【技术实现步骤摘要】
一种波前探测误差测定系统及其误差测定方法
本专利技术涉及激光波前探测技术，具体涉及一种波前探测误差测定系统及其误差测定方法。
技术介绍
基于啁啾光脉冲放大技术的提出和应用，高功率超短脉冲激光器技术日趋成熟。高功率超短脉冲激光的应用推动多领域实验进步，成果颇多。激光与靶相互作用，加速电子，质子，辐射X-ray和THz等，进一步用于应用。作为新兴领域，发展迅速。随着激光功率进一步提升，激光和靶相互作用，前端激光诸多技术参数要求需要达成，以满足后续实验目的。高功率超短脉冲激光器的功率，对比度，焦斑均匀性，波前，稳定性等都有参数要求。其中波前作为激光传播的重要指标参数，对后续激光远场聚焦状态具有重要影响。激光聚焦状态直接对后端实验平台相互作用结果具有影响。因此对高功率超短脉冲激光波前分析具有重要意义。高功率激光器主要包括振荡器，展宽器，放大级，压缩器等部分，作为波前探测器可分别对不同部分波前进行探测，此处主要是对位于压缩器后传输段位置激光波前进行探测。目前对于高功率超短脉冲激光，尤其是功率在拍瓦量级水平的激光，整体的光学系统构架比较...
【技术保护点】
1.一种波前探测误差测定系统，对相应的波前测量系统的系统误差进行测量，并对主光路的激光波前进行修正，主光路包括高功率激光器和光能量衰减片，高功率激光器发出激光，经光能量衰减片调整能量，作为主光路进入至待测量误差的波前测量系统，其特征在于，所述波前探测误差测定系统包括：光纤激光器、准直镜、测量光路调整装置、平移台、波前探测器、波前波形调整元件和主光路调整装置；其中，光纤激光器、准直镜和测量光路调整装置均放置在平移台上；在高功率激光器与波前测量系统之间的主光路上设置波前波形调整元件和主光路调整装置；光纤激光器发出点光源激光，作为理想的标定光源；点光源激光经准直镜进行准直和放大，...
【技术特征摘要】
1.一种波前探测误差测定系统，对相应的波前测量系统的系统误差进行测量，并对主光路的激光波前进行修正，主光路包括高功率激光器和光能量衰减片，高功率激光器发出激光，经光能量衰减片调整能量，作为主光路进入至待测量误差的波前测量系统，其特征在于，所述波前探测误差测定系统包括：光纤激光器、准直镜、测量光路调整装置、平移台、波前探测器、波前波形调整元件和主光路调整装置；其中，光纤激光器、准直镜和测量光路调整装置均放置在平移台上；在高功率激光器与波前测量系统之间的主光路上设置波前波形调整元件和主光路调整装置；光纤激光器发出点光源激光，作为理想的标定光源；点光源激光经准直镜进行准直和放大，从而使得相应进入待测量系统误差的波前测量系统后激光的光斑的尺寸与波前探测器探测的口径相匹配；准直和放大后的激光经测量光路调整装置对整体激光方向进行调整，使得激光的方向准直并且与波前测量系统同轴，作为理想波前进入波前测量系统；从波前测量系统出射的激光由波前探测器接收；波前探测器测量得到波前信息，与理想波前进行比较，得到波前测量系统的误差；将平移台推出光路；将波前测量系统的误差反馈到波前波形调整元件上；高功率激光器发出高功率超短脉冲激光，经光能量衰减片调整能量；能量调整后的激光经波前波形调整元件，减去波前测量系统的误差，对由于波前测量系统的误差所带来的波前畸变进行修正；再经过主光路调整装置进入至波前测量系统；经波前测量系统出射，由波前探测器接收，得到消除了波前测量系统的误差所带来的波前畸变的高功率激光器所发出的激光波前。
2.如权利要求1所述的波前探测误差测定系统，其特征在于，所述准直镜采用离轴抛物面镜；测量光路调整装置和主光路调整装置分别采用一个或多个反射镜。
3.如权利要求1所述的波前探测误差测定系统，其特征在于，所述波前波形调整元件采用可变形镜；可变形镜包括多个电极，每个电极具有独立的控制器，进行单独控制，通过分别对每个电极施加相应的电压来改变镜子面型，从而改变激光波前。
4.如权利要求1所述的波前探测误差测定系统，其特征在于，所述波前探测器位于波前测量系统的像点处，可变形镜位于波前测量系统的物面上。
5.如权利要求2所述的波前探测误差测定系统，其特征在于，所述准直镜的面型小于1/50λ，λ为激光的波长。
6.一种如权利要求1所述的波前探测误差测定系统的误差测定方法，其特征在于，所述误差测定方法包括以下步骤：
1)将光纤激光器、准直镜和测量光路调整装置均放置在平移台上，将平移台推进光路；
2)光纤激光器发出点...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵研英，肖朝凡，耿易星，吴旻剑，颜学庆，
申请(专利权)人：北京大学，
类型：发明
国别省市：北京;11
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