适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头及方法技术

本公开提供了一种适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头及方法，属于电厚度测试技术领域，包括波导本体，波导本体的测试端面上设有两个由侧壁延伸成的相对波导本体轴线对称的突出部，每个凸出部包括用于与非平面天线罩接触的端点；本公开的特点是不追求接触角度的可重复性，而追求探头测试效果在一定范围内不依赖于接触角度，既方便测量，又能保证测量精度和可重复性。

【技术实现步骤摘要】
适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头及方法
本公开涉及电厚度测试
，特别涉及一种适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头及方法。
技术介绍
本部分的陈述仅仅是提供了与本公开相关的
技术介绍
，并不必然构成现有技术。电厚度是指电磁波辐射穿越非真空介质空间时，相对于同样几何尺寸的真空路径增加的波数，可等效为电磁波在介质中传播相对于真空增加的相位延迟，称为插入相位延迟(IPD)。IPD参数对于雷达天线罩的设计具有重要的意义，也是天线罩制造过程控制和成品检验的重要参数。IPD测量分为透射法和反射法，前者将测试收发天线分置在天线罩内外两侧，通过比对有无天线罩时的电磁波传输相位差测量；后者则是将收发天线都放在天线罩外侧，在天线罩内壁放置共形反射面，通过反射让电磁波两次穿过天线罩，比对反射信号的相位差可以以两倍的灵敏度获得IPD信息。以测试天线是否接触天线罩区分，反射测试还可以分为接触式和非接触式两种。非接触式由于天线探头与天线罩的距离难以精确控制，在微波频段测量时难以保证精度；接触式一般采用收发双工天线探头，直接抵在天线罩上，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，包括波导本体，波导本体的测试端面上设有两个由侧壁延伸成的相对波导本体轴线对称的突出部，每个凸出部包括用于与非平面天线罩接触的端点。/n

【技术特征摘要】
1.一种适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，包括波导本体，波导本体的测试端面上设有两个由侧壁延伸成的相对波导本体轴线对称的突出部，每个凸出部包括用于与非平面天线罩接触的端点。


2.如权利要求1所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，所述凸出部为波导本体的侧壁向外延伸且沿垂直于轴线的方向收缩到一个端点形成；
或者，所述端点为尖锐端点，且突出部朝波导本体轴线方向倾斜；
或者，所述端点为尖锐端点，且突出部朝远离波导本体轴线的方向倾斜；
或者，所述端点为尖锐端点，且突出部的朝向与波导本体的轴线平行；
或者，所述端点采用圆弧方式将尖锐端点局部倒角修平得到；
或者，所述波导本体包括但不限于矩形波导、减高波导、脊波导、圆波导或椭圆波导中的一种；
或者，通过改变突出部的延伸长度和/或突出部的收窄渐变方式进行诱导效果的改变；
或者，通过改变两个突出部的端点之间的距离进行诱导效果的改变。


3.如权利要求1所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，两个凸出部结构相同，且相对波导本体的轴线对称设置。


4.如权利要求1所述的适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头，其特征在于，所述波导本体为测试端面为矩形的矩形波导，测试端面的两条长边分别延伸出一个凸出部，且所述端点位于长边所在侧壁的中线延长线上。


5.如权利要求4所述的适用...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭利强，吴强，冷朋，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东;37