双面敷铜箔板介电常数测试装置制造方法及图纸

本装置是一种双面敷铜（或敷金属）箔板相对介电常数测试装置，它由底座、支架、导轨、检波系统、调谐装置及导波波长读数标尺等构成，样品置于底座上，将被测信号由馈入端馈入，检波系统将被测微带样品上信号检波，经调谐使输出信号最大，用交叉读数法在标尺上读得至少两个驻波极小点的准确位置，即可测出导波波长的精确长度λｓ，运用公式εｒ＝〔（λｏ＋［２］－λ＋［２］ｓ）／ｑλ＋［２］ｓ〕＋１，求得被测样品的相对介电常数εｒ。（*该技术在1999年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种专用于测试双面敷铜(或敷金属)箔板相对介电常数的装置。在设计研制微带电路时，微带基片介质的相对介电常数是一个很重要的电参数，若用双面敷铜箔板制作电路，则必须知道其εr值。目前，国产敷铜箔板品种已达十几种，其介电常数，一般只给出一个范围，多半不大于5或5.5，而且是在1MHz频率下测定的。敷铜箔板的εr值是频率的函数，因此，对大量的不同用户来说，产品给出1MHZ的εr参数值，显然是不够的，特别是对于准确设计以进行大规模生产来说，要知道其使用频率的εr的具体数值，一直是一个长期存在需要解决的问题。目前，国内外尚无在300－2000MHz频率范围内专门测试双面敷铜箔板相对介电常数的装置，对未敷铜箔的绝缘材料的测试，国内外通常使用的测试方法有传输线法，微扰法，谐振腔法等，由于这些测试方法对被测样品的形状和尺寸有严格要求，因此，一般用户难于实现，且所测得的结果，是未敷铜箔板介质材料的εr，没有考虑实际使用中的诸多因素，如极化方向，氧化铜层，加工工艺等的影响。鉴于上述原因，本技术的任务是直接测双面敷铜(或敷金属)箔层压板的εr值，对测试样品无任何特殊要求，测试频率从300MHz到2000MHz内的任意实际使用频率点。本技术是这样完成上述任务的研制一种双面敷铜或敷金属箔板相对介电常数测试装置，该装置由底座、支架、导轨、检波系统、垂直调节机构、水平微调及锁紧机构、连接板及导波波长读数标尺构成，底座包括信号馈入端子和压板、支架包括上、下支板和两块竖向支板，每块竖向支板上装配了两对导向轴承，将支架装于两导轨上，检波系统由安装于探针座上的探针，调谐螺钉，调谐活塞，信号检波输出端构成，通过连结板固装在垂直调节机构的导轴上，垂直调节机构由导轴和丝杆及调节度盘组成，导轴与下套间用钢球导向，水平微调及锁紧机构由固装于上支板的螺杆，螺杆上的调节螺母、锁紧螺钉构成，导波波长读数标尺位于一导轨的外侧。测试时，取一条待测敷铜箔板材，在其上面制成一条直线微带电路，将直线一端与另一面的地板″短接″，然后将样品固定在测试架的底座上，待测频率的信号从样品带线的另一端馈入，调节探针高度，使其尽可能靠近带线，再调节检波探针座上的调谐螺钉和活塞，使检波输出信号最大(用电压表或测量放大器指示)，然后调探针座使其沿导轨快速移动，粗略找到驻波极小点，锁住探针座，调节探针座的微调机构，采用交叉读数法从标尺上读出驻波极小点的准确位置，通过至少两个极小点位置的测量，即可测得导波波长的长度λs，运用公式εr＝ (λ2O- λ2S)/(q λ2S) ＋1q=(1/2)]]>求得相对介电常数εr值。式中λo自由空间波长；λs导波波长；W微带线宽度；h微带线高度；t敷铜箔厚度。λo、w、h、t为已知量，λs为未知量，只要测出λs，便可算出在测试频率下的双面敷铜箔板的相对介电常数εr值(测量误差主要决定于长度λs的准确度，而长度的测量误差是可以作得很小的)。下面通过实施例对本技术详细说明附图说明图1为双面敷铜箔板相对介电常数测试装置主视图。图2为图1左视图本实施例中，测试架的导轨8，上支板4，下支板5，两块竖向支板6均采用有机玻璃材料制成，八只轴承7将上支板4夹装在两导轨8之间，可沿导轨快速滑行。