基于角馈的紧缩场测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种基于角馈的紧缩场测试系统，包括：馈源和反射面；所述馈源包括馈源天线；所述馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；所述馈源为角馈，处于与其所发出的球面波被所述反射面反射所产生的平面波的传播方向所垂直的各个平面中，能量辐值最小的区域。本实用新型专利技术通过改进馈源位置，干扰信号与有用信号错开一定的角度，避免有用信号和无用信号叠加在一起，当被测件被放置于静区范围内时，可以进一步优化静区性能，提高了被测天线测试性能的准确度。

【技术实现步骤摘要】
基于角馈的紧缩场测试系统
本技术涉及天线测量
，尤其涉及一种基于角馈的紧缩场测试系统。
技术介绍
目前，紧缩场测试系统通常包括：馈源4′、反射面5′和转台3′；馈源4′包括馈源天线；馈源天线的相位中心设置于反射面5′曲面的焦点；转台3′用于承载被测件2′；被测件2′设置于静区1′内；其中，反射面5′为抛物面，抛物面接收紧缩场中馈源4发出的球面波，经过反射后产生的平面波到达至静区1′。上述结构存在的问题是，当被测件2′为普通天线时，被测件的测量测试结果可用，但当遇到雷达产品或5G通讯产品时，辐射性能灵敏度的测试就出现问题了。
技术实现思路
为至少在一定程度上克服现有技术中的上述问题，本技术提供一种基于角馈的紧缩场测试系统。本技术公开了一种基于角馈的紧缩场测试系统，包括：馈源和反射面；所述馈源包括馈源天线；所述馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；所述馈源为角馈，处于与其所发出的球面波被所述反射面反射所产生的平面波的传播方向所垂直的各个平面中，能量辐值最小的区域。本技术的紧缩场测试系统中，通过对馈源本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于角馈的紧缩场测试系统，其特征在于，包括：/n馈源和反射面；/n所述馈源包括馈源天线；所述馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；/n所述馈源为角馈，处于与其所发出的球面波被所述反射面反射所产生的平面波的传播方向所垂直的各个平面中，能量辐值最小的区域。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于角馈的紧缩场测试系统，其特征在于，包括：
馈源和反射面；
所述馈源包括馈源天线；所述馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；
所述馈源为角馈，处于与其所发出的球面波被所述反射面反射所产生的平面波的传播方向所垂直的各个平面中，能量辐值最小的区域。


2.根据权利要求1所述的紧缩场测试系统，其特征在于，还包括：
转台；
所述转台用于承载被测件；
并且，所述被测件...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏冬雪，
申请(专利权)人：深圳市蓉声科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44