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电缆测试仪制造技术

技术编号:2641392 阅读:232 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术属于一种测试电缆基本物理连接性能的电子仪器,特别涉及其结构的改进。电缆测试仪,其特征在于,芯片控制器的显示输出引脚通过导线连接到液晶显示屏的输入端引脚,芯片控制器的电源正极引脚通过导线连接到电源正极,芯片控制器电源负极引脚通过导线与电源负极连接;芯片控制器通过信号发送端口通道与一测试插座连接,同时通过信号接收端口通道与另一测试插座连接。芯片控制器通过晶振输入端口引脚和晶振输出端口引脚与晶体振荡电路连接。本实用新型专利技术可以简化电路,节省成本,用较低成本与较简化电路达到与现有技术相当的测试目的。(*该技术在2014年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于一种测试电缆基本物理连接性能的电子仪器,特别涉及其结构的改进。
技术介绍
现有技术是利用八位单片机输入/输出端口与待测线两头连接进行测试,输出端口发送测试信号在待测线上传输,输入端口接收测试信号,通过八位单片机对测试信号的完整性进行判断,从而得出测试结果;并利用输入/输出端口与液晶显示屏驱动模块连接,将显示数据送至液晶显示屏驱动模块,显示数据经液晶显示屏驱动模块处理后在液晶显示屏上显示。现有技术的缺点是,芯片采用八位单片机,显示部分需要采用液晶显示屏驱动模块,存在成本昂贵,附加电路复杂、众多的缺点。
技术实现思路
本技术为克服上述已有技术存在的缺点,提供一种改进的电缆测试仪。本技术的结构为,测试插座1和测试插座2用以连接待测电缆两端;芯片控制器4的显示输出引脚通过导线连接到液晶显示屏5的输入端引脚,芯片控制器的电源正极引脚通过导线连接到电源6正极,芯片控制器电源负极引脚通过导线与电源负极连接;芯片控制器通过信号发送端口通道与测试插座1连接,同时通过信号接收端口通道与测试插座2连接。芯片控制器通过晶振输入端口引脚和晶振输出端口引脚与晶体振荡电路3连接。本技术可以采用的四位单芯片控制器U1输入/输出引脚P00、P01为信号发送端口通道,输入引脚P10、P11为信号接收端口通道,P00与测试插座1的一号引脚连接,P01与测试插座1的二号引脚连接,P10与测试插座2的一号引脚连接,P11与测试插座2的二号引脚连接,通过待测电缆形成一个信号发送接收回路。芯片控制器U1的VDD引脚与电源正极VDD连接,VSS引脚与电源负极GND连接。芯片控制器U1的引脚XIN1为晶振输入端口,引脚XOUT1为晶振输出端口,引脚XIN1与引脚XOUT1与晶体振荡电路连接,XIN1与电容C5的一端连接,同时与晶振OSC的一端连接,XOUT1与电容C6的一端连接,同时与晶振OSC的另一端连接,电容C5连接C6并连接电源负极。芯片控制器U1的COM0引脚和SEG0引脚为显示输出引脚,COM0引脚直接与液晶显示屏输入引脚COM0连接,SEG0引脚直接与液晶显示屏输入引脚SEG0连接,形成一个显示输出电路,直接驱动液晶显示屏。本技术采用四位单芯片内置液晶显示驱动模块控制器,由芯片控制器的SEG0和COM0引脚直接与液晶显示屏连接并驱动液晶显示屏,测试通道依靠控制器输入/输出引脚发送和接收信号,确定待测线缆的基本物理性能,如连通、开路、短路等等。由控制器直接驱动的液晶显示屏显示测试结果。本技术可以简化电路,节省成本,用较低成本与较简化电路达到与现有技术相当的测试目的。附图说明附图1是本技术原理框图。附图2是本技术结构示意图。1测试插座、2测试插座、3晶体振荡电路、4芯片控制器、5液晶显示屏、6电源。具体实施方式本测试仪在单机测试时,要求线缆两端分别连接在测试仪本身的测试插座1和测试插座2。四位单芯片控制器U1输入/输出引脚P00、P01为信号发送端口通道7,输入引脚P10、P11为信号接收端口通道,输入/输出引脚P00与测试插座1的一号引脚连接,输入/输出引脚P01与测试插座1的二号引脚连接,输入引脚P10与测试插座2的一号引脚连接,输入引脚P11与测试插座2的二号引脚连接,通过待测电缆形成一个信号发送接收回路;信号从输入/输出引脚P00、P01至测试插座1通过线缆发送至测试插座2插座到达输入引脚P10、P11。如引脚P00发送出来的信号在引脚P10处被接收,说明待测线缆完好,如未被接收,则说明待测线缆存在短路或开路状况。