骨密度测量、PET衰减校正和伪单能图像计算等方面有广泛的应用前景。现有的多能谱CT多色投影数据获取方式大致有两类,第一类方式是利用X射线源获取两个或多个X射线能谱,分别对被测物体进行扫描,获取两组或多组多色投影数据。代表性的技术有“全扫描”模式、双源双探扫描模式和快速电压切换扫描模式等。其中,“全扫描”模式是利用传统CT设备,在不同的管电压和管电流下对被测物体分别进行多次扫描,这种方法可在传统CT设备上完成,不需要额外添加硬件设备。第二类方式是只使用一个X射线能谱,使用三明治式探测器或者光子计数探测 ...
【技术保护点】
1.一种基于倾斜投影修正技术的多能谱CT快速迭代重建方法,其特征在于,包括:/n步骤1,利用多能谱CT系统扫描被测物体,获得被测物体在多个能谱下的真实多色投影数据;/n步骤2,为被测物体的各种基材料密度图像赋初值,作为各种基材料密度图像估计值;/n步骤3,对各种基材料密度图像估计值进行正投影,得到各种基材料的投影估计值,进而利用X射线能谱信息和基材料的质量衰减系数信息得到被测物体在各个能谱下的多色投影估计值;/n步骤4,计算多色投影估计值与真实多色投影数据之间的误差,并利用倾斜投影技术对基材料投影进行修正,得到各种基材料的投影残差A;/n步骤5,将各种基材料的投影残差进行反投影操作,得到各种基材料的残差图像,进而更新被测物体的各种基材料密度图像估计值;/n步骤6,判断终止条件是否满足,若满足则终止迭代,否则转向步骤3。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于倾斜投影修正技术的多能谱CT快速迭代重建方法,其特征在于,包括:
步骤1,利用多能谱CT系统扫描被测物体,获得被测物体在多个能谱下的真实多色投影数据;
步骤2,为被测物体的各种基材料密度图像赋初值,作为各种基材料密度图像估计值;
步骤3,对各种基材料密度图像估计值进行正投影,得到各种基材料的投影估计值,进而利用X射线能谱信息和基材料的质量衰减系数信息得到被测物体在各个能谱下的多色投影估计值;
步骤4,计算多色投影估计值与真实多色投影数据之间的误差,并利用倾斜投影技术对基材料投影进行修正,得到各种基材料的投影残差A;
步骤5,将各种基材料的投影残差进行反投影操作,得到各种基材料的残差图像,进而更新被测物体的各种基材料密度图像估计值;
步骤6,判断终止条件是否满足,若满足则终止迭代,否则转向步骤3。
2.如权利要求1所述的基于倾斜投影修正技术的多能谱CT快速迭代重建方法,其特征在于,步骤4中的投影残差A表示为式(15):
式中:
N表示能谱的个数;
M表示基材料的数目,M=N;
p1,l表示第1个能谱对应的多色投影估计值;
表示第n次迭代得到的第1个能谱对应的多色投影估计值;
分别表示第n次迭代得到的第k、n个能谱对应的多色投影估计值;
dir表示从当前迭代点(Rlf1(n),Rlf2(n),…,RlfN(n))向当前射线路径下已知的多色投影方程做倾斜投影的方向;
dir2为当前迭代点(Rlf1(n),Rlf2(n),…,RlfN(n))向线性多色投影方程(6.1)对应的超平面做正交投影的投影方向;
dir1、dir11表和dir12表示线性多色投影方程组(6.2)~(6.N)的法向量在N维空间中张成的超平面的法方向,dir11和dir12为求解过程中的中间量;
dir21表示当前迭代点(Rlf1(n),Rlf2(n),…,RlfN(n))向线性多色投影方程(6.1)对应的超平面做正交投影的投影方向;
||·||为向量取模运算符;
λ1表示控制dir1方向权重的系数;
λ2表示控制dir2方向权重的系数;
<,>表示两个向量的内积;
xn表示第n种基材料的投影数据;
表示用于简化线性多色投影方程(6.1)的中间参数;
aij、表示用于简化线性多色投影方程组(6.1)~(6.N)的中间参数,i表示第i个X射线能谱对应的数据,i=1…N;j表示第j种基材料密度图像对应的数据,j=1…N;
ξk、ξn分别表示对应于第k、n个等效能谱的X射线扫描路径的集合;
Sk,m为Sk(E)在第m个子能量区间内的采样值,第k个归一化能量谱的离散形式;Sk(E)为表示第k个归一化的等效能谱,∫Sk(E)dE=...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵树森,潘慧莹,赵星,
申请(专利权)人:首都师范大学,
类型:发明
国别省市:北京;11
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