用于增加静区尺寸的测量系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种用于增加静区尺寸的测量系统，包括：馈源、反射装置、支撑反射装置的支撑部，以及用于承载被测件的转台；馈源包括馈源天线；反射装置包括反射面；馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；并且，馈源天线为波纹天线。本实用新型专利技术中，无论被测件如何旋转，均能保证被测件处于静区范围内，进而提高了被测件测量的准确度。

【技术实现步骤摘要】
用于增加静区尺寸的测量系统
本技术涉及天线测试
，尤其涉及一种用于增加静区尺寸的测量系统。
技术介绍
目前，通常采用矩形喇叭天线作为紧缩场测试的馈源，将矩形喇叭天线的相位中心与反射面的曲面焦点重合，进行天线测试。但在天线测试过程中发现，测试结果并不准确。对于本领域的技术人员而言,测量结果的准确性非常重要，例如被测件天线的增益、方向图等参数，天线参数的测量结果的准确性直接影响了使用天线系统的整体性能。
技术实现思路
为至少在一定程度上解决上述问题，本技术提供一种用于增加静区尺寸的测量系统。本技术公开了一种用于增加静区尺寸的测量系统，包括：馈源、反射装置、支撑所述反射装置的支撑部，以及用于承载被测件的转台；所述馈源包括馈源天线；所述反射装置包括反射面；所述馈源天线的相位中心设置于所述反射面的曲面的焦点；并且，所述馈源天线为波纹天线，在所述天线的内壁设置有波纹槽。进一步地，上述用于增加静区尺寸的测量系统中，所述波纹天线形成有静区，所述静区的横截面为类圆形。进一步地，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，包括：/n馈源、反射装置、支撑所述反射装置的支撑部，以及用于承载被测件的转台；/n所述馈源包括馈源天线；/n所述反射装置包括反射面；/n所述馈源天线的相位中心设置于所述反射面的曲面的焦点；/n并且，所述馈源天线为波纹天线，在所述天线的内壁设置有波纹槽。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，包括：
馈源、反射装置、支撑所述反射装置的支撑部，以及用于承载被测件的转台；
所述馈源包括馈源天线；
所述反射装置包括反射面；
所述馈源天线的相位中心设置于所述反射面的曲面的焦点；
并且，所述馈源天线为波纹天线，在所述天线的内壁设置有波纹槽。


2.根据权利要求1所述的用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，
所述波纹天线形成有静区，所述静区的横截面为类圆形。


3.根据权利要求2所述的用于增加静区尺寸的测量系统，其特征在于，
所述波纹天线与所述静区连接的路径上设置有第一吸波部；
所述第一吸波部用于阻止所述波纹天线的旁瓣能量辐射至所述静区。


4.根据权利要求3所述的用于增加静区尺寸的测量系...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏冬雪，
申请(专利权)人：深圳市蓉声科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44