一种封装体制造技术

一种封装体，包括引线框架和芯片，其中，所述引线框架包括基岛和引脚，所述芯片设置于所述引线框架的所述基岛上。所述芯片具有至少一个焊盘，所述焊盘通过一第一连接线与所述引脚电性连接；所述第一连接线与所述引脚之间具有两个接触点，或者，所述第一连接线与所述引脚的接触点处还设置一第二连接线，所述第二连接线的两端均与所述引脚接触。

【技术实现步骤摘要】
一种封装体
本技术涉及半导封装领域，特别涉及一种封装体。
技术介绍
封装体一般是指用封装材料将引线框架与芯片封装而成的器件。图1A所示的是一种常规的封装结构。如图1所示，所述封装结构包括一引线框架1和设置于所述引线框架1上的芯片2。具体来说，所述引线框架1包括引脚11及用于放置所述芯片2的基岛12。所述芯片2具有两个焊盘21，如图1A所示的，每一焊盘上均焊有一根金属线3，以使所述焊盘21通过所述金属线3与对应的引脚11电性连接。将图1A中每一所述金属线3与所述引脚11的接触点记为3a。图1B所示的所述接触点3a的电镜照片。如在进行温湿敏感测试或可靠性测试的时，由于固有应力的原因，所述金属线3将被拉起，即，如图1B所示的，所述金属线3与所述引脚11的接触点3a因固有应力的原因，使得所述接触点3a沿着图1B中箭头方向被拉起，从而使得所述金属线3不与所述引脚11接触，导致产品电测失效。因此，有必要提供一种新的封装体，以克服上述缺陷。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种新的封装体，使得芯片的焊盘与引线框架之间的连接线在所述引线框架上具有两个接触点，从而实现在维持所述芯片与所述引线框架之间的原有电性连接的同时，防止连接线在测试中被拉扯，或者即使被拉扯也不会影响所述芯片与所述引线框架的连接，以解决现有技术中存在的缺陷。为了达到上述目的，根据本技术的一方面，提供一种封装体，包括引线框架和芯片，其中，所述引线框架包括基岛和引脚，所述芯片设置于所述引线框架的所述基岛上；所述芯片具有至少一个焊盘，所述焊盘通过一第一连接线与所述引脚电性连接；所述第一连接线与所述引脚的接触点处还设置一第二连接线，所述第二连接线的两端均与所述引脚接触。在一些实施例中，所述第二连接线的第一端与所述引脚接触，并且，所述第二连接线的第一端设置于所述第一连接线与所述引脚的接触点上。在一些实施例中，所述第二连接线的第一端通过焊料固定于所述引脚上。在一些实施例中，所述第二连接线的长度为所述第二连接线的线径的3～5倍。在一些实施例中，所述引线框架包括至少一个引脚，每一所述引脚对应一个所述焊盘；所述第一连接线的第一端通过焊料固定于所述焊盘上，所述第一连接线的第二端与所述焊盘对应的引脚接触。在一些实施例中，所述封装体还包括塑封所述引线框架的塑封体。一根据本技术的一方面，提供种封装体，包括引线框架和芯片，其中，所述引线框架包括基岛和引脚，所述芯片设置于所述引线框架的所述基岛上，所述芯片具有至少一个焊盘，所述焊盘通过一第一连接线与所述引脚电性连接；所述第一连接线与所述引脚之间具有两个接触点。在一些实施例中，所述引线框架包括至少一个引脚，每一所述引脚对应一个所述焊盘；所述第一连接线的第一端通过焊料固定于所述焊盘上，所述第一连接线的第二端首先通过第一接触点与对应的引脚接触，随后通过第二接触点与该引脚接触。在一些实施例中，在所述第一接触点上设置焊料，使得所述第二连接线的第二端在所述第一接触点上通过焊料固定于所述引脚上，然后通过所述第二接触点与所述引脚接触。在一些实施例中，所述第一接触点与第二接触点之间的距离为所述第一连接线的线径的3～5倍。在本技术中，使得芯片的焊盘与引线框架之间的连接线在所述引线框架上具有两个接触点，并控制两接触点之间的连接线的线长与线径的尺寸，使得两接触点之间的连接线的线弧极低，从而避免其在电性测试中被拉扯。或者，即使被拉扯也不会影响所述芯片与所述引线框架的连接，以解决现有技术中存在的缺陷。附图说明图1A是常规的封装结构的结构示意图；图1B是图1A中接触点3a的电镜照片；图2是根据本技术一实施例的封装体的结构示意图；图3是图2中所述封装体的引线框架与芯片的结构示意图；图4是图3中接触点的电镜照片；图5是根据本技术另一实施例的所述封装体的引线框架与芯片的结构示意图。具体实施方式以下，结合具体实施方式，对本技术的技术进行详细描述。应当知道的是，以下具体实施方式仅用于帮助本领域技术人员理解本技术，而非对本技术的限制。在本实施例中提供一种封装体100，如图2所示。