探针10，调谐螺钉11，调谐活塞12，讯号检波输出端13构成检波系统，均安装在检波座9上，检波座9通过连接板14固装在探针垂直调节机构的导轴15上。丝杆接导轴15并与垂直调节度盘16相连，导轴与下套21之间用钢球导向，旋转度盘时能保证探针上下灵活移动，无摆动，无旋转。探针垂直调节机构固装在上支板4上，微调锁紧架通过螺杆17也固装于上支板上。测试时，先将被测样品22置于底座1上，样品放置的位置应使探针沿导轨移动时能始终对准被测微带带面。样品位置调好后，用压板3将被测样品压紧，然后调节垂直调节度盘16使探针尽可能靠近带线，待测频率的信号由信号输入端2馈入样品带线，通过调节调谐螺钉11和活塞12使检波输出信号最大，(由电压表指示)。松开锁紧螺钉19，用手推上支板，使探针座9沿导轨8快速移动，粗略找到驻波极小点，旋紧锁紧螺钉19，再调节探针座微调螺母18，由读数标尺20读出至少两个驻波极小点的准确测量值，即可测出导波波长λs的精确长度，运用公式求得相对介电常数εr值。若测量时需使探针座慢移时，先拧紧锁紧螺钉19，调节螺母18，即可拖动探针10左右移动，从而保证了探针可快可慢移动，且无扭曲和卡死。权利要求1.一种双面敷铜或敷金属箔板相对介电常数测试装置，其特征是该装置由底座、支架、导轨、检波系统、垂直调节机构、水平微调及锁紧机构、连接板及导波波长读数标尺构成，底座1包括仪器馈入端子2和压板3，支架由上支板4和下支板5和两块竖向支板6连结而成，每块竖向支板上装配有两对导向轴承7，将支架夹装于两导轨8上，检波系统由安装于探针座9上的探针10，调谐螺钉11，调谐活塞12，信号检波输出端13构成，通过连结板14固装在垂直调节机构的导轴15上，垂直调节机构由导轴和丝杆及调节度盘16组成，导轴15与下套21间用钢球导向，水平微调及锁紧机构由固装于上支板4的螺杆17，螺杆上的调节螺母18，锁紧螺钉19构成，导波波长读数标尺20位于一导轨外侧。专利摘要本装置是一种双面敷铜(或敷金属)箔板相对介电常数测试装置，它由底座、支架、导轨、检波系统、调谐装置及导波波长读数标尺等构成，样品置于底座上，将被测信号由馈入端馈入，检波系统将被测微带样品上信号检波，经调谐使输出信号最大，用交叉读数法在标尺上读得至少两个驻波极小点的准确位置，即可测出导波波长的精确长度λ文档编号G01R27/26GK2066145SQ8921301公开日1990年11月21日 申请日期1989年6月15日 优先权日1989年6月15日专利技术者李兴华, 魏福荣, 姜可正 申请人:中国测试技术研究院本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双面敷铜或敷金属箔板相对介电常数测试装置，其特征是该装置由底座、支架、导轨、检波系统、垂直调节机构、水平微调及锁紧机构、连接板及导波波长读数标尺构成，底座１包括仪器馈入端子２和压板３，支架由上支板４和下支板５和两块竖向支板６连结而成，每块竖向支板上装配有两对导向轴承７，将支架夹装于两导轨８上，检波系统由安装于探针座９上的探针１０，调谐螺钉１１，调谐活塞１２，信号检波输出端１３构成，通过连结板１４固装在垂直调节机构的导轴１５上，垂直调节机构由导轴和丝杆及调节度盘１６组成，导轴１５与下套２１间用钢球导向，水平微调及锁紧机构由固装于上支板４的螺杆１７，螺杆上的调节螺母１８，锁紧螺钉１９构成，导波波长读数标尺２０位于一导轨外侧。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李兴华，魏福荣，姜可正，
申请(专利权)人：中国测试技术研究院，
类型：实用新型
国别省市：51[中国|四川]