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本公开提供了一种适用于非平面天线罩的接触式电厚度反射测量探头及方法，属于电厚度测试技术领域，包括波导本体，波导本体的测试端面上设有两个由侧壁延伸成的相对波导本体轴线对称的突出部，每个凸出部包括用于与非平面天线罩接触的端点；本公开的特点是不追...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十一研究所授权不得商用。

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