所述封装体100包括以下将结合图3详细描述的引线框架110和芯片120，以及如图2所示的用于塑封所述引线框架的塑封体140，以形成一器件。所述引线框架110的引脚112裸露于所述塑封体140外。以下，结合图3详细描述本实施例所述封装体100的所述引线框架及芯片的详细结构。如图2和图3所示，所述封装体100包括引线框架110和芯片120。所述引线框架110包括一用于放置所述芯片120的基岛112及若干引脚111。本领域技术人员可以理解的是，本申请中所述封装体100及所述引线框架110的结构及形状并不受限于图2及图3所示的结构，在本领域中，可以根据不同的封装体的要求形成不同的封装体结构及引线框架的结构。在本实施例中，仅为说明的目的而示意性地绘示了一个结构。如图3所示，所述芯片120设置于所述引线框架110的所述基岛112上，并具有多个焊盘(图3中所示为两个焊盘)121。每一所述焊盘121通过一第一连接线131与对应的引脚111电性连接，并具有一接触点131a。本领域技术人员可以理解的是，所述第一连接线131与所述焊盘121是通过焊料连接的。如图3所示，在所述接触点131a处，设置一第二连接线132，所述第二连接线132的两端均与所述引脚111接触。具体来说，如图3所示，所述第二连接线132的第一端132a与所述第一连接线131与所述引脚111的接触点131a重合，而第二端132b则与引脚111接触。并且，所述第二连接线132的第一端132a与所述第一连接线131与所述引脚111的接触点131a通过焊料200固定于所述引脚111上。为了更好地表达本申请的结构，所述第一连接线131与所述第二连接线132及所述引脚111的接触情况请见图4。由图4清晰可见的，所述第一连接线131与所述引脚111具有一接触点131a，所述第二连接线132的第一端132a设置于所述接触点131a上，即两者重合，并且，所述第二连接线132的第一端132a通过焊料200固定于所述引脚111上，所述第二连接线132的第二端132b则以常规的状态与所述引脚111接触。进一步地，为了避免所述第二连接线132在检测中被拉起，所述第二连接线132的长度为所述第二连接线线径的3～5倍。本领域技术人员可以理解的是，所述第二连接线132的线径事实上与所述第一连接线131的线径相同，均为常规用于连接所述芯片120与所述引线框架110的常规连接线。则通过上述所述第二连接线132的线长与线径的尺寸设计，使得所述第二连接线132的线弧极低，即，图4中H所示的高度极低(即，所述第二连接线132的最高点与所述引脚111之间的高度差)。这样，所述第二连接线132本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种封装体，包括引线框架和芯片，其中，所述引线框架包括基岛和引脚，所述芯片设置于所述引线框架的所述基岛上，其特征在于，所述芯片具有至少一个焊盘，所述焊盘通过一第一连接线与所述引脚电性连接；所述第一连接线与所述引脚的接触点处还设置一第二连接线，所述第二连接线的两端均与所述引脚接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种封装体，包括引线框架和芯片，其中，所述引线框架包括基岛和引脚，所述芯片设置于所述引线框架的所述基岛上，其特征在于，所述芯片具有至少一个焊盘，所述焊盘通过一第一连接线与所述引脚电性连接；所述第一连接线与所述引脚的接触点处还设置一第二连接线，所述第二连接线的两端均与所述引脚接触。


2.如权利要求1所述的封装体，其特征在于，所述第二连接线的第一端与所述引脚接触，并且，所述第二连接线的第一端设置于所述第一连接线与所述引脚的接触点上。


3.如权利要求2所述的封装体，其特征在于，所述第二连接线的第一端通过焊料固定于所述引脚上。


4.如权利要求1所述的封装体，其特征在于，所述第二连接线的长度为所述第二连接线的线径的3～5倍。


5.如权利要求1所述的封装体，其特征在于，所述引线框架包括至少一个引脚，每一所述引脚对应一个所述焊盘；所述第一连接线的第一端通过焊料固定于所述焊盘上，所述第一连接线的第二端与所述焊盘对应的引脚接触。


6.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：阳小芮，金剑，
申请(专利权)人：上海凯虹科技电子有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31