芯片控制器4的U1的VDD引脚与电源6正极VDD连接,VSS引脚与电源负极GND连接;晶振OSC和电容C1及C2构成晶体振荡电路3,给芯片控制器U1提供合适的振荡信号。芯片控制器U1的液晶显示屏5输出引脚SEG0和COM0直接与液晶显示屏对应输入引脚SEG0和COM0连接控制液晶显示屏,以显示测试结果。芯片控制器U1的引脚XIN1为晶振输入端口,引脚XOUT1为晶振输出端口,引脚XIN1与引脚XOUT1与晶体振荡电路连接,XIN1与电容C5的一端连接,同时与晶振OSC的一端连接,XOUT1与电容C6的一端连接,同时与晶振OSC的另一端连接,电容C5连接C6并连接电源负极;芯片控制器U1的COM0引脚和SEG0引脚为显示输出引脚,COM0引脚直接与液晶显示屏输入引脚COM0连接,SEG0引脚直接与液晶显示屏输入引脚SEG0连接,形成一个显示输出电路,直接驱动液晶显示屏,以显示测试结果。为达到更好的测试目的,输入/输出引脚P00、P01可扩展为P00、P01、P02…P0n(n>1),相应的输入引脚P10、P11可扩展为P10、P11、P12……P0n(n>1),为达到更好的测试结果显示目的,液晶显示屏控制线可扩展为COM0、COM1、COM2、COM3……COMn(n>0);SEG0、SEG1、SEG2…………SEGn(n>0)。本技术工作原理举例本测试仪所使用的单芯片控制器输入/输出引脚P00、P01为信号发送端口通道,输入引脚P10、P11为信号接收端口通道。引脚VDD、XOUT1、XIN1连接晶振电路,引脚COM0、SEG0与液晶显示屏对应引脚连接。1、单机测试线缆两端连接关系判断本测试仪在单机测试时要求线缆两端分别连接在测试仪本身的测试插座1和测试插座2。测试时U1的输入/输出P00、P01为测试信号发送端口通道7,输入P10、P11为测试信号接收端口通道8,从而形成信号发送/接收回路。将线缆一端插入本机测试插座1,另一端插入测试插座2,本机自动对线缆进行开路、短路、连接关系等等检测。信号从输入/输出引脚P00、P01至测试插座1通过线缆发送至测试插座2到达输入引脚P10、P11。例如如引脚P00发送出来的信号在引脚P10处被接收,说明待测线缆完好,如未被接收或被引脚P11接收,则说明待测线缆存在开路或短路状况。2、液晶显示由芯片控制器U1的液晶显示输出引脚SEG0、COM0直接控制液晶显示屏显示,控制器液晶显示输出引脚SEG0和COM0连接到液晶显示屏相应输入引脚SEG0、COM0控制液晶显示屏显示。3、本测试仪电源采用AAA电池做电源,并以控制器直接控制整个系统运作节能方案。在控制器内部,采用了能让整个系统充分节能的方案,配合外围电路设计,整个系统最低耗电电流达到0.1毫安以下,充分利用了能源。4、双机测试线缆两端连接关系判断本技术也可以用两台相同机器测试,一台为主机,另一台为从机,按所规定端口(主机为测试插座1,从机为测试插座1)插上线缆后(要求所连接线缆至少有两根连通),主机的测试插座1通过线缆连接至从机的测试插座1,主、从机自动通过握手信号连通后,主机控制器发送测试信号从输入/输出引脚P00-P01至测试插座1,通过线缆到达从机测试插座1后,送至从机控制器输入/输出引脚P00-P01;相反,从机控制器也发送测试信号从输入/输出引脚P00-P01至从机的测试插座1,通过线缆到达主机测试插座1后送至主机控制器输入/输出引脚P00-P01,双方得到测试结果,再通过控制器将测试结果数据分别显示在两台机器的液晶显示屏5上。也可以将测试电缆从主机的测试插座1连本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电缆测试仪,其特征在于,芯片控制器(4)的显示输出引脚通过导线连接到液晶显示屏(5)的输入端引脚,芯片控制器的电源正极引脚通过导线连接到电源(6)正极,芯片控制器电源负极引脚通过导线与电源负极连接;芯片控制器通过信号发送端口通道(7)与测试插座(1)连接,同时通过信号接收端口通道(8)与测试插座(2)连接;芯片控制器通过晶振输入端口引脚和晶振输出端口引脚与晶体振荡电路(3)连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:沈科学
申请(专利权)人:沈科学
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]

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